【技术领域】 本发明提供一种调试装置及调试方法，特别是一种操作简单的调试装置及 调试方法。 【背景技术】 调试是系统开发过程中的重要环节。现有的调试装置及调试方法需通过编 程操作并结合一定的开发环境才可进行，调试起来比较复杂；另，现有的调试 装置及方法是从平台架构的最下层(BIOS)进行，对平台的依赖性较高。 【发明内容】 本发明的主要目的在于提供一种操作简单的调试装置及调试方法。 为达到以上目的，本发明提供一种调试装置，其适用于测试一中央处理器 的调试口信号；且该调试装置包括一调试请求模块，该调试请求模块用以侦测 是否存在调试请求；该调试请求模块耦合一调试应答模块，该调试应答模块用 以侦测是否存在应答请求；该调试应答模块耦合一缓冲模块，该缓冲模块用以 对中央处理器的调试口信号进行缓冲处理以获得输出结果；该缓冲模块耦合一 驱动模块，该驱动模块用以接收输出结果并将其转换成驱动信号；该驱动模块 耦合一显示模块，该显示模块用以接收驱动信号并根据驱动信号进行显示。 本发明还提供一种调试方法，其通过一调试装置以达成，其中，该调试装 置包括一调试请求模块、一调试应答模块、一缓冲模块、一驱动模块及一显示 模块；且该调试方法包括以下步骤：调试请求模块侦测是否存在调试请求；且 当调试请求模块侦测到调试请求时，会由调试应答模块侦测是否存在应答请求； 当调试应答模块侦测到应答请求时，缓冲模块会对中央处理器调试口信号进行 缓冲处理以获得输出结果；驱动模块接收输出结果并将其转换成驱动信号；显 示模块接收驱动信号并根据驱动信号进行显示。 相较于现有技术，利用本发明进行调试操作时，只需调试人员输入一个调 试请求，而不需编程操作即可，简化了调试操作。另，本发明可从平台架构的 最上层(中央处理器)调试，对平台的依赖性较低。 【附图说明】 图1是本发明调试装置的方框示意图。 图2是本发明调试方法的流程图。 【具体实施方式】 请参阅图1所示，本发明调试装置100适用于测试一中央处理器200的调 试口信号；该调试装置100包括一调试请求模块10，该调试请求模块10用以侦 测是否存在调试请求，有调试请求输入后便进入待测模式；于本实施例中，该调 试请求模块10包括一触控开关11，该触控开关11用以提供使用者进行按压操 作，且在触控开关11被按下时输入一调试请求；且该调试请求模块10耦合一 调试应答模块20，该调试应答模块20用以侦测是否存在应答请求，有应答请求 时便进入测试模式；且该调试应答模块20耦合一缓冲模块30，该缓冲模块30 用以对中央处理器200的调试口信号进行缓冲处理，以获得输出结果；且该缓冲 模块30耦合一驱动模块40，该驱动模块40用以接收输出结果并将其转换成驱 动信号；且该驱动模块40耦合一显示模块50，该显示模块50用以接收驱动信 号并根据驱动信号进行显示；于本实施例中，显示模块50包括二个七段数码管。 请结合参阅图1及图2所示，本发明调试方法通过上述的调试装置以达成， 其中，该调试方法包括以下步骤： 步骤101：调试请求模块10侦测是否存在调试请求(于本实施例中，该步 骤的具体表现形式可为触控开关11的按压与否)；若调试请求模块10接收到调 试请求(于本实施例中的具体表现形式为：触控开关11已被按下，系统进入待 测模式)，则进入步骤102；若调试请求模块10未接收到调试请求(于本实施例 中的具体表现形式为：触控开关11未被按下，系统处于非待测模式)，则继续 执行步骤101； 步骤102：调试应答模块20侦测是否存在应答请求(于本实施例中，应答 请求可为一高电平信号)；若调试应答模块20侦测到有应答请求(此时，进入 测试模式)，则进入步骤103；若调试应答模块20未侦测到应答请求，则继续执 行步骤102； 步骤103：缓冲模块30会对中央处理器200的调试口信号进行缓冲处理， 以获得输出结果并输出至驱动模块40； 步骤104：驱动模块40接收输出结果，并将其转换成驱动信号后输出至显 示模块50； 步骤105：显示模块50接收驱动信号并根据驱动信号进行显示。