技术领域 本发明涉及一种用于便携式电子装置的调试装置，尤其涉及一种用于便携式电子装置的JTAG调试装置。 背景技术 JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。现有多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。JTAG可进行电路采集、CPU读写、故障模拟等，实现开发工作过程中故障的观察、仿真、模拟。 现有的JTAG接口一般包括TDI(Test Data Input，测试数据输入)引脚、TCK(Test ClockInput，测试时钟信号)引脚、TMS(Test Mode Selection Input，测试模式转换信号)引脚、TRST(Test Reset Input，测试复位信号)引脚、RST(Test Reset Input，内核复位信号)引脚、TDO(Test Data Output，测试数据输出)引脚。 在便携式电子装置电路发生故障后的修理过程中，经常需要对其进行JTAG调试。此时，现有的测试方法大多需要从其内置的印刷电路板上将上述引脚引出，并通过焊接引线连接到JTAG调试器上，而相应的JTAG调试器上也需要焊接引线以建立对应的电性连接。然而，大多数现有的JTAG调试器都是插接式的，其插头构造并不易于进行焊线操作；同时，焊接引线也容易引起电路板上的短路及断路，造成额外损失。 发明内容 针对上述问题，有必要提供一种安全可靠的调试装置。 一种调试装置，其用于连接一JTAG调试机以进行JTAG调试，该JTAG调试装置包括一JTAG接口，该JTAG调试装置还包括一耳机电路、一开关切换单元、一USB接口及一复位电路，该耳机电路经开关切换单元与JTAG接口相连，该USB接口及复位电路均与该JTAG接口相连，当JTAG调试机由耳机电路及USB接口接入时，该耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立连接，以进行JTAG调试。 与现有技术相比，使用本发明的调试装置进行JTAG调试时，只需直接将JTAG调试机连接至耳机电路的插孔及USB接口，即可由耳机电路及USB接口在JTAG调试机与JTAG接口之间建立电性连接，从而对便携式电子装置进行JTAG调试。本发明无需进行复杂的焊线操作，避免在焊线过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试具有更高效率且更加安全可靠。 附图说明 图1为本发明较佳实施例的调试装置的功能模块图。 图2为本发明较佳实施例的调试装置的电路图。 具体实施方式 请参阅图1及图2，本发明较佳实施例调试装置100用于连接一JTAG调试机(图未示)，以对移动电话、PDA等便携式电子装置进行JTAG调试。该调试装置100包括一JTAG接口10、一耳机电路20、一开关切换单元30、一USB接口40及一复位电路50。该耳机电路20经开关切换单元30与JTAG接口10相连，该USB接口40及复位电路50均与该与JTAG接口10相连。 该JTAG接口10包括8个引脚，该8个引脚可为待调试便携式电子装置内一电路板上的电连接端，其用于与JTAG调试机建立连接，以进行JTAG调试。该8个引脚分别为VDD引脚11、GND引脚12、TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、TMS引脚16、RST引脚17及TRST引脚18。其中，该GND引脚12接地；该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15与开关切换单元30相连，以由开关切换单元30切换至与耳机电路20相连；该VDD引脚11、TMS引脚16、RST引脚17均与USB接口40相连；从而，该TDI引脚13、TDO引脚14、TCK引脚15、VDD引脚11、TMS引脚16及RST引脚17可通过该耳机电路20及USB接口40连接至JTAG测试机；该TRST引脚18与复位电路50相连，其可接收复位电路50的内核复位信号，并进行内核复位。 该耳机电路20包括6个引脚，分别为接地(GND)引脚21、音频输入(MIC)引脚22、二左音频输出(EAR_L0)引脚23及(EAR_L1)引脚24、二右音频输出(EAR_R0)引脚25及(EAR_R1)引脚26。其中，该GND引脚21接地；该MIC引脚22、EAR_L0引脚23、EAR_L1引脚24、EAR_R0引脚25及EAR_R1引脚26与便携式电子装置内电路板上的音频信号线相连，以进行传统的音频输入及输出；同时，该MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引脚26还与开关切换单元30连接，进行引脚复用。另外，该耳机电路20具有一插孔(图未示)，该耳机电路20可通过该插孔连接现有的JTAG调试机。 该开关切换单元30用以根据插孔是否外接JTAG调试机切换耳机电路20的连接状态。该开关切换单元30包括11个引脚，分别为接地(GND)引脚301、电源(VDD)引脚302、三输入(YA)引脚303、(YB)引脚304及(YC)引脚305、六输出(IA0)引脚306、(IA1)引脚307、(IB0)引脚308、(IB1)引脚309、(IC0)引脚310及(IC1)引脚311。其中，GND引脚301接地，VDD引脚302连接至一电源V0；IA0引脚306、IA1引脚307、IB0引脚308、IB1引脚309、IC0引脚310及IC1引脚311为信号输入/输出引脚，YA引脚303、YB引脚304、YC引脚305形成第一引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引脚26对应相连，以检测耳机插孔中是否接AJTAG调试机。 IA0引脚306、IB0引脚308、IC0引脚310形成第二引脚组，分别与JTAG接口10的TDI引脚13、TDO引脚14及TCK引脚15对应相连耳机电路；IA1引脚307、IB1引脚309、IC1引脚311形成第三引脚组，分别与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23及EAR_R1引脚26对应相连。该第二引脚组与第三引脚组在第一引脚组检测到耳机插孔中无JTAG调试机接入时为断开状态，在检测到耳机插孔中有JTAG调试机接入时则切换为电性连接状态，从而使耳机电路20在JTAG接口10与JTAG调试机之间建立电性相连，而将JTAG调试机连接至JTAG接口10的TDI引脚13、TDO引脚14及TCK引脚15。 该USB接口40为一miniUSB接口，其包括5个引脚，该5个引脚分别为GND引脚41、VCC引脚42、、ID引脚43、D+引脚44及D-引脚45。其中，该GND引脚41接地，该VCC引脚42用以输入及输出电源，连接至一VUSB电源，该ID引脚43用以在该USB接口40与其他便携式电子装置连接时，进行身份识别，该D+引脚44及D-引脚45用以传输数据；同时，该ID引脚43、D+引脚44及D-引脚45分别与VDD引脚11、TMS引脚16及RST引脚17相连，以对VDD引脚供电，并使JTAG调试机可通过连接该USB接口40而连接至JTAG接口10的TMS引脚16及RST引脚17。 该复位电路50由一与JTAG接口10的TRST引脚18电性连接的零欧姆电阻形成。该零欧姆电阻一端与TRST引脚18相连，另一端可与便携式电子装置内电路板相连，以接收一内核复位信号并由TRST引脚18传送至JTAG接口10。 使用该JTAG装置100进行JTAG调试时，只需直接将现有JTAG调试器的插头分别连接至耳机电路20的插孔及USB接口40，其与耳机电路20的MIC引脚22、EAR_L0引脚23、EAR_R1引脚26相连以进行测试数据输入、测试数据输出及测试时钟信号传输，同时与USB接口的ID引脚43、D+引脚44、D-引脚45相连以进行电源输入、测试模式转换信号及测试复位信号输出，从而通过耳机电路20及USB接口40在JTAG调试机与JTAG接口10之间建立电性连接，以对便携式电子装置进行JTAG调试，无需进行复杂的焊线操作，避免在焊线过程中易引起的短路等问题，使JTAG调试更加安全可靠。