[0001] 本实用新型涉及软件开发领域，更具体地说，涉及一种软件开发连续测试工装。

[0002] 软件测试仪是一种用来对软件测试的装置，软件测试是一种实际输出与预期输出之间的审核或者比较过程，在规定的条件下对程序进行操作，以发现程序错误，衡量软件质量，并对其是否能满足设计要求进行评估的过程。

[0003] 中国专利授权公告号：CN210534627U，提供了一种软件测试仪，此专利通过设置第二通孔、第一通孔、第二磁条、把手、第一磁条、置物抽屉和安装盒，可对测试仪内部环境进行有效干燥，保障了测试仪的安全使用；通过设置保护壳、缓冲柱、弹簧和斜板，可有效提升测试仪的防撞性能，提高了测试仪的使用寿命。

[0004] 现有的技术中，软件开发数据均保存在硬盘内，在测试软件时直接将存有软件数据的硬盘插入软件测试仪内即可完成软件测试，但现有软件在测试时只能插入一个硬盘，且在完成上一硬盘内软件测试后需要手动将硬盘拔出再插入下一个需要测试的软件硬盘，导致软件测试仪的测试效率低、速度慢。实用新型内容

[0005] 1.要解决的技术问题

[0006] 针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种软件开发连续测试工装，它可以实现通过在软件测试仪前端设置多个插孔，在测试前，可将多个软件开发数据硬盘插入限位框内固定，默认状态下，电磁铁与限位框磁吸，使限位框位于插孔内前端，可根据自上而下顺序改变电磁铁的电流方式，使电磁铁与限位框内的磁块磁性相斥，推动限位框内的软件开发数据硬盘向后移动，使软件开发数据硬盘后端的接口自动插入测试连接插口内读取数据进行测试，且上一软件开发数据硬盘测试后可自动复位，并自动控制下一软件开发数据硬盘移动和测试，该软件开发测试工装可实现对软件开发数据硬盘的自动连续测试，有效提高测试速度和测试效率。

[0007] 2.技术方案

[0008] 为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。

[0009] 一种软件开发连续测试工装，包括软件测试仪，所述软件测试仪前端设置有多个纵向阵列分布设置有插孔，所述插孔内后端设置有与插孔贯通的测试连接插口，所述插孔内部滑动安装有限位框，所述限位框的外部形状与插孔的形状相匹配，所述插孔上下端均设置有与插孔贯通的限位滑槽，所述限位框上下端均固定安装有限位块，所述限位块与限位滑槽的形状相匹配，且限位块卡设于限位滑槽内部，所述限位块内部前端固定嵌设有磁块，所述软件测试仪内部前端固定嵌设有多个电磁铁，所述电磁铁设置于插孔上下端前部位置，且电磁铁位于磁块前端，所述电磁铁与磁块磁性连接，所述限位框内部插设有软件开发数据硬盘，且软件开发数据硬盘与限位框的形状相匹配，所述软件开发数据硬盘后端中部设置有接口，所述接口与测试连接插口的形状相匹配，且接口与测试连接插口的形状相匹配。

[0010] 进一步的，所述软件测试仪前端左侧设置有控制开关按键，所述控制开关按键与软件测试仪电性连接，使用时，通过按压控制开关按键控制软件测试仪的开启和关闭。

[0011] 进一步的，多个所述限位块两侧均固定安装有卡块，多个所述限位滑槽两侧均设置有与限位滑槽贯通的卡槽，所述卡块卡设于卡槽内部，使用时，通过卡块和卡槽的设置，可帮助限位块限位。

[0012] 进一步的，多个所述限位块内部均设置有与限位框贯通的通孔，所述通孔内后端均设置有与通孔贯通的矩形导向槽，所述通孔内部活动连接有抵接限位组件，所述抵接限位组件包括抵接杆、限位吸盘、连接块和第一弹簧，所述抵接杆通过活动插设方式安装在通孔内部，且抵接杆与通孔的形状相匹配，所述限位吸盘通过固定连接方式安装在抵接杆内侧，所述连接块通过固定连接方式安装在抵接杆后端上部，所述第一弹簧通过固定连接方式安装在连接块内侧，且连接块和第一弹簧均位于矩形导向槽内部，使用时，在默认状态下，第一弹簧伸展，使抵接杆和限位吸盘均位于通孔内部，且限位吸盘靠近软件开发数据硬盘。

[0013] 进一步的，多个所述限位滑槽外侧后端均设置有与限位滑槽贯通的限位槽，所述限位槽内部固定安装有第二弹簧，所述第二弹簧内侧固定安装有推块，所述推块的形状为圆形块，使用时，在默认状态下，第二弹簧伸展，使推块凸于限位槽外部，在限位框和软件开发数据硬盘向后移动时，限位块后移至限位滑槽内后端，同时，限位块抵压推块向内移动，且第二弹簧受力向内压缩，在抵接杆位于推块内侧时，第二弹簧伸展，限位块外移推动抵接杆向内移动，使限位吸盘吸附在软件开发数据硬盘表面，将软件开发数据硬盘固定。

[0014] 进一步的，多个所述限位块和抵接杆远离限位吸盘的一端均前高后低倾斜设置，使用时，通过在限位块和抵接杆的一端设置斜面，使限位块在向后移动时，与推块抵接时更加流畅。

[0015] 3.有益效果

[0016] 相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

[0017] (1)本方案可以实现通过在软件测试仪前端设置多个插孔，在测试前，可将多个软件开发数据硬盘插入限位框内固定，默认状态下，电磁铁与限位框磁吸，使限位框位于插孔内前端，可根据自上而下顺序改变电磁铁的电流方式，使电磁铁与限位框内的磁块磁性相斥，推动限位框内的软件开发数据硬盘向后移动，使软件开发数据硬盘后端的接口自动插入测试连接插口内读取数据进行测试，且上一软件开发数据硬盘测试后可自动复位，并自动控制下一软件开发数据硬盘移动和测试，该软件开发测试工装可实现对软件开发数据硬盘的自动连续测试，有效提高测试速度和测试效率。

[0018] (2)在默认状态下，第一弹簧伸展，使抵接杆和限位吸盘均位于通孔内部，且限位吸盘靠近软件开发数据硬盘。

[0019] (3)在默认状态下，第二弹簧伸展，使推块凸于限位槽外部，在限位框和软件开发数据硬盘向后移动时，限位块后移至限位滑槽内后端，同时，限位块抵压推块向内移动，且第二弹簧受力向内压缩，在抵接杆位于推块内侧时，第二弹簧伸展，限位块外移推动抵接杆向内移动，使限位吸盘吸附在软件开发数据硬盘表面，将软件开发数据硬盘固定，可有效避免其脱落，第一弹簧的伸展力大于限位吸盘的吸力，在推块与抵接杆错位时，第一弹簧自动伸展，可帮助限位吸盘和抵接杆复位，便于限位框多次使用。

[0020] (4)通过在限位块和抵接杆的一端设置斜面，使限位块在向后移动时，与推块抵接时更加流畅。

[0027] 下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

[0028] 在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”、“顶/底端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

[0029] 在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

[0030] 实施例1：

[0031] 请参阅图1‑3，一种软件开发连续测试工装，包括软件测试仪1，软件测试仪1前端设置有多个纵向阵列分布设置有插孔11，插孔11内后端设置有与插孔11贯通的测试连接插口12，插孔11内部滑动安装有限位框3，限位框3的外部形状与插孔11的形状相匹配，插孔11上下端均设置有与插孔11贯通的限位滑槽13，限位框3上下端均固定安装有限位块31，限位块31与限位滑槽13的形状相匹配，且限位块31卡设于限位滑槽13内部，限位块31内部前端固定嵌设有磁块6，软件测试仪1内部前端固定嵌设有多个电磁铁5，电磁铁5设置于插孔11上下端前部位置，且电磁铁5位于磁块6前端，电磁铁5与磁块6磁性连接，限位框3内部插设有软件开发数据硬盘7，且软件开发数据硬盘7与限位框3的形状相匹配，软件开发数据硬盘7后端中部设置有接口71，接口71与测试连接插口12的形状相匹配，且接口71与测试连接插口12的形状相匹配。首先工作人员可将多个装有不同软件数据的软件开发数据硬盘7插设到多个限位框3内，且限位框3内侧后端设有挡圈，可将软件开发数据硬盘7限位，且默认状态下，电磁铁5与磁块6磁吸，使限位框3和限位块31位于插孔11内前端位置，可便于对软件开发数据硬盘7的限位；在需要对软件开发数据硬盘7进行检测时，可控制该软件开发数据硬盘7上下端的电磁铁5改变电流方向，使电磁铁5与其后端的磁块6磁性相斥，则电磁铁5推动软件开发数据硬盘7向后移动，使软件开发数据硬盘7后端的接口71插入后端测试连接插口12内，实现软件开发数据硬盘7的自动测试，在测试后软件开发数据硬盘7可自动复位，并自动控制下一软件开发数据硬盘7移动和测试。

[0032] 请参阅图1，软件测试仪1前端左侧设置有控制开关按键2，控制开关按键2与软件测试仪1电性连接，使用时，通过按压控制开关按键2控制软件测试仪1的开启和关闭。

[0033] 请参阅图2‑3，多个限位块31两侧均固定安装有卡块，多个限位滑槽13两侧均设置有与限位滑槽13贯通的卡槽131，卡块卡设于卡槽131内部，使用时，通过卡块和卡槽131的设置，可帮助限位块31限位，且提高限位块31的稳定性，使限位块31和限位框3稳定的前后平移。

[0034] 请参阅图2‑4，多个限位块31内部均设置有与限位框3贯通的通孔311，通孔311内后端均设置有与通孔311贯通的矩形导向槽312，通孔311内部活动连接有抵接限位组件4，抵接限位组件4包括抵接杆41、限位吸盘42、连接块43和第一弹簧44，抵接杆41通过活动插设方式安装在通孔311内部，且抵接杆41与通孔311的形状相匹配，限位吸盘42通过固定连接方式安装在抵接杆41内侧，连接块43通过固定连接方式安装在抵接杆41后端上部，第一弹簧44通过固定连接方式安装在连接块43内侧，且连接块43和第一弹簧44均位于矩形导向槽312内部，使用时，在默认状态下，第一弹簧44伸展，使抵接杆41和限位吸盘42均位于通孔311内部，且限位吸盘42靠近软件开发数据硬盘7。

[0035] 多个限位滑槽13外侧后端均设置有与限位滑槽13贯通的限位槽132，限位槽132内部固定安装有第二弹簧8，第二弹簧8内侧固定安装有推块9，推块9的形状为圆形块，使用时，在默认状态下，第二弹簧8伸展，使推块9凸于限位槽132外部，在限位框3和软件开发数据硬盘7向后移动时，限位块31后移至限位滑槽13内后端，同时，限位块31抵压推块9向内移动，且第二弹簧8受力向内压缩，在抵接杆41位于推块9内侧时，第二弹簧8伸展，限位块31外移推动抵接杆41向内移动，使限位吸盘42吸附在软件开发数据硬盘7表面，将软件开发数据硬盘7固定，可有效避免其脱落，第一弹簧44的伸展力大于限位吸盘42的吸力，在推块9与抵接杆41错位时，第一弹簧44自动伸展，可帮助限位吸盘42和抵接杆41复位，便于限位框3多次使用。

[0036] 多个限位块31和抵接杆41远离限位吸盘42的一端均前高后低倾斜设置，使用时，通过在限位块31和抵接杆41的一端设置斜面，使限位块31在向后移动时，与推块9抵接时更加流畅。

[0037] 本实用新型的工作原理是：首先将软件测试仪1连接电源，将多个装有不同软件数据的软件开发数据硬盘7插设到多个限位框3内，且限位框3内侧后端设有挡圈，可将软件开发数据硬盘7限位，且默认状态下，电磁铁5与磁块6磁吸，使限位框3和限位块31位于插孔11内前端位置，可便于对软件开发数据硬盘7的限位；在需要对软件开发数据硬盘7进行检测时，可控制该软件开发数据硬盘7上下端的电磁铁5改变电流方向，使电磁铁5与其后端的磁块6磁性相斥，则电磁铁5推动软件开发数据硬盘7向后移动，使软件开发数据硬盘7后端的接口71插入后端测试连接插口12内，实现软件开发数据硬盘7的自动测试，在测试后软件开发数据硬盘7可自动复位，并自动控制下一软件开发数据硬盘7移动和测试。

[0038] 以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式；但本实用新型的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。