一种芯片测试装置及系统，芯片测试装置包括测试主板及测试主控芯片，测试主板上设置多个放置区，放置区用于放置待测试芯片，每个放置区均配置有第一时钟接口以及第一测试数据接口，针对每个放置区，该放置区的第一测试数据接口用于连接该放置区放置的待测试芯片的第二测试数据接口，该放置区的第一时钟接口用于连接该放置区放置的待测试芯片的第二时钟接口；测试主控芯片连接于所述测试主板，测试主控芯片具有第三时钟接口以及多个第三测试数据接口，所述第三时钟接口与所有放置区的第一时钟接口连接，每个第三测试数据接口分别与对应放置区的第一测试数据接口一一连接。上述方案能够提高芯片测试效率。