[0001] 本发明涉及芯片检测技术领域，特别是一种芯片检测数据的存储方法、设备、装置和存储介质。

[0002] 芯片的质量检测和性能检测在芯片制造过程中起着至关重要的作用，可以保证芯片的质量和性能符合要求，提高产品的可靠性和稳定性。在芯片制造过程中，每个芯片都可能需要进行数十甚至上百项的检测。考虑到大规模生产和测试，产生的数据量会非常庞大。这些检测数据涉及到芯片的设计、制造和性能等方面的敏感信息。泄露这些数据可能导致知识产权泄露、产品仿制或者其他安全问题，因此需要严格保护。

[0003] 由于数据量大且涉及敏感数据，对于芯片制造商来说，确保这些检测数据的安全性、完整性和隐私保护至关重要。

[0048] 需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。现结合附图，对本发明的较佳实施例作详细说明。

[0049] 请参阅图1，图1是本发明提供的芯片检测数据的存储方法的第一实施例的流程示意图。本发明提供的芯片检测数据的存储方法包括如下步骤：

[0050] S101：对目标芯片进行引脚焊接质量检测和功能性能检测，获取检测数据。

[0051] 在一个具体的实施场景中，准备好用于引脚焊接质量检测的测试设备，如焊接机器人、检测仪器等。将目标芯片放置在测试设备上，进行引脚焊接质量检测和功能性能检测。例如焊接强度测试、焊点外观检查、焊接接触电阻测试等,以及功耗测试、速度测试、信号响应测试等。在进行焊接质量检测的过程中，实时记录检测数据。

[0052] 芯片引脚焊接质量问题可能会导致整个芯片失效或性能下降，影响整个芯片的可靠性。集成芯片功能性能问题可能会导致特定功能模块的失效或性能不达标，影响芯片的功能完整性。芯片引脚焊接质量检测主要关注芯片引脚与封装之间的连接质量，包括焊接质量、焊接强度等。集成芯片功能性能检测则主要关注芯片内部电路的功能性能，例如逻辑功能、时序性能、功耗等。

[0053] 芯片引脚焊接质量检测和集成芯片功能性能检测的共同目标是确保芯片在正常操作下的可靠性和性能；两者都会产生大量的数据，需要进行有效的处理和分析(即通过分布式存储步骤和数据加密进行数据处理)，以确保芯片的质量和性能符合规格要求。

[0054] S102：将检测数据分为多个数据块，分别存储于多个存储节点上。

[0055] 在一个具体的实施场景中，将原始的检测数据按照一定的规则或算法划分为多个数据块。这些数据块可以是固定大小的块，也可以根据需要动态调整大小。分块的目的是将大量数据分割成小块，便于管理、传输和存储，同时也有助于提高数据处理的效率和并行性。

[0056] 每个数据块分别存储在指定的存储节点上。这些存储节点可能位于不同的地理位置，以提高数据的容灾能力和可靠性。存储过程可以包括数据加密、数据压缩、数据备份等操作，以确保数据的安全性和完整性。

[0057] 引脚焊接质量检测过程中产生的大量数据可以被分割成数据块，每个数据块包含特定引脚焊接质量的信息，如焊接强度、连接状态等。这些数据块可以被分配到不同的处理节点上，实现并行处理，提高数据处理效率。

[0058] 大量的功能性能测试数据可以被分片处理，不同的数据块可以同时在不同的处理节点上进行检测和分析。并行处理可以加快检测速度，提高效率。数据分片可以提高系统的容错能力，即使某个节点发生故障，系统仍能通过其他节点上的数据块进行检测和分析。数据冗余和备份可以确保数据的可靠性和系统的稳定性。

[0059] 此外，数据分块可以帮助将检测数据存储在不同的存储节点上，以确保数据分布均匀，避免单点故障。分块存储可以提高数据访问速度，减少数据访问瓶颈。当需要访问特定数据时，系统可以根据预设的规则确定数据块的位置，并从相应的存储节点检索数据。

[0060] S103：对每个存储节点上的数据块进行冗余备份。

[0061] 在一个具体的实施场景中，针对每个存储节点上的数据块进行完整备份，包括所有数据和表结构的备份。可选择定期进行增量备份，只备份自上次完整备份或增量备份以来发生变化的数据部分。可以将相同的数据块分别存储在不同的存储节点上，提高检测数据的安全性和可靠性。可以设定备份计划，可以是每日、每周或根据需求的其他时间间隔进行备份。也可以实时备份，确保数据的及时性和完整性。可以保存多个备份点，以便在需要时可以恢复到不同时间点的数据状态。在备份完成后，进行数据验证和校验，确保备份数据的完整性和可用性。还可以制定灾难恢复计划，包括数据恢复流程、备份数据的恢复策略等。定期测试备份数据的恢复过程，以确保备份数据的可用性和有效性。

[0062] 在引脚焊接质量检测过程中产生的大量数据可以被定期备份到多个备份存储介质中，如硬盘、云存储等。冗余备份可以防止数据丢失，即使原始数据存储介质发生故障，仍可以从备份数据中恢复。

[0063] 在功能性能检测过程中生成的测试数据可以定期备份到多个备份存储中，以防止数据丢失。冗余备份可以确保测试数据的完整性，以便在需要时进行恢复和分析。

[0064] 此外，将数据复制到多个位置，以确保数据的可靠性和安全性。在数据冗余备份中，同一份数据可能会存储在不同的存储节点上，以防止单点故障导致数据丢失。冗余备份可以提高系统的容错能力，即使某个存储节点或备份介质发生故障，仍可以通过其他备份数据进行恢复和访问。

[0065] S103：通过一致性哈希算法确保各个存储节点之间的一致性，并平衡各个存储节点的存储负载。

[0066] 在一个具体的实施场景中，通过一致性哈希算法确保各个存储节点之间的一致性，并平衡各个存储节点的存储负载。一致性哈希算法可用于确定数据存储的位置，以及负载均衡数据的分布。每个存储节点会被映射到环上的一个点，数据根据哈希值映射到环上的存储节点，实现数据的分布和负载均衡。

[0067] 选择一个哈希函数，将数据块的标识(如数据块的键或名称)作为输入，输出一个范围在整数空间的哈希值。将存储节点使用哈希函数映射到整数空间的范围上，该范围为一个环状的范围(称为哈希环)。将每个数据块的哈希值映射到哈希环上的某个点。这样，每个数据块就对应了哈希环上的一个位置。将每个存储节点使用相同的哈希函数映射到哈希环上的某个点。这样，每个存储节点也对应了哈希环上的一个位置。将数据块分配给顺时针方向最近的存储节点。这样，每个数据块就被映射到了哈希环上的一个存储节点。

[0068] 当有新的存储节点加入系统时，它会被映射到哈希环上的一个位置。然后系统会重新计算哪些数据块需要迁移到新节点。当存储节点离开系统时，会重新计算哪些数据块原本存储在离开节点上，需要迁移到其他节点上。

[0069] 通过这种方式，一致性哈希算法可以确保在存储节点的增减时，尽可能减少数据迁移量，从而保持系统的数据分布均衡性，并确保节点之间的一致性。这样的设计使得系统能够更好地应对节点的变化，同时保持数据的高可用性和可靠性。

[0070] 一致性哈希算法是一种用于分布式系统中数据分布和负载均衡的算法，可以确保各个存储节点之间的一致性，并平衡存储节点的负载。一致性哈希算法将整个哈希空间视为一个环状空间，将数据和存储节点都映射到这个环上。当需要存储数据或查找数据时，通过计算数据的哈希值，并沿着环上顺时针方向找到第一个大于等于该哈希值的存储节点，这个节点即为数据应该存储的节点。

[0071] 当存储节点增减或发生变化时，一致性哈希算法能够最小化数据的迁移量，大部分数据仍然能够映射到原有的节点上，从而保持数据的一致性。这种特性使得一致性哈希算法在动态环境下能够有效地保持数据的一致性，减少数据迁移的成本。

[0072] 在本实施场景中，检测数据分布在多个存储节点上，这些节点可能分布在不同的地理位置或属于不同的组织。在这样的环境下，数据的安全性和隐私性变得尤为重要。数据在传输过程中，可以使用端到端加密保护数据的机密性。例如，当用户上传数据到分布式存储系统时，客户端可以对数据进行加密，然后再传输到存储节点上。在数据存储过程中，存储节点也可以使用加密算法对数据进行加密存储，确保数据在存储时也是加密的状态。

[0073] 不同用户和系统可能具有不同的访问权限需求。通过访问控制列表(Access Control Lists，ACL)或基于角色的权限访问控制(Role‑Based Access Control，RBAC)，可以为每个用户或系统设置特定的访问权限。可以根据用户身份或角色来控制其对数据的访问权限，确保只有经过授权的用户才能访问特定数据。

[0074] 在加密时选择一个经过验证和广泛使用的加密算法，如AES(高级加密标准)。AES提供多种密钥长度(128、192、256位)，提供强大的安全性。对存储和传输的数据进行加密，确保数据在未经授权的情况下无法被读取。

[0075] 此外，还可以记录所有数据访问和操作的详细信息，包括访问时间、访问者身份、访问的数据和操作类型，以便追踪数据的使用情况和发现潜在的安全问题。将日志存储在安全和不可篡改的环境中，确保日志的完整性和可靠性。定期分析日志，发现潜在的安全问题和异常行为。

[0076] 在本实施场景中，在传输引脚焊接质量检测数据时，端到端加密可以确保数据在传输过程中受到保护，防止第三方未经授权的访问。通过端到端加密，只有发送数据和接收数据的双方能够解密数据，保护数据隐私和完整性。端到端加密可以防止数据在传输过程中被篡改，确保数据的完整性和可靠性。

[0077] 功能性能测试数据可能包含敏感信息，通过端到端加密可以保护这些数据在传输和存储过程中的安全性。端到端加密可以防止第三方窃听者在数据传输过程中窃取数据，确保通信内容的机密性。通过端到端加密，通信双方可以安全地交换信息，确保数据传输的安全性和可靠性。

[0078] 通过上述描述可知，在本实施例中，通过将检测数据分块并存储在多个存储节点上，可以实现数据的分布式存储和管理，提高数据的安全性和可靠性，同时也能够提升数据的访问效率和处理性能。通过对每个存储节点上的数据库进行冗余备份，可以提高数据的安全性和可靠性，降低数据丢失的风险，并确保在意外情况下能够快速恢复数据。通过一致性哈希算法，可以确保各个存储节点之间的数据一致性，并有效地平衡存储节点的负载，从而提高分布式存储系统的性能和可靠性，采用端到端加密方法能够确保数据传输的安全性和可靠性。

[0079] 请结合参阅图2，图2是本发明提供的对目标芯片进行引脚焊接质量检测的方法的一实施例的流程示意图。本发明提供的对目标芯片进行引脚焊接质量检测的方法包括如下步骤：

[0080] S201：将目标芯片的引脚根据功能分为控制组、高低位组、数据组和地址组。

[0081] 在一个具体的实施场景中，将目标芯片的引脚根据功能分为控制组、高低位组、数据组和地址组。控制组通常包括电源控制、时钟控制、复位等引脚。高低位组为数据线的高位和低位部分。数据组为数据输入输出引脚。地址组为地址线引脚。

[0082] S202：在目标芯片的任意地址写入测试数据，并读取测试数据，根据读取的结果分别检测控制组、高低位组、数据组和地址组的焊接质量。

[0083] 在一个具体的实施场景中，准备一组测试数据，确保数据覆盖所有数据引脚。将测试数据写入目标芯片的任意地址。从同一地址读取数据，确保读取操作覆盖所有数据引脚。根据读取的结果分别检测控制组、高低位组、数据组和地址组的焊接质量。

[0084] 具体地说，如果读取结果的所有位均为0或均为1，判定控制组焊接质量不良。如果读取的数据与写入的数据一致，判定控制组焊接质量良好。对读取的高字节和低字节数据分别与之前写入的测试数据进行比较。如果读取的高字节数据与写入的高字节数据完全一致，表示高位引脚的焊接质量良好。如果读取的低字节数据与写入的低字节数据完全一致，表示低位引脚的焊接质量良好。如果读取的高字节或低字节数据与写入的数据不一致，可能表明对应的高低位引脚的焊接存在问题。

[0085] 通过数据组中的每一个引脚执行写入测试数据的操作。读取通过每个引脚写入的数据。对每个引脚的写入和读取结果进行比较。如果读取结果与测试数据不一致，判定该引脚对应的数据组焊接质量不良。否则，数据组焊接质量正常。

[0086] 在多个地址写入测试数据，从这些地址读取数据。计算写入操作的成功率。如果成功率低于预设阈值，判定地址组焊接质量不良。否则，地址组焊接质量正常。

[0087] 根据检测结果，定位问题引脚，进行重新焊接或调整。修复后，重复上述测试步骤，确保所有引脚的焊接质量均符合要求。

[0088] 通过上述描述可知，将目标芯片的引脚根据功能分为控制组、高低位组、数据组和地址组；不同功能组的引脚可能面临不同的焊接挑战，分组检测可以针对性地解决特定问题，提高检测的准确性。通过分组检测，可以快速定位问题引脚，减少对整个芯片的全面检测，从而提高检测效率。避免因单一检测方法导致的误判，分组检测可以更全面地评估焊接质量。

[0089] 请参阅图3，图3是本发明提供的对目标芯片进行功能性能检测的方法的一实施例的流程示意图。本发明提供的对目标芯片进行功能性能检测的方法包括如下步骤：

[0090] S301：获取输入输出检测文件，基于输入输出检测文件获取目标芯片的型号和目标芯片的每个引脚的输入输出特征曲线。

[0091] 在一个具体的实施场景中，输入输出检测文件为IBIS(Input/Output Buffer Information Specification，输入/输出缓冲器信息规范)模型文件。IBIS模型文件是一种用于描述数字电路输入/输出缓冲器行为的标准文件格式。IBIS模型文件包含了有关数字电路输入/输出缓冲器的电气特性、时序特性和逻辑特性等信息。通过解析IBIS文件，能够获取目标芯片的电气特性和信号传输参数(例如，目标芯片的型号和目标芯片的每个引脚的输入输出特征曲线)。

[0092] IBIS文件一个XML格式的文件，包含了芯片的I/O缓冲器的详细电气特性。通过解析XML结构，识别文件中的关键元素和属性，如,,等。提取关键信息，包括但不限于芯片型号、引脚类型、电压电流曲线、阈值、时间延迟等。在元素中查找包含芯片型号的属性或子元素。遍历文件中的所有元素。确定每个引脚是输入引脚还是输出引脚。在每个引脚的元素中查找描述输入输出特性的曲线数据。提取电压‑电流特性曲线、输入输出阈值、时间延迟等数据。通过解析得到的I/O特征曲线，可以进行信号分析。I/O特征曲线描述了引脚的电气特性，如电压‑电流特性和输入输出阈值。

[0093] S302：根据输入输出特征曲线生成测试电压值和/或测试电流值。

[0094] 在一个具体的实施场景中，分析IBIS文件中提供的输入输出特征曲线，这些曲线通常包括电压‑电流(V‑I)曲线、输入阈值、输出阈值等。根据特征曲线确定测试电压和电流的范围，确保覆盖芯片的正常工作区间。识别特征曲线上的关键点，如阈值点、饱和点、最大/最小工作点等。在关键点之间均匀分布测试点，以确保测试覆盖整个工作区域。设计测试序列，包括一系列的测试电压值和/或测试电流值，根据这些值生成对应的模拟电平，模拟电平用于输入到目标芯片中，以激发目标芯片。试电压值和/或测试电流值包括边际条件下的测试点，如最大电压、最小电压、最大电流和最小电流。

[0095] 在其他实施场景中，可以使用数学函数，如线性、对数或指数函数，来生成测试点。根据需要，还可以使用统计分布(如正态分布)来确定测试点的分布。

[0096] 具体地说，从IBIS文件中解析出每个引脚的元素，获取相关的电气特性数据。确定特征曲线中数据的单位，如电压可能是伏特(V)，电流可能是安培(A)。理解曲线数据的结构，例如，曲线可能是以表格形式给出的一系列点(V,I)。分析曲线描述的电气特性，如线性、非线性、阈值、饱和区等。使用曲线拟合技术(如最小二乘法)来找到一个数学函数，该函数可以最好地近似原始数据点。根据拟合的数学模型，将从输入输出特征曲线上的选取的点对应为测试电压值和/或测试电流值。

[0097] S303：依次向目标芯片每个引脚输入模拟电平，读取目标芯片的实际输出电压值和/或实际输出电流值。

[0098] 在一个具体的实施场景中，将信号发生器的输出连接到目标芯片的第一个引脚。依次输入测试序列中的模拟电平到该引脚。用示波器或数字万用表测量并记录每个测试点的实际输出电压值和/或实际输出电流值。

[0099] S304：将测试电压值和/或测试电流值与实际输出电压值和/或实际输出电流值进行比较，获取功能性能检测结果。

[0100] 在一个具体的实施场景中，记录每个引脚的测试电压/电流值和实际输出电压/电流值。使用数据分析软件或手动方法比较两者的差异。根据比较结果评估每个引脚的功能性能是否符合预期。确定是否存在超出规格的偏差或其他异常情况。如果发现异常，记录详细信息并进行故障诊断。

[0101] 通过上述描述可知，通过输入输出检测文件获取目标芯片的型号和每个引脚的输入输出特征曲线，可以准确了解目标芯片的规格和特性，通过检测引脚的电气特性，确保芯片在实际应用中能够满足性能要求。

[0102] 请参阅图4，图4是本发明提供的芯片检测数据的存储装置的一实施例的结构示意图。芯片检测数据的存储装置10包括获取模块11、存储模块12、备份模块13、平衡模块14和加密模块15。

[0103] 获取模块11用于对目标芯片进行引脚焊接质量检测和功能性能检测，获取检测数据；存储模块12用于将检测数据分为多个数据块，分别存储于多个存储节点上；备份模块13用于对每个存储节点上的数据库进行冗余备份；平衡模块14用于通过一致性哈希算法确保各个存储节点之间的一致性，并平衡各个存储节点的存储负载；加密模块15用于在传输检测数据时，采用端到端加密方法。

[0104] 获取模块11用于将目标芯片的引脚根据功能分为控制组、高低位组、数据组和地址组；在目标芯片的任意地址写入测试数据，并读取测试数据，根据读取的结果分别检测控制组、高低位组、数据组和地址组的焊接质量。

[0105] 获取模块11用于如果读取的结果均为0或者均为1，则判定控制组的焊接质量不良；比较读取的结果与测试数据的高位字节和低位字节是否一致，如果两者在高位字节和/或低位字节不一致，则判定高低位组的焊接质量不良；通过数据组中的每一个引脚执行写入测试数据，并读取测试数据的步骤，如果出现读取的结果与测试数据不一致，则判定数据组的焊接质量不良；在写入测试数据时检测写入操作的成功率，如果成功率低于预设阈值，则判定地址组的焊接质量不良。

[0106] 获取模块11用于获取输入输出检测文件，基于输入输出检测文件获取目标芯片的型号和目标芯片的每个引脚的输入输出特征曲线；根据输入输出特征曲线生成测试电压值和/或测试电流值；依次向目标芯片每个引脚输入模拟电平，读取目标芯片的实际输出电压值和/或实际输出电流值；将测试电压值和/或测试电流值与实际输出电压值和/或实际输出电流值进行比较，获取功能性能检测结果。

[0107] 获取模块11用于解析输入输出特征曲线的结构和单位，获取输入输出特征曲线描述的电气特性，采用数学方法将输入输出特征曲线上的点对应为测试电压值和/或测试电流值。

[0108] 存储模块12用于根据引脚类型和分片规则将检测数据分为多个数据块，并分别存储到对应的存储节点。

[0109] 加密模块15用于为不同用户和系统设置不同的访问权限，以确保只有授权用户可以访问检测数据；记录数据访问和操作的审计日志，以便追踪数据的使用情况和发现潜在的安全问题。

[0110] 通过上述描述可知，在本实施例中，通过将检测数据分块并存储在多个存储节点上，可以实现数据的分布式存储和管理，提高数据的安全性和可靠性，同时也能够提升数据的访问效率和处理性能。通过对每个存储节点上的数据库进行冗余备份，可以提高数据的安全性和可靠性，降低数据丢失的风险，并确保在意外情况下能够快速恢复数据。通过一致性哈希算法，可以确保各个存储节点之间的数据一致性，并有效地平衡存储节点的负载，从而提高分布式存储系统的性能和可靠性，采用端到端加密方法能够确保数据传输的安全性和可靠性。

[0111] 请参阅图5，图5示出了一个实施例中智能设备的内部结构图。该智能设备具体可以是终端，也可以是服务器。如图5所示，该智能设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该智能设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现上文的控温方法。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行芯片检测数据的方法。本领域技术人员可以理解，图5中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的智能设备的限定，具体的智能设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

[0112] 在一个实施例中，提出了一种智能设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行图1所示的步骤。

[0113] 在一个实施例中，提出了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行图1所示的步骤。

[0114] 本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

[0115] 以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

[0116] 应当理解的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，对本领域技术人员来说，可以对上述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而所有这些修改和替换，都应属于本发明所附权利要求的保护范围。