一种基于DD-Net架构的回收再流通书籍表面缺陷检测方法公开 发明

技术总结

本发明公开了一种基于DD‑Net架构的回收再流通书籍表面缺陷检测方法，涉及物体表面缺陷技术领域。包括：S1、数据获取步骤；S2、数据预处理步骤；S3、框架搭建步骤；S4、实施检测步骤。本发明检测回收再流通书籍表面缺陷时，可以有效识别图像中的复杂几何形变，通过将最上层的信息与最下层的信息连接起来，提取具有丰富语义信息的多尺度特征，有效地检测出各种类型的缺陷。

技术研发人员：

于君; 李伟; 吕俊哲; 郭自强; 王帅琪; 张堃; 徐哲; 张业茂; 张振; 范佳兴; 韩瑞垚; 白凌南

受保护的技术研发主体：

山西太行实验室有限公司

技术申请主体：

山西太行实验室有限公司

技术研发申请日期：

2024-09-09

技术被公开/公告日期：

2024-12-03