技术领域
[0001] 本实用新型涉及金融检测技术领域，特别是涉及一种介质检测系统及介质处理设备。
相关背景技术
[0002] 现有的薄片类介质处理设备在处理纸币、发票或卡片等薄片类介质时，检测通道的传感器每通过一介质，检测通道中的传感器的电平信号就发生跳变一次，并依据电平信号进行计数。
[0003] 然而，对于处理存在透明区域的纸币、发票或卡片等薄片类介质时，且当薄片类介质的透明区域通过传感器时，因传感器光信号过强，出现部分光信号穿过透明区域，传感器接收端接收到的光信号强度发生改变，导致一张介质出现多次电平跳动，出现对介质计数不准确或者出现错误报警的问题，使得薄片类介质处理设备无法正常运行。
具体实施方式
[0025] 为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
[0026] 参照图1，是本实用新型的一种介质检测系统的模块示意图，如图可知，介质检测系统包括传感器、检测通道以及数模转换器(DAC)，所述传感器包括传感器发射端和传感器接收端，所述传感器发射端和传感器接收端均设置在所述检测通道的上方或者下方；所述传感器发射端，用于向所述检测通道发射光信号；所述传感器接收端，用于接收所述检测通道表面反射的反射光信号、或所述介质表面反射的所述反射光信号、或所述检测通道表面和所述介质的透明区域反射的所述反射光信号；所述检测通道表面反射的反射光信号的强度在第一预设范围内，所述介质表面反射的所述反射光信号的强度与所述检测通道表面和所述介质的透明区域反射的所述反射光信号的强度在第二预设范围内；所述数模转换器，用于在所述反射光信号的强度从所述第一预设范围内变化为所述第二预设范围内或从所述第二预设范围内变化为所述第一预设范围内时，改变输出的电平信号的状态。
[0027] 其中，介质为纸币、卡片或发票等薄片类介质；介质检测系统应用在介质处理设备，包括现金设备，如现金存款机、现金取款机或者存取款一体机等，非现金设备，如票据机或者收发卡机等，现金非现金综合一体机，如现金票据一体机、现金发卡一体机或者票据发卡一体机等；透明区域为介质上存在用于标记或鉴别真伪的区域，例如纸币上的透明开窗口区域。
[0028] 参照图2，是本实用新型的介质未通过传感器时的结构示意图，如图可见，图中采用将传感器发射端和传感器接收端设置在检测通道的上方作为示例，在介质未通过传感器时，传感器发射端发出的光信号照射在检测通道表面，检测通道表面对光信号进行反射，传感器接收端接收到检测通道表面反射的反射光信号，反射光信号强度在第一预设范围内，数模转换器输出的电平信号的状态维持不变。
[0029] 参照图3，是本实用新型的介质通过传感器时的结构示意图(一)，如图可见，在介质通过传感器，介质的透明区域未通过传感器时，传感器发射端发出的光信号照射在介质表面(非透明区域表面)，介质表面对光信号进行反射，传感器接收端接收介质表面反射的反射光信号，反射光信号强度在第二预设范围内，此时反射光信号强度从第一预设范围内变化为第二预设范围内，数模转换器输出的电平信号的状态发生跳变，例如低电平跳变为高电平或高电平跳变为低电平。
[0030] 参照图4，是本实用新型的介质通过传感器时的结构示意图(二)，在介质的透明区域通过传感器时，传感器发射端发出的光信号照射在介质的透明区域表面，一部分光信号在透明区域表面反射，另一部分光信号穿过透明区域折射到通道表面进行反射，经过透明区域时折射到传感器接收端，传感器接收端接收到反射光信号的强度依旧在第二预设范围内，此时数模转换器输出的电平信号的状态维持不变。
[0031] 本实用新型实施例通过在介质通过传感器时，无论介质的透明区域是否穿过传感器，传感器接收端接收到的反射光信号的强度都在第二预设范围内，致使介质的透明区域穿过传感器时，在数模转换器输出的电平信号不会发生跳变，保证介质计数准确，避免发生因介质计数不准确或者错误报警，使得薄片类介质处理设备无法正常运行的情况。
[0032] 在本实用新型一实施例中，所述电平信号包括高电平信号和低电平信号，所述高电平信号用于表征所述传感器无介质遮挡，所述低电平信号用于表征所述传感器有介质遮挡。
[0033] 具体地，在介质未通过传感器时，即传感器无介质遮挡，传感器接收端接收到检测通道表面反射的反射光信号，反射光信号强度在第一预设范围内，此时数模转换器将第一预设范围内的反射光信号转换为高电平信号。
[0034] 在介质通过传感器时，即传感器存在介质遮挡，传感器接收到介质表面反射的反射光信号，或检测通道表面和介质的透明区域反射的反射光信号，反射光信号强度在第二预设范围内，此时数模转换器将第二预设范围内的反射光信号转换为低电平信号。
[0035] 需要说明的是，本实用新型实施例中通过数模转换器将第一预设范围内的反射光信号转换为高电平信号，第二预设范围内的反射光信号转换为低电平信号，但本实用新型实施例并不局限于此，还可以通过数模转换器将第一预设范围内的反射光信号转换为到低电平信号，第二预设范围内的反射光信号转换为高电平信号。
[0036] 在本实用新型一实施例中，还包括微控制单元(MCU)，所述微控制单元用于对所述介质进行计数。
[0037] 具体地，介质检测系统还包括微控制单元，微控制单元用于根据电平信号的状态对介质进行计数，例如电平信号从高电平变为低电平，再从低电平变为高电平时，表征通过一介质。
[0038] 在本实用新型一实施例中，所述检测通道设有凹型表面，所述凹型表面用于反射所述传感器发射端发射的所述光信号。
[0039] 在本实用新型一实施例中，所述检测通道的所述凹型表面的面积与所述传感器发射和接收所述光信号的面积适配。
[0040] 在本实用新型一实施例中，所述检测通道为黑色塑胶件。
[0041] 参照图2，在传感器正下方的检测通道表面设有凹型表面，凹型表面的面积大小与传感器发射和接收光信号的面积大小适配，且检测通道以及凹型表面为黑色塑胶件，凹型表面用于反射传感器发射端发射的光信号，凹型表面的设计是为了增加反射光信号的反射距离，减弱传感器接收端接收到凹型表面反射的反射光信号的强度，以加大传感器接收端接收到的介质反射的反射光信号的强度与凹型表面反射的反射光信号的强度差别，更好地区分介质反射的反射光信号与凹型表面反射的反射光信号，提高对纸币检测的效果，检测通道以及凹型表面采用黑色塑胶件可以最大程度的吸收光信号，让凹型表面反射的反射光信号的强度变弱，增大传感器接收端接收到的介质反射的反射光信号的强度与凹型表面反射的反射光信号的强度差别，更好地区分介质反射的反射光信号与凹型表面反射的反射光信号，以提高对纸币检测的效果。
[0042] 在本实用新型一实施例中，还包括存储器(EEPROM)，所述存储器储存有电流数值，所述传感器发射端，用于从所述存储器读取所述电流数值，依据所述电流数值发射所述光信号。
[0043] 在本实用新型一实施例中，在所述介质检测系统上电后，所述微控制单元还用于在所述传感器自检完成后，向所述传感器发出校正指令；当所述传感器接收端接收的所述反射光信号的强度达到预设值时，在所述存储器写入所述传感器发射端的所述电流数值。
[0044] 参照图5，是本实用新型的一种介质检测系统的校正流程示意图，如图可知，在介质检测系统上电后，对传感器进行自检，主要检测传感器是否正常，在传感器自检完成后，微控制单元向传感器发出校正指令，传感器的发射端开始向检测通道表面发射光信号，当传感器接收端接收到的检测通道表面反射的反射光信号的强度达到预设值时，表明此时传感器发射的光信号的强度符合检测介质的要求，在存储器写入此时传感器发射端的电流数值，在对介质的检测开始后，传感器发射端依据该电流数值发射光信号。
[0045] 需要说明的是，本实用新型实施例中，当传感器接收端接收到的检测通道表面反射的反射光信号的强度达到预设值时，在存储器写入此时传感器发射端的电流数值，当本实用新型实施例并不局限于此，还可以设置为当传感器接收端连续，或多次接收到的检测通道表面反射的反射光信号的强度达到预设值时，在存储器写入此时传感器发射端的电流数值。
[0046] 介质检测系统除了在上电时进行校正外，还可以根据时间或通过介质的数量设置定期校正。
[0047] 本实用新型还公开了一种介质处理设备，包括上述的任一项的介质检测系统。
[0048] 以上所述实施例的各个技术特征可以进行任意组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0049] 最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
[0050] 以上对本实用新型所提供的介质检测系统和一种介质处理设备，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
