技术领域 本发明涉及在偏光板上粘有保护膜的、粘有保护膜的偏光板的缺 陷检查方法。 背景技术 偏光板被用作构成液晶显示器的光学部件。偏光板通常在在其两 面上用粘接剂贴有保护膜的情况下被用在液晶显示器中。为防止偏光 板受伤等，在偏光板的两面上还贴有保护膜，从而对粘有保护膜的偏 光板进行检查、输送、保管等。该保护膜在偏光板被组装到液晶显示 器中时从偏光板上被剥下来并被丢掉。另一方面，涂在偏光板的一面 或两面上的粘着层被用于将偏光板粘到液晶元件上并大多仍被组装到 液晶显示器中。 如果这种粘有保护膜的偏光板具有由异物等造成的缺陷，则导致 了液晶显示器显示的缺陷，因此，必须装运出厂等时进行检查。这种 检查是如此进行的，例如使待检查的粘有保护膜的偏光板相对检查用 偏光板尼科尔正交，就是说，待检查的粘有保护膜的偏光板被布置成 这些偏光轴方向彼此正交，光源发射出光，用眼睛或摄象机观察透光 的画面。由于这些偏光板是尼科尔正交的，所以，透过待检查的粘有 保护膜的偏光板的光被检查用偏光板完全遮挡住，而如果在待检查偏 光板的检查用偏光板侧有异物等缺陷，则能够作为明亮部分地看到这 种缺陷，由此就能够检查出缺陷。相反侧的缺陷能够通过将偏光板翻 过来并进行同样的检查来进行(例如专利文献1及专利文献2)。专 利文献1是特开2000-206327公报(第2段)，专利文献2是特开 2001-349839公报(第12和13段)。 发明内容 如专利文献1、2所述的方法是优秀的方法，但尽管能检查出在待 检查的粘有保护膜的偏光板的偏光膜和检查用偏光板之间有缺陷，但 却不能判断出缺陷是在粘着层中，还是在保护膜中。结果，尽管检查 出了缺陷，但查明缺陷的起因相当费时间，而且即便是保护膜有缺陷， 这也被排除在使用之外，因而，它被不必要地判断为次品。 本发明的目的是提供一种能够容易地判断出是否是保护膜的缺陷 的粘有保护膜的偏光板的缺陷检查方法。 为完成上述课题，本发明人对粘有保护膜的偏光板的缺陷检查方 法进行了刻苦研究，结果发现，在黑暗图象中被周期性或连续地检查 出来的明亮部分是由保护膜缺陷引起的，由此完成了本发明。即，本 发明的提供一种粘有保护膜的偏光板的缺陷检查方法，其中在偏光板 的两面上粘有保护膜的粘有保护膜的偏光板与检查用偏光板被布置在 光源和摄象机之间，通过在摄象机所拍摄到的黑暗图象中是否有明亮 部分来进行上述缺陷检查，该方法的特点是，在黑暗图象中被周期性 或连续地检查出来的明亮部分被判定为是由保护膜缺陷引起的。 根据本发明的方法，能够容易地判定是否有保护膜缺陷并且能够 缩短缺陷起因查明时间并能够防止不必要的出现次品。 附图说明 图1是表示粘有保护膜的偏光板的一个例子的截面示意图。 图2是表示粘有保护膜的偏光板的缺陷检查方法的示意图。 图3是是缺陷检查图象的示意图。 图4是另一个缺陷检查图象的示意图。 具体实施方式 图1是表示粘有保护膜的偏光板的一个例子的截面示意图。在偏 光板1的偏光膜11的两面上，通过粘接剂13粘有保护膜12。作为偏 光膜11，例如使用用碘素或双色染料被染色的聚乙烯醇(PVA)等的 乙烯醇系树脂膜，偏光膜厚度一般为10-30微米左右。作为保护膜12， 例如使用三乙酰纤维素(TAC)、双乙酰纤维素(DAC)等纤维素系树 脂、丙烯系树脂、聚对苯二甲酸乙二酯(PET)等酯系树脂，保护膜 的厚度通常约为10-180微米。作为粘接偏光膜与保护膜的粘接剂， 例如使用聚乙烯醇系粘接剂等。 保护膜2、3通过粘着层4、5粘在偏光板1的两面上。作为保护 膜的材质，例如包括象聚对苯二甲酸乙二酯(PET)这样的酯系树脂、 象聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP等)这样的聚烯烃系树脂、丙烯系树脂 以及纤维素系树脂如TAC和DAC。此外，保护膜的厚度通常为10-100 微米，最好是30-50微米。如果保护膜是单轴延伸的膜，则使延伸轴 方向与偏光膜11的偏光轴方向一致地粘贴保护膜。 保护膜2也被称为隔膜，在用于液晶显示器等中时，它被剥下来 并被丢掉。此时，粘着层4通常残留在偏光板1的表面上并被用于偏 光板同液晶元件等的粘接。因此，如果粘着层4上有碎屑、尘埃等异 物，则降低了液晶显示器的性能。 构成粘着层4的粘接剂可以是透明的各向同性的粘接剂，尽管对 该粘接剂没有特殊限制，但从便于组装到液晶显示器中的观点出发， 通常使用压敏型粘接剂。这样的压敏型粘接剂例如包括丙烯系压敏型 粘接剂、氨基甲酸乙酯系粘合剂等。 保护膜3也被称为护膜，在被用到液晶显示器等中时，它被剥下 来并被丢掉。如果使用了对保护膜的粘着性很强的粘着层5，则在剥 下保护膜时，粘着层不留在偏光板上，而是粘在保护膜上地被剥下来 并被丢掉。在保护膜3本身有粘性的情况下，保护膜不通过粘着层5 而直接粘在偏光板1上。 通常，保护膜2、3被粘在经过预检查而无缺陷的偏光板1上。因 此，即便粘有保护膜的偏光板6被检查出了缺陷，如上所述，除粘着 层4外，保护膜2、3和粘着层5最终被剥离并丢掉，所以它们当中 存在的缺陷不是致命缺陷。 图2是表示粘有保护膜的偏光板的缺陷检查方法的示意图。在(A) 中，在光源22和摄象机23之间，使保护膜2位于摄象机侧地布置粘 有保护膜的偏光板1，在保护膜2和摄象机23之间设有检查用偏光板 21。因此，粘有保护膜的偏光板1的偏光膜11与检查用偏光板21被 布置成是尼科尔正交的，即它们的偏光轴方向相互垂直。来自摄象机 的图象信号在图象处理装置24中进行处理并进行缺陷检查，检查结 果被输送给监视器。在图2中，省掉了在粘有保护膜的偏光板1中的 粘接剂层13和粘着层5。 来自光源22的光有选择地透过偏光膜11的在偏光轴方向上的偏 光成分，如果在偏光膜11和检查用偏光板21之间没有瑕疵和异物等 缺陷，则透过粘有保护膜的偏光板的光被检查用偏光板阻挡住并且摄 象机的拍摄图象显示出暗色。如果在偏光膜11和检查用偏光板21之 间有缺陷，则这部分的偏光方向改变了并且穿过了检查用偏光板，在 黑暗拍摄图象中就显现出明亮部分。根据检查到所述明亮部分，就检 查出在粘有保护膜的偏光板的偏光膜11和保护膜2之间的缺陷。而 如果把粘有保护膜的偏光板翻过来，则能够检查出在偏光膜11与保 护膜3之间的缺陷。 在图2的(B)中，在光源22和摄象机23之间，保护膜3位于摄 象机侧地设有粘有保护膜的偏光板1，在保护膜2和光源22之间设置 检查用偏光板21。因此，与(A)的场合一样地，粘有保护膜的偏光 板1的偏光膜11与检查用偏光板21被布置成尼科尔正交的状态。在 这种场合下，与(A)的场合一样地检查缺陷。 作为摄象机，通常使用CCD摄象机，拍摄得到的图象信号在图象 处理装置并借助计算机系统进行图象处理，由此来检查缺陷。图3、4 是缺陷检查图象的示意图。在图3中，拔白箭头表示检查时的膜行进 方向，白色圆圈表示缺陷，图3例如示出了在从膜侧边起的W1的位 置按照长度为L的间隔出现缺陷的情况。此外，在图4中示出了在用 拔白箭头表示的检查时的膜行进方向上出现成带状的连续缺陷。这样 的缺陷是由保护膜缺陷引起的，它们可能是在保护膜的粘贴过程等中 出现在保护膜上的。粘着层缺陷是由碎屑和尘埃等引起的，通常，这 样的周期性缺陷或连续的缺陷在粘着层上是看不到的。除此之外，不 定期显现的缺陷可以在粘着层上或保护膜上看到。 通常，为每个像素或像素群求出经过图象信号处理而得到的辉度， 因此在设定阈值的情况下，超过设定阈值的辉度被判定为缺陷。如此 检查是否有周期性缺陷或连续缺陷。首先，使预检查膜直行，用尼科 尔棱镜等进行自动检查，如果在垂直于膜行进方向(长度方向)的方 向(宽度方向)上的缺陷位置是相同的，则发现在长度方向上有周期 性的缺陷。目测检查所发现的缺陷，在该缺陷位于保护膜上的场合下， 该周期被定为缺陷周期长度。通常，缺陷周期长度与在粘贴过程等中 使用的辊的圆周长度相等。接着，在本发明的检查中获得的图象在膜 的长度方向和宽度方向上被分别划分成一定大小的格子。在膜行进方 向上设定出由一些格子连续构成的框。该框的长度被定为上述确定的 缺陷周期长度。如果在框内的格子上检查出缺陷并且连续地在下个框 的相同位置的格子上检查出缺陷，则被确定为周期性缺陷或连续缺 陷。通常，如果在3-7个框中连续检查出缺陷，因此，该缺陷可以被 判断为保护膜的缺陷并且粘有保护膜的偏光板可被判断为次品并由此 被剔除。 以下，尽管通过实施例来详细说明本发明，但本发明不局限于这 些实施例。 实施例1 在一面有粘着层4的偏光板(TAC膜/碘素染色的PVA膜/TAC膜) 1的粘着层上，粘有保护膜2(隔膜)，在与设有粘着层的那侧相反 的那面上贴有保护膜3，对这样的粘有保护膜的偏光板6(图1)进行 缺陷检查。 在光源22和摄象机23之间，使保护膜2位于摄象机侧地布置粘 有保护膜的偏光板1，在保护膜2和摄象机23之间设有检查用偏光板 21，所述粘有保护膜的偏光板1的偏光膜11与该检查用偏光板21被 布置成尼科尔正交的状态。由摄象机23拍摄到的图象信号在图象处 理装置中经过处理并由此检查缺陷。在图象检查时的膜行进方向上， 设定出其长度等于在保护膜粘贴过程中使用的辊的圆周(502毫米) 的框，对1250毫米宽的膜进行20米的检查。如果原封不动地检查出 所有缺陷，则在5个框中连续检查到缺陷后，求出除该缺陷外的检查 时缺陷率。 所有缺陷检查：2.26个/平方米 除周期性缺陷外：0.47个/平方米 在用显微镜观察该粘有保护膜的偏光板之后，在保护膜2上检查 出长502毫米的周期性瑕疵。 附图标记一览表 1-偏光板；2、3-保护膜(隔膜)；4、5-粘着层；11-偏光膜；12-保 护膜；13-粘接剂层；21-检查用偏光板；22-光源；23-摄象机；24- 图象处理装置；