技术领域
[0001] 本实用新型涉及用光电方法测量流体特性的电极头领域，特别涉及此类电极头的流道设计和透明窗布置的设计。
相关背景技术
[0002] 在现有技术中，用光电方法测量流体特性的电极头(例如测量流体的浊度、色度、氧分压，pH值等电极头)是用于确定水质或流体介质特性必不可少的装置。
[0003] 同类产品将电极头做成凸起结构或简单凹槽结构，由于凸起结构过于复杂导致后续工艺实施太复杂，不利于产品的安装调试，而且光线散射、杂散光影响大。简单凹槽结构的凹槽太深，流体流动顺畅度不足，容易产生气泡或气泡停留，影响流体特性的测量精度。这种结构不利于卫生型设计。
[0004] 有鉴于此，本实用新型设计了通过光电方法测量流体特性的电极头，以期克服上述技术问题。实用新型内容
[0005] 本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术中电极头结构复杂，不利于产品装调，光线散射、杂散光影响大；流体流动顺畅度不足影响测量精度、不利于卫生型设计等缺陷，提供一种通过光电方法测量流体特性的电极头。
[0006] 本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：
[0007] 一种通过光电方法测量流体特性的电极头，其特点在于，所述电极头包括电极头窗口座和一个或多个通光窗，所述通光窗设置在电极头窗口座的窗口孔上，所述通光窗由透明材料制成，所述电极头窗口座被测流体一侧的端面上开设有电极头凹槽和顶部凹槽，所述顶部凹槽环绕在所述电极头凹槽的四周。
[0008] 根据本实用新型的一个实施例，所述电极头凹槽呈V型或U型凹槽。
[0009] 根据本实用新型的一个实施例，所述窗口孔分别在所述电极头凹槽的两侧壁面上和/或底部壁面上。
[0010] 根据本实用新型的一个实施例，所述电极头凹槽的底部壁面上设置有一个所述窗口孔。
[0011] 根据本实用新型的一个实施例，所述电极头凹槽的两侧壁面上设置有两个或多个窗口孔。
[0012] 根据本实用新型的一个实施例，所述电极头凹槽的一侧壁面为平面、斜面或折弯面。
[0013] 根据本实用新型的一个实施例，所述顶部凹槽位于所述电极头凹槽的顶端部，所述顶部凹槽呈球形或圆锥形。
[0014] 所述顶部凹槽使电极头凹槽的等效深度显著减低，显著提高电极头凹槽及附近的流体流动顺畅度，减少生产气泡气泡停留的可能性，提高流体特性的测量精度。
[0015] 根据本实用新型的一个实施例，所述电极头凹槽的底部设置为底部圆角过渡结构。
[0016] 根据本实用新型的一个实施例，所述电极头凹槽的顶部开口呈一字型。
[0017] 根据本实用新型的一个实施例，所述电极头的非被测流体的一侧设置有多个镜片；光源射出入射光，经过所述镜片，再通过反射镜由所述通光窗射出，射向被测流体；被测流体的出射光由所述通光窗射入再经过反射镜等被检测。
[0018] 本实用新型的积极进步效果在于：
[0019] 本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头通过电极头结构将光线引导至设定的路线，并且所述顶部凹槽使电极头凹槽的等效深度显著减低，显著提高电极头凹槽及附近被测试流体介质的流动顺畅度，减少生产气泡或气泡停留的可能性，显著提高流体特性的测量精度。所述电极头能提升工艺便捷性，还能保持卫生型结构，具有良好的光线散射特性、消杂散光效果，提高流体特性的测量精度。
具体实施方式
[0039] 为让本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本实用新型的具体实施方式作详细说明。
[0040] 现在将详细参考附图描述本实用新型的实施例。现在将详细参考本实用新型的优选实施例，其示例在附图中示出。在任何可能的情况下，在所有附图中将使用相同的标记来表示相同或相似的部分。
[0041] 此外，尽管本实用新型中所使用的术语是从公知公用的术语中选择的，但是本实用新型说明书中所提及的一些术语可能是申请人按他或她的判断来选择的，其详细含义在本文的描述的相关部分中说明。
[0042] 此外，要求不仅仅通过所使用的实际术语，而是还要通过每个术语所蕴含的意义来理解本实用新型。
[0043] 实施例一：
[0044] 图1为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的立体图。图2为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例一结构与光源的角度示意图。图3为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例一的俯视图。
[0045] 如图1至图3所示，本实用新型公开了一种通过光电方法测量流体特性的电极头，其包括电极头窗口座10和一个或多个通光窗21，通光窗21设置在电极头窗口座10的窗口孔20上，通光窗21由透明材料制成，电极头窗口座10被测流体一侧的端面上开设有电极头凹槽11和顶部凹槽12，顶部凹槽12环绕在电极头凹槽11的四周。
[0046] 优选地，电极头凹槽11呈V型凹槽或U型凹槽。窗口孔20分别在电极头凹槽11的两侧壁面上和/或底部壁面上。
[0047] 其中，电极头凹槽11的两侧壁面上设置两个或多个窗口孔20，底部壁面上设置有一个窗口孔20，或者底部壁面上没有设置窗口孔20。
[0048] 本实施例中，电极头凹槽11的两侧壁面上分别设置一个窗口孔20(如图1所示)，底部壁面上设置一个窗口孔20。
[0049] 优选地，顶部凹槽12位于电极头凹槽11的顶端部，此处顶部凹槽12优选地呈球形或圆锥形。电极头凹槽11的底部优选地设置为底部圆角过渡结构13。
[0050] 此处，电极头凹槽11的顶部开口呈一字型。
[0051] 所述电极头的非被测流体的一侧设置有多个镜片30；光源射出入射光，经过镜片30，再通过反射镜50由通光窗21射出，射向被测流体；被测流体的出射光由通光窗21射入再经过反射镜50等被检测。
[0052] 实施例二：
[0053] 图4为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例二的立体图。图5为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例二结构与光源的角度示意图。图6为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例三的立体图。如图4和图5所示，本实用新型公开了一种通过光电方法测量流体特性的电极头，其包括电极头窗口座
10和一个或多个通光窗21，通光窗21设置在电极头窗口座10的窗口孔20上，通光窗21由透明材料制成，电极头窗口座10被测流体一侧的端面上开设有电极头凹槽11和顶部凹槽12，顶部凹槽12环绕在电极头凹槽11的四周。
[0054] 优选地，电极头凹槽11呈V型凹槽或U型凹槽。窗口孔20分别在电极头凹槽11的两侧壁面上和/或底部壁面上。其中，电极头凹槽11的两侧壁面上设置两个或多个窗口孔20，底部壁面上设置有一个窗口孔20，或者底部壁面上没有设置窗口孔20。
[0055] 本实施例中，电极头凹槽11的一侧壁面上设置有两个窗口孔20(如图4所示)，另一侧壁面上设置有一个窗口孔20(图中未示)，底部壁面上设有一个窗口孔20。
[0056] 优选地，顶部凹槽12位于电极头凹槽11的顶端部，此处顶部凹槽12优选地呈球形或圆锥形。电极头凹槽11的底部优选地设置为底部圆角过渡结构13。
[0057] 此处，电极头凹槽11的顶部开口呈一字型。
[0058] 电极头窗口座10的内侧设置有多个镜片30，光源40射出入射光，经过镜片30，再通过反射经由通光窗21射出，射向被测流体；被测流体的出射光由通光窗21射入再经过反射镜50等被检测。
[0059] 实施例三：
[0060] 图6为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例三的立体图。图7为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例三结构与光源的角度示意图。图8为本实用新型通过光电方法测量流体特性的电极头的实施例三的仰视图。如图6至图8所示，本实用新型公开了一种通过光电方法测量流体特性的电极头，其包括电极头窗口座
10和一个或多个通光窗21，通光窗21设置在电极头窗口座10的窗口孔20上，通光窗21由透明材料制成，电极头窗口座10被测流体一侧的端面上开设有电极头凹槽11和顶部凹槽12，顶部凹槽12环绕在电极头凹槽11的四周。
[0061] 优选地，电极头凹槽11呈V型凹槽。窗口孔20分别在电极头凹槽11的两侧壁面上和/或底部壁面上。
[0062] 其中，电极头凹槽11的两侧壁面上设置两个或多个窗口孔20，底部壁面上设置有一个窗口孔20，或者底部壁面上没有设置窗口孔20。
[0063] 本实施例中，电极头凹槽11的一侧壁面上设置有两个窗口孔20(如图6所示)，另一侧壁面上设置有一个窗口孔20(图中未示)，底部壁面上设置一个窗口孔20。电极头凹槽11的一侧壁面优选为平面、斜面或折弯面。
[0064] 进一步地，本实施例在上述结构的基础上，将电极头凹槽11的一侧壁面设置为平面、斜面或折弯面。可以提升光传输的散射、透射及消杂散光等效果。
[0065] 优选地，顶部凹槽12位于电极头凹槽11的顶端部，此处顶部凹槽12优选地呈球形或圆锥形。电极头凹槽11的底部优选地设置为底部圆角过渡结构13。
[0066] 此处，电极头凹槽11的顶部开口呈一字型。
[0067] 电极头窗口座10的内侧设置有多个镜片30，光源40射出入射光，经过镜片30，再通过反射经由通光窗21射出。
[0068] 根据上述实施例一至实施例三的结构描述，本实用新型电极头，在电极头的中心处设计U型凹槽结构，并在凹槽两侧和底部加工通光窗，电极头凹槽顶部再设计顶部凹槽(例如球形或圆锥形)。这种结构可以有效地促进被测流体在凹槽内及附近的流动，不利于气泡产生或气泡停留，可以显著提高流体特性的测量精度。
[0069] 同时，通光窗21的布局有足够空间加工拐角处圆角，提升产品卫生型。若去除该结构U型槽内的中间光窗，成本降到，适用于不需要中间光窗的产品，例如不需要测量90度散射角浊度特性的产品。此外，两侧光窗的斜度和左侧右侧窗口数量的增加，在适当增加成本和复杂度的情况下，可以提升光传输过程的散射、透射及消杂散光的效果，提高测量精度。
[0070] 虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式作出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
