[0001] 本发明涉及测试装置技术领域，具体而言，涉及一种测试头结构及具有其的测试装置。

[0002] 目前，IO模组(输入输出模组)是机床控制系统中的输入输出模块。在现代的工业机床或者自动化产线中，IO模组是连接控制系统和外设的重要部分，其实现了控制系统与外围设备信息交互与控制功能，IO模组是机床系统与外围设备的桥梁。IO模组的输入输出端子绝大部分使用的都是螺钉式的接线端子，因为这种端子稳固可靠，具有优良的电气特性，并且易于维护。

[0003] 然而，在对IO模组进行质量检查与功能验证时，由于端子数量众多，采用接线的方式将端子的信号进行引出的这种测试方法效率较低。在IO模组进行筛选和功能验证时有些时候需要重复地对每块IO模组进行重新接线，但是接线步骤较为繁琐，导致难以实现对所有的输入输出端子进行快速的插拔和信号引出，影响了测试的效率。

[0061] 需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

[0062] 如图1至图3所示，本发明的实施例一提供了一种测试头结构4，测试头结构4包括连接组件10和抵推结构20。连接组件10包括相互连接的第一连接件11和第二连接件12。抵推结构20的至少部分用于与连接组件10连接，抵推结构20的抵推端与第一连接件11相对设置，抵推结构20沿第一方向可移动地设置，以靠近或远离第一连接件11并带动第一连接件11运动；连接组件10相对于抵推结构20沿第二方向可移动地设置，以使第二连接件12靠近或远离抵推结构20，以使连接组件10运动至与待测试端口1的大小适配的插接位置。

[0063] 采用本发明的实施例一提供的测试头结构4，通过抵推结构20的移动能够快速插拔测试头结构4，精准地控制第一连接件11和第二连接件12与待测试端口1的接触力，确保在测试过程中，连接组件10能够快速与待测试端口1形成稳定且紧密的电接触，从而提高信号传输的准确性和测试过程的效率。抵推结构20带动第一连接件11沿第一方向运动，进而间接带动第二连接件12运动，第二连接件12在随第一连接件11运动的过程中还能够沿靠近或远离抵推结构20的方向运动，从而使第二连接件12与待测试端口1的大小适配，进而便于插入待测试端口1或从待测试端口1拔出。并且，由于连接组件10可相对于抵推结构20沿第二方向移动，测试头可以适应不同大小的待测试端口1，无需更换测试头或进行复杂的调整，提高了测试系统的灵活性和通用性，适用于多种IO模组的测试。此外，通过抵推结构20的精确控制，避免了因接触力过大或定位不准确而对IO模组的端口或测试头本身造成损伤，延长了测试头结构4的使用寿命，降低了测试成本。测试头的这种可移动设计和自动抵推功能，使其能够轻松集成到自动化测试系统中，实现快速、批量的IO模组测试，适合于生产线上的质量控制和功能验证。因此，通过本实施例提供的测试头结构，能够解决现有技术中的测试头结构不便于快速进行插拔的技术问题。

[0064] 具体而言，在测试头结构4的插入过程中，当测试头结构4处于未插入状态，此时第一连接件11和第二连接件12保持静止，第一连接件11与待测试端口1之间保持一定的距离，第二连接件12与待测试端口1之间保持一定的距离，抵推结构20与第一连接件11未接触。当测试头结构4开始接近待测试端口1时，抵推结构20的抵推端对准第一连接件11，准备进行抵推动作。此时，测试头结构4与待测试端口1之间没有建立电连接。随着测试头结构4进一步推进，抵推结构20沿第一方向移动，逐渐靠近第一连接件11，对第一连接件11施加抵推力。第一连接件11在抵推力的作用下，开始向待测试端口1的内端壁方向移动。接着，第二连接件12沿靠近抵推结构20的方向运动，直至第二连接件12的至少部分进入待测试端口1内并与待测试端口1的内周壁接触。最后，第一连接件11与待测试端口1的内端壁形成紧密接触。此时，测试头结构4与待测试端口1建立了稳定的电连接，可以进行信号的传输和检测。在测试头结构4的拔出过程中，抵推结构20沿第一方向远离待测试端口1移动，由于抵推结构20的至少部分与连接组件10连接，进而带动连接组件10沿第一方向远离待测试端口1移动，由于连接组件10与待测试端口1的内壁之间的摩擦较小，从而能够快速从待测试端口1中拔出。

[0065] 具体地，“与待测试端口1的大小适配的插接位置”指的是连接组件10的至少部分与待测试端口1的内壁相接触的位置。

[0066] 优选地，“与待测试端口1的大小适配的插接位置”指的是第一连接件11与待测试端口1的内端壁相接触、第二连接件12与待测试端口1的内周壁相接触的位置。这样能够更好地保证连接的稳定性。

[0067] 具体地，抵推结构20的至少部分还用于与连接组件10电连接。采用这样的结构设置，能够使得抵推结构20不仅在机械上推动第一连接件11，还在电路上与连接组件10形成连接，确保了测试信号能够在连接组件10和抵推结构20之间相互传输，进而与待测试端口1建立通信，提高了测试系统的集成度和信号传输的效率。

[0068] 具体地，连接组件10由导电材质制成。具体地，连接组件10为金属件。采用这样的结构设置，金属件的使用能够确保连接组件10具有良好的导电性能，有利于信号的高效传输，同时金属材质的高强度和耐磨损特性也保证了连接组件10的可靠性和耐用性，降低了测试中因接触不良导致的误差。

[0069] 具体地，抵推结构20沿第一方向延伸设置。这种设计确保了抵推动作能够精准地施加在第一连接件11上，有利于控制抵推结构20的抵推端和第一连接件11之间的接触压力，保证了稳固且可靠的接触，有助于提高信号传输的稳定性和测试的准确率。

[0070] 具体地，第一方向和第二方向相互垂直。这种相互垂直的运动设计，使得连接组件10和抵推结构20能够独立地在两个方向上移动，既保证了测试头结构4与待测试端口1的适配性，又使得抵推和拔出的动作更加顺畅和可控，提高了测试头结构4的灵活性和操作效率。

[0071] 具体地，第一连接件11和第二连接件12相互垂直设置。采用这样的结构设置，垂直设置的第一连接件11和第二连接件12能够确保在插入待测试端口1时，两个连接件分别与端口的内端壁和内周壁形成稳定且均匀的接触，避免了因接触角度不当导致的接触不良，增强了电连接的可靠性。

[0072] 具体地，待测试端口1为方形口。

[0073] 具体地，抵推结构20包括电路板21，电路板21形成抵推结构20的至少部分。采用这样的结构设置，电路板21作为抵推结构20的一部分，不仅提供了信号传输的路径，还能够实现复杂的电子控制和信号处理功能，使得测试头结构4的功能更加全面，能够适应不同类型的待测试端口1，增强了测试装置2的通用性和智能化水平。

[0074] 具体地，电路板21为PCB板(印制电路板)。PCB板具有良好的电路布线性能、高稳定性以及大规模生产时的低成本，能够确保在测试过程中信号传输的稳定性和准确性，同时PCB板易于维护和更换，降低了长期使用过程中的维护成本。

[0075] 在本实施例中，抵推结构20还包括缓冲件22，缓冲件22设置在电路板21的靠近第一连接件11的一端；缓冲件22形成抵推结构20的抵推端。其中，缓冲件22为橡胶件。采用这样的结构设置，使用橡胶作为缓冲件22，能够有效吸收和分散抵推过程中的冲击力，防止电路板21和第一连接件11在快速接触时受到损伤，保护了测试头结构4和待测试端口1，延长了测试头结构4的使用寿命。橡胶的弹性特性还确保了第一连接件11在插入待测试端口1时能够形成良好且稳定的接触，提高了电连接的可靠性。

[0076] 具体地，抵推结构20还包括缓冲件22，缓冲件22设置在电路板21的靠近第一连接件11的一端；缓冲件22形成抵推结构20的抵推端。其中，缓冲件22凸出于电路板21的两侧设置。采用这样的结构设置，缓冲件22的这种凸出设置，增加了其与第一连接件11接触面积，使得在抵推过程中，压力分布更加均匀，避免了局部过大的压力可能对测试头结构4造成的损害。同时，这种设计还能够更好地适应不同尺寸的待测试端口1，增强测试头结构4的通用性。

[0077] 具体地，缓冲件22沿第二方向延伸设置。采用这样的结构设置，缓冲件22沿第二方向的延伸，确保了其在抵推过程中能够提供持续的、方向正确的缓冲力，有助于第一连接件11平稳地移动至与待测试端口1内端壁接触的位置，避免了因偏移或倾斜导致的接触不良。
这种设计还使得缓冲件22能够更好地适应待测试端口1的高度(待测试端口1沿第二方向上的高度)，确保了即使在端口高度略有变化时，也能实现稳定的接触和信号传输。

[0078] 具体地，测试头结构4还包括弹性件30。其中，弹性件30的一端与电路板21连接，弹性件30的另一端与第二连接件12连接。采用这样的结构设置，确保了第二连接件12能够平稳地与待测试端口1的内周壁建立稳固的电连接。弹性件30在测试头插入和拔出过程中起到关键的支撑和缓冲作用，它使得第二连接件12能够在不同高度的端口内稳定接触，同时在拔出时提供恢复力，避免了机械部件的硬性碰撞，保护了电路板21和第二连接件12，延长了测试头结构4的使用寿命。

[0079] 具体地，在测试头结构4的插入过程中，抵推结构20沿第一方向移动，逐渐靠近第一连接件11，对第一连接件11施加抵推力。第一连接件11在抵推力的作用下，开始向待测试端口1的内端壁方向移动。接着，抵推结构20带动第二连接件12沿第一方向移动，第二连接件12在弹性件30的作用下沿靠近抵推结构20的方向运动，直至第二连接件12的至少部分进入待测试端口1内并与待测试端口1的内周壁接触。在测试头结构4的拔出过程中，抵推结构20沿第一方向远离待测试端口1移动，抵推结构20带动弹性件30移动，弹性件30带动第二连接件12移动，由于连接组件10与待测试端口1的内壁之间的摩擦较小，从而能够快速从待测试端口1中拔出。

[0080] 具体地，测试头结构4还包括弹性件30。其中，弹性件30由导电材质制成。采用这样的结构设置，弹性件30使用导电材质制成，使得它不仅具有机械弹性功能，还能作为信号传输的路径，减少了测试头结构4内部的导线连接，简化了结构，降低了信号传输过程中的干扰和衰减，提高了信号传输的准确性和稳定性。这种集成化设计在需要高频率、快速测试的场景中尤为重要，有助于提高测试效率。

[0081] 具体地，弹性件30为金属弹性件。这样，金属弹性件的使用结合了金属优秀的导电性和弹性材料的机械性能，能够在实现信号传输的同时，确保在插入和拔出过程中对第二连接件12提供精确的弹力，保证了接触的可靠性和信号传输的连续性。金属弹性件的高耐用性和强度也进一步延长了测试头的使用周期，减少了维护需求。

[0082] 具体地，测试头结构4还包括弹性件30。其中，弹性件30为弹簧结构。弹簧结构具有良好的弹性和恢复力，能够确保第二连接件12在各种高度的待测试端口1内都能与待测试端口1的内周壁保持稳定的接触，同时在拔出过程中提供快速恢复原位的能力，避免了残留应力对测试头结构4的潜在损害。弹簧的设计还能够适应端口形状的微小变化，提高了测试夹具的通用性和适应性。

[0083] 具体地，连接组件10靠近待测试端口1的一侧为光滑面。采用这样的结构设置，光滑面的设计减少了连接组件10与待测试端口1之间的摩擦，使得测试头结构4在插入和拔出过程中更加顺畅，避免了因摩擦阻力过大导致的机械磨损和操作困难。此外，光滑面还有助于提高测试头结构4的清洁度，防止灰尘和杂质在接触面上积累，影响电接触的质量，从而确保了测试信号的准确性和测试结果的可靠性。

[0084] 在本实施例中，连接组件10为至少两个，至少两个连接组件10中的一个和另一个相对且间隔设置，抵推结构20位于至少两个连接组件10中的一个和另一个之间。采用这样的结构设置，能够形成一个稳定的测试头结构4，使得抵推结构20在推动连接组件10时，连接组件10可以保持在待测试端口1的两侧，从而确保了测试头结构4插入时的垂直度和准确性。两个相对设置的连接组件10形成了一个定位框架，能够更好地适应不同尺寸的待测试端口1，提高了测试头结构4的灵活性和适应性，同时减少了插入时可能产生的偏差，提高了测试的准确性和效率。

[0085] 具体地，至少两个连接组件10中的一个和另一个沿第一方向间隔设置。采用这样的结构设置，确保了即使在面对不同大小的待测试端口1时，连接组件10也能够精准地与待测试端口1对齐，减少了因位置调整而浪费的时间，提高了测试的便利性和速度。同时，这种设计还能确保在插入过程中，连接组件10之间不会相互干扰，进一步提高了测试的可靠性。

[0086] 具体地，连接组件10还包括过渡件13，过渡件13的一端与第一连接件11连接，过渡件13的另一端与第二连接件12连接；过渡件13的延伸方向与待测试端口1的周壁呈预设角度设置，预设角度大于0°、且小于90°。其中，连接组件10具有使过渡件13与待测试端口1的周缘相对设置的初始位置。采用这样的结构设置，确保了第一连接件11和第二连接件12之间的平稳过渡，使得测试头结构4在插入待测试端口1时，能够按照预设角度接触待测试端口1，避免了硬性接触可能引起的测试头结构4的损坏。预设角度的选择使得测试头结构4能够适应不同类型的待测试端口1，提高了测试夹具的通用性，同时，过渡件13的设计还优化了内部信号传输路径，减少了信号在传输过程中的衰减和干扰，提高了测试的准确性和效率。

[0087] 具体地，在测试头结构4推进待测试端口1时，首先，由于过渡件13与待测试端口1的周缘的接触，连接组件10会受到一个向PCB板收缩的一个压力，同时抵推结构20的抵推端会抵住第一连接件11向待测试端口1里面靠近，弹性件30会受到压缩，第二连接件12靠近PCB板运动，当把测试头结构4都完全推进待测试端口1后，第一连接件11会由于缓冲件22的抵压与待测试端口1的内端壁进行接触，第二连接件12由于弹性件30的弹力作用也能很好的与待测试端口1的内周壁接触，并且保持一定张力使得测试头结构4和待测试端口1之间不容易松开掉落，连接组件10与待测试端口1接触后，通过导电的弹性件30与PCB板建立电连接，通过这种结构可以快速的对待测试端口1进行电连接，无需上下拧动或者固定住接线，可以提高测试效率。

[0088] 如图2所示，当连接组件10处于初始位置时，过渡件13与待测试端口1的周缘相对设置。图2中的箭头分别指示出了第一连接件11和过渡件13的移动方向。如图3所示，当连接组件10处于插接位置时，第一连接件11与待测试端口1的内端壁相接触、第二连接件12与待测试端口1的内周壁在弹性件30的弹性力作用下相抵接。图3中的箭头指示出了第二连接件12所受到的弹性件30的弹力的方向。

[0089] 在实施例二中，测试头结构4还包括固定连接组件，固定连接组件与抵推结构20固定连接，连接组件10和固定连接组件相对且间隔设置，抵推结构20位于连接组件10和固定连接组件之间。采用这样的结构设置，增加了测试头结构4的稳定性，能够更精确地控制第一连接件11和第二连接件12的运动，提高与待测试端口1之间的接触质量和信号传输的可靠性。同时，连接组件10和固定连接组件的相对间隔设置，形成了一个稳定的夹持空间，可以适应更广泛尺寸的待测试端口1，提高了测试头的通用性和灵活性，有助于提升测试效率。

[0090] 具体地，连接组件10和固定连接组件沿第一方向间隔设置。采用这样的结构设置，沿第一方向的间隔设置，确保了连接组件10和固定连接组件在插入待测试端口1时，能够提供足够的支撑和定位，避免了因位置不稳定导致的接触不良或信号传输中断。这种设计还有助于简化测试头结构4的插入操作，通过沿第一方向的精准定位，可以快速实现与待测试端口1的稳定连接，从而提高了测试的准确性和速度。

[0091] 如图4所示，本发明的实施例三提供了一种测试装置2，测试装置2包括实施例一或实施例二中提供的测试头结构4。

[0092] 采用本发明的实施例三提供的测试装置2，通过抵推结构20的移动能够快速插拔测试头结构4，精准地控制第一连接件11和第二连接件12与待测试端口1的接触力，确保在测试过程中，连接组件10能够快速与待测试端口1形成稳定且紧密的电接触，从而提高信号传输的准确性和测试过程的效率。抵推结构20带动第一连接件11沿第一方向运动，进而间接带动第二连接件12运动，第二连接件12在随第一连接件11运动的过程中还能够沿靠近或远离抵推结构20的方向运动，从而使第二连接件12与待测试端口1的大小适配，进而便于插入待测试端口1或从待测试端口1拔出。并且，由于连接组件10可相对于抵推结构20沿第二方向移动，测试头可以适应不同大小的待测试端口1，无需更换测试头或进行复杂的调整，提高了测试系统的灵活性和通用性，适用于多种IO模组的测试。此外，通过抵推结构20的精确控制，避免了因接触力过大或定位不准确而对IO模组的端口或测试头本身造成损伤，延长了测试头结构4的使用寿命，降低了测试成本。测试头的这种可移动设计和自动抵推功能，使其能够轻松集成到自动化测试系统中，实现快速、批量的IO模组测试，适合于生产线上的质量控制和功能验证。因此，通过本实施例提供的测试装置，能够解决现有技术中的测试头结构不便于快速进行插拔的技术问题。

[0093] 具体地，测试头结构4为多个，多个测试头结构4相互间隔设置。这样，使得测试装置2能够同时对多个待测试端口1进行测试，极大地提高了测试效率。多个测试头结构4相互间隔，确保了每个测试头在插入和拔出时不会相互干扰，减少了测试过程中的机械误差，提高了测试的准确性和可重复性。

[0094] 具体地，测试头结构4包括第一测试头41和第二测试头42；第一测试头41用于与待测试模组3的输出端1000连接，第二测试头42用于与待测试模组3的输入端1100连接。测试装置2还包括控制模块100、输入模块和输出模块。控制模块100用于产生测试电信号和接收待测试模组3发出的电信号，并比较测试电信号和待测试模组3发出的电信号。输入模块与控制模块100电连接；输入模块用于与第一测试头41电连接，以向控制模块100传输第一测试头41所接收到的待测试模组3的待测试端口1发出的电信号。输出模块与控制模块100电连接；输出模块用于与第二测试头42电连接，以向待测试端口1传输控制模块100产生的电信号。采用这样的结构设置，第一测试头41和第二测试头42的区分使用，使得测试装置2能够独立地测试待测试模组3的输入和输出功能，通过控制模块100产生的测试电信号与待测试模组3发出的电信号的比较，能够快速准确地识别出模组的故障点，提高了故障诊断的效率和准确性。输入模块和输出模块的设计，实现了测试电信号的高效传输和处理，确保了信号的完整性和稳定性。这样的设置能够在测试装置2中形成测试电路循环，提高测试效率。

[0095] 具体地，输入模块包括相互连接的信号输入电路200和输入排线端子300；信号输入电路200与控制模块100电连接，输入排线端子300用于与第一测试头41连接；信号输入电路200用于对输入排线端子300输出的电流进行调压处理。采用这样的结构设置，信号输入电路200的调压处理确保了待测试模组3的输出信号在传输至控制模块100时能够适应控制模块100的输入电压要求，避免了因电压不匹配导致的信号失真或设备损伤。同时，调压电路的设计还能够有效隔离噪声，提高信号的纯净度，从而提高了测试结果的可靠性。

[0096] 具体地，输出模块包括相互连接的输出驱动电路400和输出排线端子500；输出驱动电路400与控制模块100电连接，输出排线端子500用于与第二测试头42连接；输出驱动电路400用于对控制模块100输出的电流进行调压处理。采用这样的结构设置，输出驱动电路400的调压处理确保了控制模块100产生的测试电信号在传输至待测试模组3时能够满足其输入电压要求，避免了因电压不匹配导致的信号传输失败或设备损坏。这种设计还能够提供足够的驱动能力，确保信号能够有效地激活模组的输入端1100，提高了测试的准确性和效率。

[0097] 在实施例三中，测试装置2还包括通信接口电路600，输出模块和输入模块均与通信接口电路600连接，通信接口电路600用于向待测试模组3发出通信信号和接收待测试模组3发出的通信信号。采用这样的结构设置，通信接口电路600的加入使得测试装置2能够与待测试模组3进行双向数据通信，从而能够检测其通信能力，实现了全面的测试覆盖，提高了故障诊断的完整性和准确性。

[0098] 具体地，控制模块100为微控制器，微控制器主要由STM32F103VCT6单片机及其外围电路组成。输出驱动电路400由三极管控制电路组成，其作用是利用微控制器产生的3.3V信号控制24V信号开关，驱动IO模组上的继电器或者其他类型的开关。信号输入电路200主要由光耦隔离电路组成，其作用是将24V的输入信号通过光耦隔离，并输出3.3V的信号。通信接口电路600主要由各种类型的通信电路组成，主要取决于模组的通信方式，如Ethercat、RS232、TTL电平等。

[0099] 具体地，测试装置2还包括警报器模块700，警报器模块700与控制模块100电连接，警报器模块700用于发出警报声。这样，警报器模块700的使用为操作者提供了直观的故障反馈，当检测到模组异常时，警报声可以立即提醒操作者，使得故障能够被及时发现和处理，避免了因为忽略或误判导致的进一步测试延误，提高了工作效率。

[0100] 具体地，警报器模块700为蜂鸣器警报电路，蜂鸣器警报电路用于当IO模组测试存在异常的时候，发出警报响声。

[0101] 具体地，测试装置2还包括指示灯模块800，指示灯模块800与控制模块100电连接，指示灯模块800用于指示测试装置2的运行状态和测试结果。这样，指示灯模块800的设置提供了可视化的运行状态和测试结果反馈，操作者可以通过观察指示灯的变化快速了解测试装置2的工作情况和测试结果，简化了操作流程，减少了对测试结果的主观判断，提高了测试的客观性和便捷性。

[0102] 具体地，指示灯模块800为指示灯电路，指示灯电路指示的是测试装置2的运行状态、测试装置2与IO模组的通信状态、测试结果等。

[0103] 具体地，当测试头结构4连接上IO模组的待测试端口1后，便可以开始IO模组的测试，测试主要分为IO模组的通信、输出与输入三部分。

[0104] 在通信测试中，IO模组的通信方式存在多种，例如串口通信(RS‑232/RS‑485)、USB、Ethernet、Modbus、CAN总线、Profibus总线等。在以Ethercat为通信方式的通信测试中，当测试装置2的通信接口电路600无法与IO模组的通信端口900建立起通信时，故表述IO模组的通信模块存在异常，测试装置2发出警报信息，并且指示灯电路显示通信异常状态。当IO模组采用的是通过排线或其他导线与上层控制装置直接进行电连接的情况下，通信测试只有电信号的连接，不涉及通信协议和数据的转换。

[0105] 在模组输出信号的测试中，测试装置2向IO模组发送输出控制信号，IO模组接收到输出控制信号后会输出信号，输出信号经过输出端1000传输至测试头结构4，进而连接至测试装置2的输入排线端子300，进行一个数据的返回测试，数据先经过信号输入电路200进行降压，将IO模组输出的数据降至芯片(相当于控制模块100)可以接收的3.3V电平，并且通过信号输入电路200排除不满足IO模组输出电平的数据，测试装置2的微控制器与发出的测试信号进行对比，若对比有误，例如存在IO模组输出信号缺失或者是电平输出没有达到IO模组的正常输出电平，则发出警报信息，若通过，则IO模组输出测试验证合格，指示灯指示为输出测试合格。

[0106] 在模组输入信号的测试中，测试装置2向输出驱动电路400发出控制信号，输出驱动电路400会将微控制器的3.3V电平转换为IO模组的输入电平，输入电平通过输出排线端子500和排线连接至测试头结构4中，测试头结构4连接到IO模组的输入端1100的接口端子，IO模组输入端1100端子检测到外部电平的变化，就通过输出端1000连接到测试装置2，经过测试装置2的信号输入电路200转换电平后，将数据连接到微控制器进行对比，若对比有误，则发出警报信息，指示灯指示为测试不合格，若通过，则IO模组输入测试验证合格，指示灯指示为输入测试合格。

[0107] 从以上的描述中，可以看出，本发明上述的实施例实现了如下技术效果：通过与测试头结构的连接进行输入输出信号的模拟，能够快速地验证IO模组所有输入输出端口是否存在异常，提高了测试效率。通过测试头结构的设计实现了快速对所有的输入输出端子进行插拔和信号的引出，提高了测试效率。

[0108] 需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

[0109] 除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本申请的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

[0110] 在本申请的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

[0111] 为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

[0112] 此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。

[0113] 以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。