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一种微小物体和曲面物体的反射率和透射率测试设备实质审查 发明

技术领域

[0001] 发明涉及测试设备技术领域,尤其是一种微小物体和曲面物体的反射率和透射率测试设备。

相关背景技术

[0002] 反射率是物体反射的辐射能量占总辐射能量的百分比,透射率是透过物体后的光通量与入射光通量之比,反射率和透射率是描述某种物质表面特质的重要物理量指标。反射率和透射率之间存在一定的相互关系,微小物体和曲面物体的反射率和透射率受到多种因素的影响例如物体表面状况、入射角度等因素,因此对于微小物体和曲面物体的反射率和透射率的测试需要使用多种专业的仪器进行测量,因此导致测量工作繁琐。
[0003] 中国专利文献(公布号:CN215727697U、专利名称:一种棱镜测试治具及光谱仪)公开的技术内容是:本实用新型公开了一种棱镜测试治具及光谱仪,涉及棱镜测试技术领域,解决了相关技术中的测试设备无法对棱镜的反射率和透射率进行测试的技术问题。该棱镜测试治具包括棱镜、载具与至少两个反射镜,棱镜的射入光束与射出光束之间具有角度α,载具包括可转动的调整件,载具用于搭载棱镜,调整件调整角度α,至少两个反射镜设置于载具,棱镜的射出光束依次经过至少两个反射镜的反射后,沿与棱镜射入光束共线并且相同的方向射出。本实用新型通过至少两个反射镜,能够将载具上棱镜的射出光束恢复至与射入光束共线并且方向相同的位置,从而使原本仅能够测试共线光路产品反射率和透射率的测试设备,也能够适用于棱镜的反射率和透射率测试。从上述实施方案可知,该光谱仪只能用于测试棱镜的反射率和透射率,因此测试的范围十分局限,当需要测试物件的曲面的时候,则需要配合其他测试仪进行使用,因此会导致测试工作十分繁琐。

具体实施方式

以下结合附图对发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释发明,并不用于限定发明。
[0018] 如图1至14所示,一种微小物体和曲面物体的反射率和透射率测试设备,包括载物台307,载物台307下方设置有积分球405,载物台307的上方设置有显微物镜5031,显微物镜5031的上方从下往上依次设置有半反半透平面镜5023、第七镜片5025、第八镜片5024、分光棱镜5022、相机5015;分光棱镜5022的一侧设置有第一光纤5045;半反半透平面镜5023的一侧设置有平行光管组件505,平行光管组件505包括第二光纤5050以及镜片组5053,镜片组
5053位于半反半透平面镜5023以及第二光纤5050之间;载物台307和积分球405能在Z轴方向进行调节,载物台307还能在X轴、Y轴方向进行调节,载物台307还能在θ轴进行角度调节;
相机5015能在Z轴方向进行调节。
[0019] 第二光纤5050是入射光通量,光束通过第二光纤5050水平向镜片组5053发出,镜片组5053包括第一镜片50531、第二镜片50532、第三镜片50533、第四镜片50534,镜片组5053与半反半透平面镜5023之间还设置有第五镜片5055和第六镜片5056;镜片组5053与第五镜片5055之间设置有视场光阑。经过镜片组5053,将光束范围放大,再通过半反半透平面镜5023将光向下折射,再通过显微物镜5031照射在载物台307上的被检测物体上,部分反射光束由被检测物体表面反射而向上返回,另一部分透射光束通过被检测物体进入到载物台
307下方的积分球405,向上返回的反射光束向上通过半反半透平面镜5023,经过第七镜片
5025、第八镜片5024,再通过分光棱镜5022之后,被分光棱镜5022分散,其中一部分光束向第一光纤5045的方向折射,第一光纤5045入口处设置有光纤口光阑,光束通过第一光纤
5045的光纤口光阑进入第一光纤5045,另一部分光束向上进入相机5015,通过相机5015来观察被检测物体的检测位置是否与光路中心重合,如果检测位置不重合,可调节载物台307在X轴、Y轴的位置,如果光点模糊不清,可自动调节载物台307在Z轴的位置和在θ轴角度,进入第一光纤5045的光束,可计算出被检测物体的反射光的光通量,而进入积分球405的光束,可计算出透过被检测物体的光通量,最终计算出被检测物体的反射率和透射率,因此该设备能够根据物体大小及其曲面状况来自动调节并最终检测物体的反射率和透射率,相比于传统的需要多个设备对曲面物体及微小物体进行多角度测量才能得出被检测物体的反射率和透射率来说,本发明的测试设备使用方便,提高了使用者的工作效率。
[0020] 载物台307设置于载物调节组件3上,积分球405设置于积分球调节组件4上,载物调节组件3以及积分球调节组件4均连接于Z轴升降板202上,Z轴升降板202设置于在Z轴升降组件2中;Z轴升降组件2设置于测试仪壳体1内,Z轴升降组件2包括Z轴升降滑轨201,Z轴升降板202与Z轴升降滑轨201滑动连接;Z轴升降滑轨201上方设置有Z轴升降驱动电机203,Z轴升降驱动电机203连接Z轴升降螺杆204,Z轴升降板202与Z轴升降螺杆204螺纹连接,因此Z轴升降驱动电机203能驱动Z轴升降板202进行升降,从而使得载物调节组件3以及积分球调节组件4能在Z轴的方向上进行调节。
[0021] 载物调节组件3包括X轴调节模组301以及Y轴调节模组302,X轴调节模组301与Y轴调节模组302垂直设置且结构相同;X轴调节模组301包括X轴调节底座3011,X轴调节底座3011上滑动连接有X轴调节移动块3014,X轴调节底座3011的一端设置有X轴调节电机3012,X轴调节电机3012连接X轴调节丝杆3013,X轴调节丝杆3013与X轴调节移动块3014螺纹连接;Y轴调节模组302连接于X轴调节移动块3014上,Y轴调节模组302上方设置有θ轴调节电机303,θ轴调节电机303连接θ轴摆动板304,载物台307连接于θ轴摆动板304远离θ轴调节电机303的一端,θ轴摆动板304靠近θ轴调节电机303的一端连接θ轴摆动感应片305,θ轴调节电机303上设置有两个角度限定感应器306,θ轴摆动感应片305在两个角度限定感应器306之间摆动;因此载物台307除了能在Z轴的方向上进行调节,还能在X轴、Y轴的位置上进行调节,并能通过θ轴调节电机303来实现角度的摆动,从而使得放置在载物台307上的被检测物能进行位置和角度的自动调节,相机5015通过观察被检测物体的检测位置是否与光路中心重合来将被检测物体需要调节的距离反馈给设备,最后通过Z轴升降组件2、X轴调节模组
301、Y轴调节模组302以及θ轴调节电机303来将检测物的位置调节好,调节的过程不需人工进行干预,调节的效果不依赖于人工的技能,使得每次对检测物的检测更加准确和快速。
[0022] 载物台307上设置有夹物片308,夹物片308是有弹性的钢片,夹物片308与载物台307转动连接,载物台307的中设置有透光孔3071,被检测物被放置在载物台307上后,光线可穿过被检测物和透光孔3071到达积分球405处,夹物片308转动到被检测物上方之后,由于夹物片308具有弹性,可将被检测物夹物片308夹持在载物台307上。
[0023] 载物台307上方设置有检测分析组件5,检测分析组件5包括相机调整组件501,相机调整组件501下方设置有检测切换组件502,检测切换组件502下方设置有显微物镜旋转环503,检测切换组件502与显微物镜旋转环503通过显微物镜组连接座5026进行连接,若干个显微物镜5031连接于显微物镜旋转环503下端,通过转动显微物镜旋转环503可旋转不同的显微物镜5031来检测被检测物。
[0024] 检测切换组件502包括测试切换座5021,分光棱镜5022 两端连接第一镜座50221,半反半透平面镜5023两端连接第二镜座50231,分光棱镜5022、第八镜片5024、第七镜片5025以及半反半透平面镜5023均设于测试切换座5021内部;测试切换座5021的一侧连接光纤调整组件504和平行光管组件505;测试切换座5021远离光纤调整组件504和平行光管组件505的一侧设置有防护盖50211,防护盖50211可防止其他光源进入测试切换座5021中,防止其他光线影响检测的精度。
[0025] 平行光管组件505包括连接在一起的第二光纤套筒5051以及第一光纤套筒5052,镜片组5053设置于第二光纤套筒5051内部,第五镜片5055和第六镜片5056设置于第一光纤套筒5052内部,第二光纤套筒5051远离第一光纤套筒5052的一端连接光纤固定块5057,第二光纤5050与光纤固定块5057连接。第一镜片50531与第二镜片50532贴合,第三镜片50533与第四镜片50534贴合,第二镜片50532与第三镜片50533之间设置有透镜支撑块5054,透镜支撑块5054设定了第二镜片50532与第三镜片50533之间的距离,同时也能限定光纤的光线被放大的倍数,第四镜片50534远离第三镜片50533的一端与透镜固定环5058连接;第一光纤套筒5052两端均设置有光纤套筒固定环5059。光纤调整组件504包括光纤调整连接座5041,光纤调整连接座5041连接第四位移台5042,第四位移台5042连接第五位移台5043,第五位移台5043连接第一光纤套筒5044,第一光纤5045与第一光纤套筒5044连接;第四位移台5042调节第一光纤5045在Z轴方向的位置,第五位移台5043调节第一光纤5045在X轴方向的位置,第四位移台5042与第五位移台5043都是通过手动进行调节的,可在设备使用之前用于调节设备的测试范围。
[0026] 积分球调节组件4包括积分球调节基座401,积分球调节基座401连接第一位移台402,第一位移台402连接第二位移台403,第二位移台403连接第三位移台404,积分球405连接于第三位移台404上;第一位移台402用于调节积分球405在Y轴方向上的位置,第二位移台403用于调节积分球405在X轴方向上的位置,第三位移台404用于调节积分球405在Z轴方向上的位置;积分球调节组件4还包括积分球保护罩406,第一位移台402、第二位移台403与第二位移台403都是通过手动进行调节的,可在设备使用之前用于调节设备的测试范围。
[0027] 最后应说明的是:以上仅为发明的优选实施例而已,并不用于限制发明,尽管参照实施例对发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,但是凡在发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在发明的保护范围之内。

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