技术领域
[0001] 本发明涉及材料性能测试技术领域,具体为一种用于电化学试样组织结构测试的夹持台。
相关背景技术
[0002] 材料的电化学性能与其表面的组织结构有关。EBSD测试可以提供关于材料组织结构的详细信息,如晶体取向及取向差、晶粒大小、位错密度、相结构等,在材料的电化学性能(如电池性能、腐蚀行为等)测试领域应用广泛。EBSD测试需要倾斜放置试样,保持试样测试表面与水平面呈70°夹角。制作电化学试样,多数需要在试样测试面的后侧焊接外引导线,之后用绝缘镶嵌材料包埋试样和焊点,制成的电化学试样大小厚度各异,并在试样后侧留有与试样连通的外引导线,用于连接电化学测试设备的电极接线。由于电化学试样通常需要重复使用,故在进行EBSD测试时,需要保留电化学试样的镶嵌材料,同时需要保留试样的外引导线。使用传统EBSD试样台和现有的EBSD试样台均无法安放电化学试样的外引导线,不能保证电化学试样表面倾斜角度为70°,也无法保证电镜试样台与电化学试样之间的导电性,因此无法进行有效的EBSD测试。且镶嵌后电化学试样重量较大,如果用传统方式,以导电胶固定试样,检测过程中试样会发生漂移,导致采集数据失败。
具体实施方式
[0045] 下面将结合实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0046] 实施例1
[0047] 如图1‑图11所示,本发明实施例提供一种用于电化学试样组织结构测试的夹持台,用于装夹薄电化学试样6,包括:
[0048] 基座1,试样底座2,夹持试样上侧的卡件3和夹持试样下侧的卡件4;
[0049] 图1中A视角的夹持台结构如图2所示,基座1的结构参见图3,所述基座1上设置有与水平面夹角70°的安装面11,所述安装面上设有试样腔111,所述试样腔111两侧靠近安装面11的位置设有可选的定位螺孔12,便于使用紧定螺钉121固定电化学试样6,所述试样腔111一侧设有定位螺孔12,便于使用紧定螺钉121固定试样底座2,所述试样腔111下表面设有定位螺孔12,便于使用紧定螺钉121调节和固定夹持试样下侧的卡件4的位置,所述试样腔111两侧设有内凹弧面导槽1111,图3中B处为所述内凹弧面导槽1111,图4为图3中B处的局部放大图。
[0050] 试样底座2结构参见图5,从图5中C视角所见试样底座2结构参见图6,所述试样底座2前侧设有直角槽21,所述直角槽中间设有通孔211,试样底座2后侧设有导线插孔22,导线插孔22上方设有定位螺孔221,用于旋入紧定螺钉固定插入的导线。
[0051] 夹持试样上侧的卡件3结构参见图7,从图7中D视角所见的夹持试样上侧的卡件3结构参见图8,所述夹持试样上侧的卡件3设有与夹持试样上侧的卡件的上表面31平行的夹持试样上侧的卡件的平台32,以及与所述夹持试样上侧的卡件的平台32上表面成锐角的夹持试样上侧的卡件的倾斜夹持面33。
[0052] 夹持试样下侧的卡件4结构参见图9,从图9中E视角所见的卡件4结构参见图10,所述夹持试样下侧的卡件4设有与试样腔111下侧定位螺孔12同轴的夹持试样下侧的卡件的定位圆孔42、与夹持试样下侧的卡件的上表面41平行的夹持试样下侧的卡件的平台43、与所述夹持试样下侧的卡件的平台43上表面成锐角的夹持试样下侧的卡件的倾斜夹持面44,在所述夹持试样下侧的卡件的倾斜夹持面44设有夹持试样下侧的卡件的弧面凹槽441,以便夹持圆形试样。
[0053] 所述夹持试样上侧的卡件的平台32和夹持试样下侧的卡件的平台43高度相同,夹持试样上侧的卡件的倾斜夹持面33和夹持试样下侧的卡件的倾斜夹持面44高度相同;所述夹持试样上侧的卡件的平台32和夹持试样下侧的卡件的平台43可以嵌入试样底座直角槽21。
[0054] 图1的中心纵剖面图参见图11,其中夹持试样上侧的卡件3和夹持试样下侧的卡件4的长度使其倾斜时可以放入基座1的试样腔111,旋转到水平后,卡件两端的凸弧面嵌入试样腔11内凹弧面导槽1111,使卡件可以沿所述凹弧面导槽1111移动,此时夹持试样上侧的卡件的上表面31和夹持试样下侧的卡件的上表面41与基座1上设置的安装面11平行,夹持试样上侧的卡件的倾斜夹持面33与夹持试样下侧的卡件的倾斜夹持面44相对。将电化学试样6制备出一个垂直于试样测试面61的平面,安装时所述平面向上,薄电化学试样外引导线
62穿过试样底座通孔211,所述外引导线62末端插入导线插槽22,用紧定螺钉旋入定位螺孔
221固定外引导线。将连接好的电化学试样6和试样底座2从试样腔111后侧插入,令试样底座2的直角槽21表面顶住夹持试样上侧的卡件的平台32下表面和夹持试样下侧的卡件的平台43下表面,使夹持试样上侧的卡件的上表面31及夹持试样下侧的卡件的上表面41与基座
1上设置的安装面11处于同一平面,此时夹持试样上侧的卡件3和夹持试样下侧的卡件4可以在试样底座2的直角槽21中滑动,用紧定螺钉121固定试样底座2的位置;将电化学试样6置于夹持试样上侧的卡件的平台32和夹持试样下侧的卡件的平台43上,旋入紧定螺丝121,所述紧定螺丝121顶住夹持试样下侧的卡件的定位圆孔42,使夹持试样下侧的卡件4向上移动,直至夹持试样上侧的卡件的倾斜夹持面33与夹持试样下侧的卡件的倾斜夹持面44将电化学试样6卡紧,即完成了薄电化学试样的定位和安装。
[0055] 实施例2
[0056] 本发明实施例提供一种用于电化学试样组织结构测试的夹持台,用于装夹厚电化学试样6,用于夹持厚电化学试样时的结构参见图12,图12中F视角的夹持台结构如图13所示,夹持厚电化学试样时,所用卡件与夹持薄电化学试样时不同。
[0057] 用于厚电化学试样的卡件5的结构参见图14,从图14中G视角所见用于厚电化学试样的卡件5结构参见图15,所述用于厚电化学试样的卡件5设有与试样腔下侧定位螺孔12同轴的用于厚电化学试样的卡件的定位圆孔52,与用于厚电化学试样的卡件的上表面51垂直的用于厚电化学试样的卡件的夹持面53,在所述用于厚电化学试样的卡件的夹持面53设有用于厚电化学试样的卡件的弧面凹槽531,以便夹持圆形试样,所述用于厚电化学试样的卡件5的下侧可以嵌入试样底座2的直角槽21。
[0058] 图12的中心纵剖面图参见图16,用于厚电化学试样的卡件5倾斜放入试样腔111,旋转到水平后,所述用于厚电化学试样的卡件5的两端的凸弧面嵌入凹弧面导槽1111,使用于厚电化学试样的卡件5可以沿所述凹弧面导槽1111移动;将电化学试样6制备出一个垂直于试样测试面61的平面,安装时所述平面抵住试样腔111上表面,外引导线62与试样底座2的连接方式与实施例1中相同,将连接好的电化学试样6和试样底座2从试样腔111后侧插入,令试样底座2前侧顶住电化学试样6后侧,使试样测试面61与基座1上设置的安装面11处于同一平面,用紧定螺钉121固定试样底座2的位置;旋入紧定螺丝121,所述紧定螺丝121顶住用于厚电化学试样的卡件的定位圆孔52,使用于厚电化学试样的卡件5向上移动,直至用于厚电化学试样的卡件的弧面凹槽531与试样腔111上表面将电化学试样6卡紧,即完成了厚电化学试样的定位和安装。
[0059] 本发明将电化学试样的外引导线穿过试样底座,置于夹持台后侧,有充足的空间放置外引导线,解决了由于外引导线无法放置所造成的试样测试面倾斜角无法保证的问题,且电化学外引导线与试样底座固定在一起,通过夹持台与电镜试样台连通,保证了电化学试样与电镜之间的导通,满足了EBSD测试的导电性要求,也使电化学试样可以保留外引导线和不导电的镶嵌材料,在不影响其重复使用的情况下进行EBSD测试;对于薄电化学试样,采用倾斜夹持面的夹持方式,避免触碰和破坏测试面,同时确保不同大小和形状的试样安装稳定,不会在测试过程中脱离夹持台,对于较厚的试样,使用平面夹持的方式确保试样安装稳定,上述试样夹持方式,保护了试样的测试面,解决了试样在EBSD测试中发生漂移的问题,保证了EBSD测试的稳定可靠。
[0060] 以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是在本发明的发明构思下,利用本发明说明书内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。