[0001] 本发明涉及绝缘安全技术领域，尤其涉及一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法。

[0002] 柔性透明电子器件、智能穿戴设备和柔性电子产品等领域正日益受到关注。这些新型电子器件需要具备柔性透明的特性，同时要求具有良好的绝缘性能，目前的研究技术包括柔性透明天线技术、灵敏的传感器层技术，但是这些技术存在综合检测困难，检测精度较低，不能及时发现绝缘隐患的问题。

[0003] 因此，本发明提供的一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法。

[0017] 以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

[0018] 实施例1：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，如图1所示，包括：
步骤1：获取柔性透明网状电路绝缘层的第一材料信息，对所述第一材料信息进行光学特性分析，根据光学特性分析结果选择激发光源，对所述绝缘层进行光学激发，并将激发结果成像，捕捉绝缘层的微观结构与特征，基于所述微观结构与特征确定绝缘层的第一缺陷；
步骤2：获取所述柔性透明网状电路导电层的第二材料信息，根据所述第二材料信息确定标准电磁敏感度，根据标准电磁敏感度对所述柔性透明网状电路进行电磁场测试，根据测试结果确定导电层的第二缺陷；
步骤3：根据第一缺陷与第二缺陷确定所述柔性透明网状电路的绝缘安全情况。

[0019] 该实施例中，第一材料信息包括基础属性、化学成分、物理特性与光学特性等。

[0020] 该实施例中，光学特性分析的过程包括使用光谱仪对绝缘层进行光学特性分析，测量吸收光谱和荧光光谱，并记录相关数据。

[0021] 该实施例中，激发光源是用于激发绝缘层进行光学激发实验的光源，可能是激光或其他波长的光源。

[0022] 该实施例中，第一缺陷是指在光学特性分析和比较过程中确定的绝缘层中存在的初步缺陷，表现为光学特性中的异常吸收或发射特性，通过特性比较和分析来识别并确定的缺陷。

[0023] 该实施例中，第二材料信息是导电层所使用材料的特性和参数信息，用于预测导电层的电磁敏感度和性能。

[0024] 该实施例中，第二缺陷是根据电磁测试和预测结果中发现的导电层缺陷，可能是根据电磁性能和表现情况确定的电磁敏感度或性能方面的缺陷。

[0025] 该实施例中，分析第一缺陷和第二缺陷的相互影响和叠加效应，评估对柔性透明网状电路的绝缘安全性影响，根据综合影响结果确定综合等级，实现绝缘安全检测。

[0026] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过获取绝缘层和导电层的材料信息，分别采用光学激发成像和电磁场测试技术，以确定电路的微观结构特征和潜在缺陷，实现了检测精度的提升，可以更有效地评估电路的绝缘安全情况。

[0027] 实施例2：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，获取柔性透明网状电路绝缘层的第一材料信息，对所述第一材料信息进行光学特性分析，根据光学特性分析结果选择激发光源，对所述绝缘层进行光学激发，并将激发结果成像，捕捉绝缘层的微观结构与特征，基于所述微观结构与特征确定绝缘层的第一缺陷，包括：
根据第一材料信息结合材料应用领域得出绝缘层的基础性质，使用光谱仪对所述绝缘层的基础性质进行光学特性分析，得出绝缘层的第一吸收发射特性，进而根据所述第一吸收发射特性选择激发光源；
根据绝缘层厚度分布对绝缘层进行区域划分，得出多个绝缘区域，使用激发光源对所有绝缘区域进行光学激发，测量每个绝缘区域的吸收光谱与荧光光谱，并记录在不同波长下对应绝缘区域的荧光强度与吸光度数值；
以吸收波长为横轴，吸收度为纵轴绘制吸收光谱曲线；以发射波长为横轴，荧光强度为纵轴绘制荧光光谱曲线；分析吸收光谱曲线与荧光光谱曲线，识别吸收峰与荧光峰，并分析吸收峰与荧光峰对应波长与峰值强度，进而得出每个绝缘区域的第二吸收发射特性；
将所述第一吸收发射特性与第二吸收发射特性进行特性比较，确定初始缺陷以及所述初始缺陷对应的缺陷绝缘区域；
对所述缺陷绝缘区域进行激发结果成像，捕捉所述缺陷绝缘区域的微观特征和结构，并确定第一缺陷。

[0028] 该实施例中，第一吸收发射特性与第二吸收发射特性进行特性比较的过程是综合比较各绝缘区域的吸收和荧光光谱，分析差异，确定影响厚度的因子，结合吸收和发射特性对初始缺陷进行综合分析，确定缺陷绝缘区域。

[0029] 该实施例中，通过激发成像获取显微图像，分析缺陷绝缘区域的结构、形貌和纹理特征，进行结构评估。综合第一特征和第二特征确定微观特征，与第三差异比较确认可能原因，最终确定第一缺陷。

[0030] 该实施例中，基础性质是绝缘层的最基本性质，包括介电常数、折射率、透明度等与光学特性相关的性质。

[0031] 该实施例中，第一吸收发射特性是绝缘层在特定波长下的吸收和发射特性。

[0032] 该实施例中，绝缘层厚度分布对绝缘层区域划分包括根据绝缘层厚度的不同对绝缘层进行区域划分，形成多个绝缘区域。

[0033] 该实施例中，光学激发是通过激发光源对绝缘区域进行光学激发实验，测量吸收光谱和荧光光谱。

[0034] 该实施例中，第二吸收发射特性是在光学激发条件下，各个绝缘区域在不同波长下的吸收和发射特性。

[0035] 该实施例中，第一吸收发射特性与第二吸收发射特性的区别是第一吸收发射特性是整体性质的综合表征，而第二吸收发射特性则更加细致和局部化，可以区分不同绝缘区域之间的光学特性差异；通过比较第一和第二吸收发射特性，可以更全面地了解不同绝缘区域的光学响应和特性差异，进而识别和确定可能存在的缺陷以及缺陷绝缘区域。

[0036] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过光学特性分析及光谱仪测量，在绝缘层基础性质和厚度分布基础上细分多个绝缘区域，分析吸收与荧光光谱，识别吸收与荧光峰，确定绝缘区域特性和缺陷。结合第一和第二吸收发射特性比较，准确识别初始缺陷和缺陷绝缘区域，最终通过成像捕捉微观结构，确定第一缺陷，实现检测精准性的提高，为缺陷分析提供直观依据，能够全面评估绝缘层的光学性能，为安全评估提供更多支持。

[0037] 实施例3：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，将所述第一吸收发射特性与第二吸收发射特性进行特性比较，确定初始缺陷以及所述初始缺陷对应的缺陷绝缘区域，包括：
对各绝缘区域的吸收光谱曲线进行第一比较，并根据识别的吸收峰分析各绝缘区域的吸收峰波长和峰值强度的第一差异；
对各绝缘区域的荧光光谱曲线进行第二比较，并根据识别的荧光峰分析各绝缘区域的荧光峰波长和峰值强度的第二差异；
对同一绝缘区域的荧光光谱曲线与吸收光谱曲线进行第三比较，并根据第三比较结果确定吸收峰与荧光峰之间的第三差异；
根据第一差异与第二差异得出关于绝缘层厚度分布的厚度影响因子；
将所述厚度影响因子和第一吸收发射特性进行第一结合，同时，将第三差异与第二吸收发射特性进行第二结合；
对第一结合与第二结合进行比较，根据比较结果确定初始缺陷以及对应的缺陷绝缘区域。

[0038] 该实施例中，厚度影响因子是根据第一差异与第二差异得出的关于绝缘层厚度分布的影响因子，可能是用来评估绝缘层厚度对光学特性的影响程度。

[0039] 该实施例中，第一结合与第二结合是指将厚度影响因子与第一吸收发射特性结合，以及将第三差异与第二吸收发射特性结合。

[0040] 该实施例中，确定缺陷绝缘区域的具体过程包括比较第一结合与第二结合的结果，根据比较结果确定初始缺陷以及对应的缺陷绝缘区域，从而进一步识别和定位潜在的缺陷。

[0041] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：综合比较各绝缘区域的吸收和荧光光谱，分析差异，确定影响厚度的因子。结合吸收和发射特性对初始缺陷进行综合分析，确定缺陷绝缘区域，实现更全面评估绝缘层的厚度分布对光学特性的影响，有助于提高电路绝缘安全性。

[0042] 实施例4：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，对所述缺陷绝缘区域进行激发结果成像，捕捉所述缺陷绝缘区域的微观特征和结构，并确定第一缺陷，包括：
分析激发成像得到的缺陷绝缘区域显微图像，确定缺陷绝缘区域的结构特征，并对所述缺陷绝缘区域的组织结构进行结构评估，得到结构评估结果；
根据所述显微图像确定缺陷绝缘区域的形貌特征，并判断缺陷的形态分布情况，得出第一特征；
通过所述显微图像观察确定缺陷绝缘区域的纹理特征，并确定纹理特性与对应纹理的来源，得出第二特征；
结合第一特征与第二特征确定所述缺陷绝缘区域的微观特征，将所述微观特征与对应缺陷绝缘区域的第三差异进行区域比较，确定所述缺陷绝缘区域的可能原因，基于微观特征、结构评估结果与所述可能原因，确定第一缺陷。

[0043] 该实施例中，第一特征是根据缺陷绝缘区域的形貌特征所确定的特征，包括缺陷的大小、形状、分布等外观特征；第二特征是根据缺陷绝缘区域的纹理特征所确定的特征，包括缺陷表面的纹理、纹路、质地等特征。

[0044] 该实施例中，结构特征是缺陷绝缘区域的组织结构特征，包括缺陷的内部结构、层次和组成成分。

[0045] 该实施例中，微观特征是根据显微图像确定的缺陷绝缘区域的微观特性，包括细微的结构特征和纹理特征。

[0046] 该实施例中，将微观特征与对应缺陷绝缘区域的第三差异进行区域比较是将所得微观特征与之前确定的吸收和发射特性之间的差异进行比较，以确定可能导致缺陷的原因。

[0047] 该实施例中，可能原因是包括材料性质、制备过程、环境条件等因素，可能导致缺陷产生的原因。

[0048] 该实施例中，基于微观特征、评估结果与可能原因确定第一缺陷包括综合考量微观特征、评估结果和可能原因，确定缺陷的具体性质和原因。

[0049] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：通过激发成像获取显微图像，分析缺陷绝缘区域的结构、形貌和纹理特征，进行结构评估。综合第一特征和第二特征确定微观特征，与第三差异比较确认可能原因，最终确定第一缺陷，有助于全面了解电路的安全状况，进一步提升绝缘层的可靠性。

[0050] 实施例5：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，获取所述柔性透明网状电路导电层的第二材料信息，根据所述第二材料信息确定标准电磁敏感度，根据标准电磁敏感度对所述柔性透明网状电路进行电磁场测试，根据测试结果确定导电层的第二缺陷，包括：
获取导电层所使用的第二材料信息，根据所述第二材料信息对导电层的标准电磁敏感度进行电磁理论预测，得到标准电磁敏感度；同时，评估导电层对不同频率的电磁波的吸收、反射和透射情况，得到情况评估结果，并根据情况评估结果计算导电层对不同频率电磁波的电磁响应特性，根据标准电磁敏感度与电磁响应特性得出理论预测结果；
根据所述电磁响应特性确定进行电磁测试所需范围与关键频率点；
根据所述所需范围与关键频率点使用电磁测试装置对所述导电层进行电磁测试，并记录每个关键频率点的电磁波响应数据；
基于所述电磁波响应数据，评估导电层在不同频率电磁波下的电磁性能，得到性能评估结果；同时，分析导电层在电磁场中的表现，得到导电层电磁性能的表现情况，并评估所述导电层电磁性能的表现情况，得到表现评估结果，根据所述性能评估结果与表现评估结果得出综合测试结果；
将所述综合测试结果与理论预测结果进行比较，并基于测试‑预测差异对导电层的标准电磁敏感度进行评估，确定导电层的第二缺陷。

[0051] 该实施例中，标准电磁敏感度是指导电层对电磁场的敏感程度和响应特性，可能是根据第二材料信息和电磁理论进行的预测和评估。

[0052] 该实施例中，情况评估结果是根据导电层对不同频率的电磁波的吸收、反射和透射情况所得到的评估结果。

[0053] 该实施例中，电磁响应特性是导电层在不同频率下的电磁波响应的特性，包括吸收、反射和透射的情况以及电磁性能的表现。

[0054] 该实施例中，理论预测结果是根据第二材料信息和电磁理论预测的导电层对不同频率电磁波的响应和性能。

[0055] 该实施例中，所需范围与关键频率点是确定进行电磁测试所需的频率范围和关键频率点，用于全面评估导电层的电磁性能。

[0056] 该实施例中，性能评估结果是根据电磁波响应数据对导电层在不同频率下的电磁性能进行评估，并分析其表现情况。

[0057] 该实施例中，表现评估结果是根据导电层在电磁场中的实际表现进行评估，包括在测试中的响应和性能表现。

[0058] 该实施例中，测试‑预测差异是指综合测试结果与理论预测结果之间的差异，用于评估预测准确性和导电层潜在的电磁性能问题，吸收光谱差异对比测试数据和理论预测数据中的吸收光谱，分析吸收峰值的位置和强度是否一致，以确定导电层对电磁波的吸收情况是否符合预期；荧光光谱差异是比较测试和预测结果中的荧光光谱，检查荧光峰的位置和强度是否存在差异，以了解导电层的发射特性与预期是否一致；电磁响应数据对比是分析测试数据和预测数据中每个关键频率点的电磁波响应情况，包括吸收、反射、透射等参数，以确定实际表现与预期结果的符合程度；性能评估差异是比较基于测试数据和理论预测的性能评估结果，检查导电层在不同频率下的电磁性能评估是否存在明显差异，以评估预测准确性；实际表现差异观察导电层在电磁场中的实际表现与预测结果之间的差异，包括电磁波的吸收、反射和透射情况，以验证理论预测的准确性。

[0059] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：根据第二材料信息进行电磁敏感度预测，评估导电层对电磁波的吸收、反射和透射情况，确定电磁响应特性。使用电磁测试装置对导电层进行测试，记录不同频率下的电磁波响应数据，评估电磁性能，综合测试结果与理论预测比较，评估标准电磁敏感度，确认第二缺陷，精准识别导电层的电磁性能缺陷，提高电磁敏感性预测的准确性，确保产品的可靠性。

[0060] 实施例6：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，将所述综合测试结果与理论预测结果进行比较，并基于测试‑预测差异对导电层的标准电磁敏感度进行评估，确定导电层的第二缺陷，包括：
对综合测试结果与理论预测结果进行差异比较，确定各频率电磁波下导电层的测试‑预测差异，并基于测试‑预测差异分析导电层在不同频率电磁波下电磁响应特性，确定是否存在频率特性偏差情况；
同时，基于测试‑预测差异对导电层的电磁兼容性进行兼容评估，确定导电层的抗干扰情况；
综合频率特性偏差情况与抗干扰情况得出导电层在电磁场中的标准电磁敏感度水平，量化评估导电层对外部电磁干扰的标准电磁敏感度，识别并确定导电层的第二缺陷；
结合电磁响应特性与抗干扰情况，分析第二缺陷对导电层的可能影响，进而确定第二缺陷对应的缺陷绝缘位置。

[0061] 该实施例中，频率特性偏差情况是通过比较导电层在不同频率下的实际测试结果和理论预测结果的差异，确定导电层在不同频率下的电磁响应特性是否存在偏差或不一致的情况。

[0062] 该实施例中，抗干扰情况是指导电层对外部电磁干扰的抵抗能力和表现，通过评估导电层在实际环境中受到不同频率电磁波干扰时的表现来确定其抗干扰情况。

[0063] 该实施例中，兼容评估过程是一个评估导电层在电磁环境中的兼容性的过程，包括考虑导电层对外部电磁干扰的抵抗能力、性能表现及与其他设备的协同性等因素来评估导电层在特定环境下是否能正常工作。

[0064] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：比较测试预测差异，分析频率下的电磁响应特性和兼容性，确定频率特性偏差和抗干扰情况，评估导电层的电磁敏感度和性能表现，确认第二缺陷，准确判定缺陷情况，提升产品的可靠性。

[0065] 实施例7：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，标准电磁敏感度的计算过程，包括：
；其中， 表示标准电磁敏感度； 表示导电层的
实部电导率； 表示导电层的虚部电导率； 表示导电层的实部介电常数；表示导电层的虚部介电常数；表示电场在空间中的分布向量；表示磁场在空间中的分布向量； 表示微元体积元素；表示电磁波的角频率；j表示虚数单位。

[0066] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：根据第二材料信息进行电磁敏感度预测，评估导电层对电磁波的吸收、反射和透射情况，确定电磁响应特性，使用电磁测试装置对导电层进行测试，记录不同频率下的电磁波响应数据，评估电磁性能，综合测试结果与理论预测比较，评估标准电磁敏感度，确认第二缺陷，精准识别导电层的电磁性能缺陷，提高电磁敏感性预测的准确性，确保产品的可靠性。

[0067] 实施例8：本发明实施例提供一种柔性透明网状电路的绝缘安全检测方法，根据第一缺陷与第二缺陷确定所述柔性透明网状电路的绝缘安全情况，包括：
基于所有的缺陷绝缘位置分析所述第一缺陷与第二缺陷之间相互影响与叠加效应，确定所述第一缺陷与第二缺陷对于柔性透明网状电路的绝缘安全性综合影响；
基于所述综合影响结果，确定电路绝缘安全情况的综合等级，进而实现对柔性透明网状电路的绝缘安全检测。

[0068] 该实施例中，相互影响指第一缺陷与第二缺陷之间可能存在的相互作用和影响，例如第一缺陷可能导致第二缺陷的产生或加剧，或者第二缺陷可能对第一缺陷的表现和影响产生影响。

[0069] 该实施例中，叠加效应是指第一缺陷和第二缺陷在柔性透明网状电路中相互叠加产生的效应，可能使得电路绝缘安全性随着缺陷的叠加而叠加增加，影响电路的整体性能和可靠性。

[0070] 该实施例中，综合影响的确定过程包括对第一缺陷和第二缺陷的综合分析和评估，考虑它们之间的相互作用和叠加效应，以确定它们对柔性透明网状电路绝缘安全性的综合影响程度。

[0071] 该实施例中，综合等级的确定过程包括根据综合影响的评估结果，确定电路绝缘安全情况的综合等级，根据缺陷的严重程度、影响范围和累积效应等因素来评定电路的绝缘安全性等级，从而实现对柔性透明网状电路的绝缘安全检测和评估。

[0072] 上述技术方案的工作原理及有益效果是：分析第一缺陷和第二缺陷的相互影响和叠加效应，评估对柔性透明网状电路的绝缘安全性影响，根据综合影响结果确定综合等级，实现绝缘安全检测，有助于准确评估电路的绝缘安全性，提升检测的全面性和准确性，确保电路运行的可靠性。

[0073] 最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。