[0001] 本发明涉及半导体开发技术领域，主要涉及一种晶闸管深度性能测试装置及其操作方法。

[0002] 晶闸管是晶体闸流管的简称，又可称作可控硅整流器，它有三个极:阳极，阴极和门极；晶闸管具有硅整流器件的特性，能在高电压、大电流条件下工作，且其工作过程可以控制、被广泛应用于可控整流、交流调压、无触点电子开关、逆变及变频等电子电路中。

[0003] 针对目前在晶闸管性能检测时使用的测试装置，晶闸管安装固定不稳定，不易取放，且手持触碰引脚的触发方式，其检测效率过低，同时多次接触易造成引脚结构破坏的问题。

[0031] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

[0032] 参照图1‑图4所示，一种晶闸管深度性能测试装置及其操作方法，测试装置主体1下方对称设置有支撑腿3，测试装置主体1上转动设置有盖板2，测试装置主体1内部铺设有第一导线5，测试装置主体1内部固定设置有电源4、第一导块6、第二导块7、放置仓13、条灯9，且第一导块6、第二导块7、放置仓13和条灯9通过第一导线5与电源4相连接，放置仓13两端可与进行电流传输，放置仓13一侧转动设置有弹性导板29，放置仓13一侧对称设置有约束弹簧31，且弹性导板29通过约束弹簧31与放置仓13相连接，测试装置主体1上贯穿设置有第二导体棒30，通过测试装置主体1上通过第一导线5相互连接配合的电源4、第一导块6、第二导块7、条灯9和放置仓13，在放置仓13一侧转动设置的弹性导板29的作用下，配合放置仓
13一侧固定设置的约束弹簧31和贯穿放置仓13一侧设置的第二导体棒30，有利于晶闸管
12G极端的电流刺激，便于G极引脚接触时的结构保护，避免了频繁接触下引脚的折弯破坏，使用寿命显著提升。

[0033] 参照图1‑图3所示，测试装置主体1上固定设置有电路开关10，，电路开关10包括转动设置的电流导板25，电流导板25上固定设置有恢复弹簧24，且第一导块6和第二导块7通过电路开关10相配合，测试装置主体1上固定设置有第一竖板17和第二竖板18，第一竖板17一侧固定设置有电机11，测试装置主体1一侧设置有转动圆盘21，转动圆盘21上固定设置有固定轴23，且电机11贯穿第一竖板17与转动圆盘21转动配合，第二竖板18一侧固定设置有滑轨19，滑轨19上滑动设置有滑块20，滑块20上固定设置有腰形驱块22，且固定轴23与腰形驱块22贯穿配合，通过测试装置主体1上固定设置的第一竖板17和第二竖板18，在测试装置主体1上固定设置与第一竖板17上由电机11驱动的固定设置有固定轴23的转动圆盘21的作用下，配合第二竖板18上滑动设置于滑轨19上的固定设置有与固定轴23转动配合的腰形驱块22，以及由恢复弹簧24约束的转动连接的电流导板25，有利于晶闸管12的短路处理，便于观察晶闸管12的使用状态，循环接触的结构，进一步的增强了其测试准确度，降低了人力的消耗，检测效率大大加快。

[0034] 如图2‑图4所示，放置仓13一侧固定设置有A极接口26、G极接口27和K极接口28，放置仓13一侧转动设置有弹性导板29，测试装置主体1上固定设置有万能表8，测试装置主体1上均匀设置有限位块15，万能表8一侧均匀设置有第二导线14，第二导线14一端固定设置有第一导体棒16，第一导体棒16与限位块15贯穿配合，通过测试装置主体1上固定设置的万能表8和多组排列的限位块15，在万能表8一侧设置的一端设置有贯穿限位块15的第一导体棒16的第二导线14的作用下，配合放置仓13一侧设置的A极接口26、G极接口27和K极接口28，有利于晶闸管12各引脚的电极检测，便于后续的G极端刺激，进一步的增强了其使用稳定性，测试效果更加准确。

[0035] 一种晶闸管深度性能测试装置的操作方法，使用时，将用于遮尘处理的盖板2打开，将晶闸管12放置与放置仓13中，打开电源4，观察条灯9状态，对电路通流的状态进行反馈，通过测试装置主体1上固定设置的万能表8，在万能表8一侧设置的由限位块15约束的可伸缩的第二导线14的作用下，使第一导体棒16与放置仓13一侧固定设置的A极接口26、G极接口27和K极接口28两两配和接触，观察万能表8上电阻数值显示，分析晶闸管12三引脚处的电极类型，随后通过第一竖板17一侧固定设置的由电机11驱动的转动圆盘21，带动转动圆盘21上固定设置的固定轴23做圆周运动，带动腰形驱块22运动，使滑动设置于第二竖板18上滑轨19上的滑块20做水平方向的循环运动，当滑块20运动与放置仓13一侧转动设置的弹性导板29接触，使转动的弹性导板29与贯穿放置仓13一侧设置的第二导体棒30，晶闸管
12G极引脚受到刺激，晶闸管12通过电流，条灯9亮起，当滑块20运动与电流导板25接触时，电路开关10闭合，以达到晶闸管12短路的状态，此时条灯9断电，通过循环运作的滑块20，以观察条灯9的状态，达到晶闸管12性能测试的目的。

[0036] 以上，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。