技术领域
[0001] 本公开的实施例涉及一种检测仪。
相关背景技术
[0002] 微流控技术(Microfluidics)是一种精确控制和操控微尺度流体的技术，可以把检验分析过程中的样品、反应、分离、检测等基本操作单元集成到一块微纳米尺度的芯片上，自动完成分析全过程。微流控技术具有样品消耗少、检测速度快、操作简便、多功能集成、体积小和便于携带等优点，在生物、化学、医学等领域有着应用巨大潜力。
具体实施方式
[0031] 为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
[0032] 除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
[0033] 通常来说，用于进行核酸检测的检测部件，例如微流控芯片内部包括样本腔、试剂腔、反应腔、废液腔及检测腔等多个功能腔，用以实现加样、混匀、清洗和检测的全过程。但是，由于核酸检测的复杂性和特殊性，检测部件往往难以独自实现全自动检测。
[0034] 本公开至少一实施例提供一种检测仪，该检测仪包括检测部件放置和进出组件和检测部件压紧组件。检测部件放置和进出组件包括托盘组件，托盘组件包括承载台，用于放置至少一个检测部件；检测部件压紧组件的至少部分设置在检测部件放置和进出组件的第一侧，用于压紧至少一个检测部件；检测部件放置和进出组件还包括光电开关和信号提示电路，配置为在承载台完全进入检测仪中后，光电开关的光通路被遮挡，光电开关开启，信号提示电路发出检测部件到原点提示。该检测仪可以与检测部件(例如检测芯片)配合，实现对样本的全自动检测，从而简化检测过程，提高检测效率。
[0035] 下面通过几个具体的实施例对本公开实施例提供的检测仪进行说明。
[0036] 本公开至少一实施例提供一种检测仪，图1和图2分别示出了该检测仪从不同角度观看的结构示意图。如图1和图2所示，该检测仪包括检测部件放置和进出组件1、检测部件压紧组件2和混匀组件4。在一些实施例中，检测仪还可以包括磁铁升降组件3、温度循环组件5、检测组件6、气路组件7以及电路控制组件8。例如，电路控制组件8可以与上述各组件通讯连接，以实现对各组件的控制功能，进而实现全自动检测。
[0037] 下面，结合附图对各个组件的结构和功能进行详细描述。
[0038] 例如，图3为本公开至少一实施例提供的检测仪中检测部件放置和进出组件的结构示意图。如图3所示，检测部件放置和进出组件1包括承载台1‑1，用于放置至少一个检测部件A，例如放置多个检测部件A，图中示出四个检测部件A作为示例。例如，检测部件A可以为检测芯片，例如微流控芯片。
[0039] 例如，如图3所示，检测部件放置和进出组件1还包括支架1‑5(图中示出为对称的两个支架1‑5)和第一托盘1‑3，第一托盘1‑3滑动设置在支架1‑5上，承载台1‑1设置在第一托盘1‑3上，配置为通过第一托盘1‑3在支架1‑5上的滑动使承载台1‑1伸出或进入检测仪，以便于放置或取出检测部件A，并将检测部件A移动到检测仪内的指定位置。
[0040] 例如，在一些实施例中，检测部件放置和进出组件1还可以包括光电开关1‑9和信号提示电路(未示出)，配置为在承载台1‑1完全进入检测仪中后，光电开关1‑9的光通路被遮挡，从而光电开关1‑9开启，信号提示电路发出芯片到原点提示，由此起到原点定位作用。例如，光电开关1‑9包括光电挡片，在承载台1‑1随着第一托盘1‑3进入到检测仪后，光电挡片被触动以遮挡光电开关1‑9的光通路，从而开启光电开关1‑9。
[0041] 例如，在使用过程中，当需要将检测部件A放置到检测仪中时，将承载台1‑1拉出，将检测部件A放置在承载台1‑1上，然后再将承载台1‑1推入检测仪，此时，信号提示电路发出芯片到原点提示，之后即可控制检测仪进行后续操作。
[0042] 例如，在一些实施例中，承载台1‑1底部还可以设置检测开关(未示出)，用于检测是否有检测部件放入。例如，检测开关可以为光电开关，当有检测部件放入承载台1‑1时，光电开关的光通路被遮挡，光电开关开启，提示有芯片放入，由此实现判断是否有检测部件放入的自检测功能。
[0043] 例如，在一些实施例中，检测部件放置和进出组件1还可以包括第二托盘1‑2，承载台1‑1通过台阶轴和弹簧(未示出)弹性连接在第二托盘1‑2上，以使得承载台1‑1能够相对于第二托盘1‑2在垂直于第二托盘1‑2的盘面的方向运动(即在图中上下移动)。例如，承载台1‑1可以通过多个台阶轴和弹簧的组合弹性连接在第二托盘1‑2上，例如，弹簧套设在台阶轴上，以使得承载台1‑1在受力的情况下可以相对于第二托盘1‑2进行上下运动。
[0044] 例如，第二托盘1‑2滑动设置在第一托盘1‑3上。例如，在一些示例中，检测部件放置和进出组件1还包括第一导轨1‑13、第一挡板1‑4和第二挡板1‑10，第一挡板1‑4和第二挡板1‑10分别设置在第二托盘1‑2的相对两端，第二托盘1‑2通过第一导轨1‑13与第一托盘1‑3滑动连接，并通过第一挡板1‑4和第二挡板1‑10进行限位。
[0045] 例如，第一导轨1‑13为直线导轨，此时，第一挡板1‑4和第二挡板1‑10位于直线导轨的两端，从而第二托盘1‑2可在第一托盘1‑3上进行直线运动，并通过第一挡板1‑4和第二挡板1‑10进行限位。
[0046] 例如，检测部件放置和进出组件1还可以包括第一电机1‑6，例如为步进电机，第一电机1‑6的输出轴上固定有齿轮和齿条1‑7，例如，通过齿轮和齿条的啮合，可以将第一电机1‑6的旋转运动转换成第一托盘1‑3在支架1‑5上的直线运动。由此，可通过第一电机1‑6实现承载台1‑1的自动进出。
[0047] 例如，支架1‑5上设置有直线导轨1‑8，第一托盘1‑3滑动设置在该直线导轨1‑8上，例如，如图3所示，两个支架1‑5上分别设置有直线导轨1‑8，直线导轨1‑8可以起到运动约束的作用，使得第一托盘1‑3沿直线导轨1‑8限定的轨迹在支架1‑5上运动。
[0048] 例如，检测部件放置和进出组件1还包括底板1‑12，以用于支撑检测部件放置和进出组件1的各个结构。
[0049] 相对于其他检测部件放置方式，本公开实施例提供的检测部件放置和进出组件1实现的芯片放置与进出功能更加简单、安全且便于交互，并且还可以实现自动化。
[0050] 例如，图4为本公开至少一实施例提供的检测仪中检测部件压紧组件的结构示意图。如图4所示，检测部件压紧组件2设置在检测部件放置和进出组件1的第一侧，即图中示出的上侧，用于压紧至少一个检测部件A，以便于后续对检测部件A进行各种操作。图4中示出的情形即为检测部件压紧组件2压紧检测部件A时的状态。
[0051] 例如，如图1和图2所示，气路组件7设置在检测部件放置和进出组件1的第二侧(图中示出的下测)，第二侧与第一侧相对，用于通过施加气压控制检测部件中流道的通断(稍后详述)。例如，气路组件7包括气泵7‑1、气路板7‑2和储气罐7‑3。气泵7‑1用于实现施加气压的作用，例如施加正压或者负压。储气罐7‑3用于存储气泵7‑1施加气压时所使用的气体。气路板7‑2用于与检测部件压紧。例如，当检测部件压紧组件2压紧检测部件A时，检测部件A的下侧与气路板压紧，气路板中例如包括多个通气孔或者通气道，该多个通气孔或者通气道例如与检测部件的流道的开关阀(下文中的膜阀部，可通过气压控制通断)连通，以在检测部件和气路板中成密闭的气路，以便于气泵向检测部件A施加气压，进而控制检测部件中流道的通断。
[0052] 例如，在一些实施例中，检测部件放置和进出组件1与检测部件压紧组件2连接，且配置为在承载台1‑1进入检测仪中时，检测部件压紧组件2逐步压紧检测部件。
[0053] 例如，如图3和图4所示，检测部件放置和进出组件1还包括设置在支架1‑5上且位于第一托盘1‑3两侧的直线轴承1‑11，如图4所示，检测部件压紧组件2还包括压板2‑1、导向轴2‑2、下托板2‑5和滚轮组件2‑6，导向轴2‑2穿过直线轴承1‑11，导向轴2‑2的一端(图中的上端)与压板2‑1连接，另一端(图中的下端)与下托板2‑5连接。在靠近直线轴承1‑11的位置处，第一托盘1‑3的面向滚轮组件2‑6的一侧具有引导斜面1‑3‑1，滚轮组件2‑6设置在下托板2‑5上，包括滚轮支架以及设置在滚轮支架上的滚轮，配置为在承载台1‑1进入检测仪时(即在图中向左运动时)，滚轮沿引导斜面1‑3‑1滑动以使下托板2‑5带动导向轴2‑2在直线轴承1‑11中移动(向下移动)，进而带动压板2‑1逐步压紧检测部件A。另外，在承载台1‑1伸出检测仪时(即在图中向右运动时)，滚轮沿引导斜面1‑3‑1滑动以使下托板2‑5带动导向轴2‑2在直线轴承1‑11中移动(向上移动)，进而带动压板2‑1逐步远离检测部件A。
[0054] 例如，如图4所示，检测部件压紧组件2还可以包括弹簧2‑3，弹簧2‑3套设在导向轴2‑2上，配置为在压板2‑1压紧检测部件的过程中，弹簧2‑3被压缩；另外，在压板2‑1远离检测部件的过程中，弹簧2‑3还可以提供回复力，进而辅助压板2‑1逐步远离检测部件A；此外，弹簧2‑3还可以在初始时(承载台1‑1被拉出检测仪时)提供支撑作用，保证初始时气路板7‑和检测部件之间的间距。
[0055] 相对于其他检测部件的压紧方式，本公开实施例提供的上述压紧方式无需单独动力源控制，只需要和检测部件放置和进出组件1联动即可，便于调试且节约成本。
[0056] 例如，图5A为本公开至少一实施例提供的检测仪中检测部件压紧组件中压板的结构示意图。如图5A所示，在一些实施例中，压板2‑1的面向承载台1‑1的表面(图中的下表面)包括刺破机构2‑7，刺破机构2‑7配置为在压板2‑1压紧检测部件A时，刺破机构2‑7刺破检测部件A内的储液腔的密封膜。
[0057] 例如，图5B为本公开至少一实施例提供的检测仪中检测部件压紧组件中压板的刺破机构的结构示意图。如图5B所示，刺破机构2‑7包括顶杆2‑7‑1、针状突出部2‑7‑2和挤压部2‑7‑3，针状突出部2‑7‑2和挤压部2‑7‑3从顶杆2‑7‑1的表面突出，且针状突出部2‑7‑2的突出长度超过挤压部2‑7‑3的突出长度。
[0058] 例如，针状突出部2‑7‑2用于刺破检测部件的储液腔的密封膜，针状突出部2‑7‑2位于顶杆2‑7‑1的顶表面的中心位置，针状突出部2‑7‑2的尺寸小于储液腔的开口的尺寸。例如，针状突出部2‑7‑2可以为三棱锥，长度为3mm‑5mm，例如4mm，顶部为直径1mm‑2mm，例如
1.5mm的圆形。
[0059] 例如，挤压部2‑7‑3为多个，多个挤压部2‑7‑3沿针状突出部2‑7‑2的周向均匀布置，挤压部2‑7‑3的顶表面为平面。例如，挤压部2‑7‑3可以为高度为1mm‑3mm，例如2mm的凸台，数量例如为2‑10个，且彼此等间隔沿周向排布。
[0060] 图5C为本公开至少一实施例提供的检测仪中检测部件压紧组件中压板的刺破机构与检测部件配合的截面示意图。如图5C所示，在压板2‑1压紧检测部件的过程中，刺破机构2‑7作用于检测部件的储液腔A1，针状突出部2‑7‑2用于通过密封盖A2中的弹性部件而刺破储液腔A1的上密封膜(图中未示出)。例如，随着刺破机构2‑7继续下移，挤压部2‑7‑3接触储液腔A1的上端开口四周，推动储液腔A1向下运动。此时，间隔排布多个挤压部2‑7‑3可以防止其堵住储液腔A1的开口，因此气体可以通过间隙进入储液腔A1内。例如，储液腔A1的下端具有另一刺破机构A3，储液腔A1向下运动到刺破机构A3时，刺破机构A3可以刺破储液腔A1的下密封膜A4，同时刺破机构2‑7可以刺破储液腔A1的上密封膜A2，从而储液腔A1中的液体可以流出，例如进入检测部件的流道以及其他功能腔以进行后续操作。由此，在检测部件压紧组件2压紧检测部件的过程中，还可以同时实现刺破检测部件的储液腔的密封膜的功能。
[0061] 例如，图6为本公开至少一实施例提供的检测仪中混匀组件的结构示意图。如图1和6所示，混匀组件4设置在检测部件放置和进出组件1的第一侧(图中的上侧)，用于与检测部件A连接，以混匀检测部件A内的样本。
[0062] 例如，如图6所示，混匀组件4包括至少一个注射泵，至少一个注射泵的每个包括气缸4‑6和柱塞杆4‑9，柱塞杆4‑9通过在气缸4‑6内移动以实现抽气或放气。
[0063] 例如，对于核酸检测来说，混匀组件4可以实现检测部件内样本和磁珠的混匀，稍后将详细介绍。
[0064] 例如，如图6所示，混匀组件4还包括与气缸4‑6连接的第一支撑板4‑5、与柱塞杆4‑9连接的第二支撑板4‑4以及第二导轨4‑3，第一支撑板4‑5和第二支撑板4‑4滑动设置在第二导轨4‑3上，第一支撑板4‑5和第二支撑板4‑4中的至少之一配置为通过在第二导轨4‑3上移动，以实现柱塞杆4‑9在气缸4‑6内移动，即控制第一支撑板4‑5和第二支撑板4‑4中的一个运动或者都运动，以使得第一支撑板4‑5和第二支撑板4‑4产生相对运动，进而使得柱塞杆4‑9可以相对于气缸4‑6进行移动，实现抽气或放气。
[0065] 例如，第二导轨4‑3为直线导轨，从而第一支撑板4‑5和/或第二支撑板4‑4可以在第二导轨4‑3上进行直线运动，以带动气缸4‑6和/或柱塞杆4‑9进行直线运动，实现柱塞杆4‑9通过在气缸4‑6内移动进行抽气或放气。
[0066] 例如，混匀组件4还可以包括分别驱动第一支撑板4‑5和第二支撑板4‑4移动的电机4‑7和4‑8，电机4‑7和4‑8例如为步进电机，以分别在受控下(例如在电路控制组件8的控制下)驱动第一支撑板4‑5和第二支撑板4‑4进移动。
[0067] 例如，气缸4‑6的靠近检测部件放置和进出组件1的一端包括用于与检测部件A连接的连接组件4‑10，连接组件4‑10包括密封圈，以用于将气缸与检测部件密封。由此，通过柱塞杆4‑9通过在气缸4‑6内移动，例如可以实现对检测部件A内混匀腔的抽气或放气，进而实现混匀。
[0068] 例如，混匀组件4还包括支架4‑1以及固定部4‑2，用于支撑和固定混匀组件4的上述结构。
[0069] 例如，在一些实施例中，检测仪还包括检测组件6，用于对检测部件内的样本进行检测。图7为本公开至少一实施例提供的检测仪中检测组件的结构示意图。如图7所示，检测组件6可以为光学扫描组件，光学扫描组件6包括至少一个光学探头6‑1。例如，每个光学探头6‑1包括发光光路和接收光路(未示出)，用于对检测部件中的样本进行光学检测。例如，发光光路用于向检测部件A内的样本发光，接收光路用于接收被样本反射的光，此时，例如可以通过反射光的特性或者比较反射光与发光光路发出的光的差异实现对样本的检测分析。
[0070] 例如，光学扫描组件还可以包括传送带6‑4，上述至少一个光学探头6‑1包括多个光学探头6‑1，多个光学探头6‑1连接在传送带6‑4上，配置为随传送带6‑1进行移动，例如可以实现对多个检测部件同时进行光学扫描等。例如，光学扫描组件还包括电机6‑2(例如步进电机)和惰轮6‑3，传送带6‑4绕在惰轮6‑3上，电机6‑2用于在受控下(例如在电路控制组件8的控制下)驱动传送带6‑4移动。
[0071] 例如，多个光学探头6‑1的发光光路配置为发出不同波长范围的光，以适用于对不同的样本或者不同的指标进行检测。例如，每个光学探头6‑1均能够发出不同波长范围的光，例如四种、六种或者更多种波长范围的光，以适用于对不同的样本或者不同的指标进行检测。
[0072] 由此，本公开开实施例提供的光学扫描组件具有多通道的光学扫描设计，可拓展性强，且能实现多通量的联检。
[0073] 例如，在一些实施例中，光学扫描组件还可以包括探头支架6‑7以及第三导轨6‑5，多个光学探头6‑1设置在探头支架6‑7上，探头支架6‑7的部分与传送带6‑4连接，探头支架6‑7的另一部分与第三导轨6‑5连接，以使得多个光学探头6‑1能够随传送带6‑4沿第三导轨
6‑5的轨迹移动，由此第三导轨6‑5可以起到限定多个光学探头6‑1的运动轨迹的作用。
[0074] 例如，光学扫描组件还包括支架6‑6，用于承载和支撑光学扫描组件的上述结构。
[0075] 例如，图8为本公开至少一实施例提供的检测仪中磁铁升降组件的结构示意图。如图8所示，磁铁升降组件3设置在检测部件放置和进出组件1的第二侧(图中示出的下测)，包括磁铁3‑5，磁铁升降组件3配置为控制磁铁3‑5的移动。
[0076] 例如，对于核酸检测来说，磁铁升降组件3中的磁铁在靠近检测部件时，可以吸附检测部件中的磁珠，在远离检测部件时，释放磁珠，进而辅助完成例如检测部件内磁珠清洗、磁珠混匀的功能。
[0077] 例如，磁铁升降组件3还包括第二电机3‑2(例如步进电机)、第四导轨3‑3和磁铁支架3‑4，磁铁3‑5设置在磁铁支架3‑4上，例如，磁铁3‑5通过弹簧弹性连接在磁铁支架3‑4上，磁铁支架3‑4滑动设置在第四导轨3‑3上，第二电机3‑2配置为驱动磁铁支架3‑4在第四导轨3‑3上滑动，例如磁铁支架3‑4在第四导轨3‑3上滑动的方向和距离是可控的。
[0078] 例如，对应于承载台1‑1上的多个检测部件，磁铁升降组件3可以包括相应数量的磁铁支架3‑4以及磁铁3‑5的组合，例如图中示出为四个，此时，可以控制四个磁铁3‑5的运动状态相同，以保证对多个检测部件操作的一致性；当然，在一些实施例中，四个磁铁3‑5的运动状态也可以不同，以实现对检测部件的不同操作。
[0079] 例如，第四导轨3‑3为直线导轨，且沿垂直于承载台1‑1的台面的方向设置，从而磁铁支架3‑4在第四导轨3‑3上滑动以靠近或远离承载台1‑1。
[0080] 例如，磁铁升降组件3还包括底座3‑1，用于固定以及承载磁铁升降组件3的上述结构。
[0081] 例如，图9为本公开至少一实施例提供的检测仪中温度循环组件的结构示意图。温度循环组件5用于控制检测部件A内的样本的温度，进而实现样本的反应等。
[0082] 例如，如图9所示，温度循环组件包括导热部5‑1、制冷部5‑2以及散热部5‑3，至少用于实现PCR(Polymerase Chain Reaction，聚合酶链式反应)温度循环，实现核酸的反应与检测。
[0083] 例如，散热部5‑3包括平行排布的多个散热片，其材料例如可以为紫铜，以提高散热部5‑3的散热效果。例如，导热部5‑1呈片状，材料为紫铜，厚度为0.5mm‑1mm；并且，导热部5‑1的形状可以与检测部件的加热区域相匹配，以实现对检测部件的精确温控。例如，制冷部5‑2可以采用半导体制冷片。由此，通过导热部5‑1、制冷部5‑2以及散热部5‑3之间的相互配合，可以通过实现快速升降温以及精准的温控。
[0084] 例如，在一些实施例中，温度循环组件5还包括散热风扇5‑4，配置为吹向散热部5‑3，例如可以吹向多个散热片之间的间隙，以加速散热片的散热速度。例如，散热风扇5‑4和散热部5‑3可以通过PID算法控制，从而实现快速升降温以及精准的温控。
[0085] 例如，电路控制组件8与上述各组件，即检测部件放置和进出组件1、检测部件压紧组件2、磁铁升降组件3、混匀组件4、温度循环组件5、检测组件6以及气路组件7采用有线或者无线的方式进行通讯连接，从而控制上述各组件的上述各项操作。例如，电路控制组件8可以包括任意形式的控制器。例如，控制器可以为各种类型的具有处理功能的集成电路芯片，其可以具有各种计算架构，例如复杂指令集计算机(CISC)结构、精简指令集计算机(RISC)结构或者一种实行多种指令集组合的结构。在一些实施例中，控制器230可以是微处理器，例如X86处理器或ARM处理器，或者可以是数字处理器(DSP)等。
[0086] 例如，在一些实施例中，电路控制组件8还可以包括存储器，该存储器用于存储检测仪实施不同检测以及不同工序等的控制指令等。例如，该存储单元可以为任意形式的存储介质，例如易失性存储器或非易失性存储器等，例如半导体存储器或磁性介质存储器等，本公开的实施例对此不做限定。
[0087] 本公开实施例提供的检测仪可以实现为核酸检测部件的全自动微流控检测仪，在进行核酸检测时，具有核酸提取、PCR温度循环和荧光检测等功能，并能够实现样本进，结果出的快速、简便的测量过程。该检测仪器该具有快速升降温、实时荧光检测的优势，且为全封闭的检测系统，同时具有多个光学检测通道，且可同时进行多个检测部件的检测，具有成本、空间和时间的优势。另外，可以同时使用多个检测仪实现通道的拓展，在检测通量较大的应用场景中，采用多个检测仪形成检测系统，从而可实现核酸检测的模块化。
[0088] 本公开至少一实施例还提供一种检测仪，该检测仪具有与上述实施例中检测仪不同的检测部件放置和进出组件和检测部件压紧组件。
[0089] 例如，图13和图14分别示出了该检测仪的检测部件放置和进出组件和检测部件压紧组件在不同状态下的示意图，其中，图13示出的是检测部件放置和进出组件中承载台伸出检测仪的状态，图14示出的是检测部件放置和进出组件中承载台进入检测仪的状态。
[0090] 如图13和图14所示，该检测部件放置和进出组件包括托盘组件10，图15示出了该托盘组件10的示意图。如图15所示，该托盘组件10包括承载台10‑1，用于放置至少一个检测部件A；检测部件压紧组件30的至少部分(例如压板30‑5，稍后介绍)设置在检测部件放置和进出组件的第一侧(图中的上侧)，用于压紧至少一个检测部件A。
[0091] 例如，如图13和图14所示，检测部件放置和进出组件还包括光电开关10‑7和信号提示电路10‑8，光电开关10‑7和信号提示电路10‑8配置为在承载台10‑1完全进入检测仪中后，光电开关10‑7的光通路被遮挡，光电开关10‑7开启，信号提示电路10‑8发出检测部件到原点提示。
[0092] 例如，光电开关10‑7包括光电挡片，在承载台10‑1进入到检测仪后，光电挡片被触动以遮挡光电开关1‑9的光通路，从而开启光电开关10‑7。例如，在另一些示例中，也可以是托盘组件10上其他部件(例如托盘10‑6，稍后介绍)在进入检测仪后遮挡光电开关1‑9的光通路，从而开启光电开关10‑7。在本公开的实施例中，光电开关10‑7的具体实现方式、具体设置位置等可以根据检测部件放置和进出组件的具体结构而定，并且只要可以实现上述功能即可，本公开的实施例对此不作限定。
[0093] 例如，在一些实施例中，如图15所示，托盘组件10还可以包括托盘10‑6，承载台10‑1设置在托盘10‑6上，配置为通过托盘10‑6的滑动使承载台10‑1伸出或进入检测仪。
[0094] 例如，在一个示例中，光电开关10‑7可以设置在底板20‑1上，在托盘10‑6滑入检测仪中时，光电开关10‑7光通路可以被托盘10‑6遮挡，进而光电开关10‑7开启。
[0095] 例如，在一些实施例中，检测部件放置和进出组件还包括台阶轴和第一弹簧10‑5，台阶轴的第一端(图中的下端)设置在托盘10‑6上，第一弹簧10‑5套设在台阶轴上，台阶轴的第二端(图中的上端)穿过托盘10‑6与定位柱10‑4连接，定位柱10‑4配置为调节第一弹簧10‑5的伸缩长度，进而调节托盘10‑6与承载台10‑1之间的最大距离。由于在图15中，台阶轴位于第一弹簧10‑5内，因此图中未示出台阶轴。此时，承载台10‑1通过台阶轴和第一弹簧
105弹性连接在托盘10‑6上，以使得承载台10‑1能够相对于托盘10‑6在垂直于托盘10‑6的盘面的方向(即图中的竖直方向)运动。
[0096] 例如，第一弹簧10‑5可以为压缩弹簧，第一弹簧10‑5的弹性系数、布置个数以及布置位置可以根据需求进行选择与设置，本公开的实施例对此不作具体限定。例如，在一些示例中，承载台10‑1的四个边角处可以均设置台阶轴和第一弹簧10‑5，以使承载台10‑1稳定连接在托盘10‑6上，避免承载台10‑1在托盘10‑6上出现晃动以及噪音等不良。
[0097] 例如，在一些实施例中，承载台10‑1还可以包括在承载台10‑1的至少一侧设置的安装部10‑9、第二弹簧10‑3和挡板10‑2，第二弹簧10‑3的弹性伸缩方向平行于承载台10‑1的台面，第二弹簧10‑3的第一端(图中的右端)与挡板10‑2连接，挡板10‑2的板面垂直于承载台10‑1的台面，第二弹簧10‑3的第二端(图中的左端)与安装部10‑9连接。挡板10‑2用于限定检测部件A的位置，例如将检测部件A紧靠在承载台10‑1的一侧。
[0098] 例如，第二弹簧10‑3可以为压缩弹簧，第二弹簧10‑3的弹性系数、布置个数以及布置位置可以根据需求进行选择与设置，本公开的实施例对此不作具体限定。
[0099] 例如，在一些实施例中，承载台10‑1在承载台10‑1相邻的两侧均设置上述安装部10‑9、第二弹簧10‑3和挡板10‑2。例如，除了图15中示出的安装部10‑9、第二弹簧10‑3和挡板10‑2以外，承载台10‑1在另一侧10A也设置有安装部、第二弹簧和挡板，以对检测部件A在不同方向的位置进行限定。
[0100] 例如，如图13和图14所示，检测部件放置和进出组件还包括传送机构20，传送机构20配置为控制托盘组件伸10出或进入检测仪。
[0101] 例如，在一些实施例中，传送机构可以包括底板20‑1以及设置在底板20‑1上的第一电机20‑2、同步带20‑3和导向轴组件，第一电机20‑2配置为驱动同步带20‑3运动。例如，第一电机20‑2可以为步进电机。例如，同步带20‑3与惰轮组件20‑4连接，惰轮组件固定2‑1底板上，其与第一电机20‑2的距离可以调整，进而保证同步带20‑3的可靠张紧。
[0102] 例如，图16示出了该检测仪的检测部件放置和进出组件和检测部件压紧组件的另一示意图。如图14和16所示，导向轴组件包括固定座20‑7、导向轴20‑8以及直线轴承20‑5，导向轴20‑8穿过直线轴承20‑5并固定在固定座20‑7上。例如，导向轴20‑8、直线轴20‑5及固定座20‑7同轴心布置。托盘组件10分别与同步带20‑3和直线轴承20‑5连接，例如，直线轴承20‑5的上表面与托盘组件10固定连接，以通过第一电机20‑1驱动托盘组件10沿导向轴20‑8限定的路径移动。例如，同步带20‑3的主要传送方向(即图中的水平方向)与导向轴20‑8的延伸方向相同。
[0103] 例如，如图16所示，检测部件压紧组件30包括压板30‑5以及驱动组件，驱动组件配置为驱动压板30‑5沿垂直于承载台10‑1的台面的方向(即图中的竖直方向)运动。
[0104] 例如，如图16所示，驱动组件包括第二电机30‑1、与第二电机30‑1的输出端连接的丝杠30‑1‑2以及套设在丝杠30‑1‑2上的丝杠螺母30‑1‑1，丝杠30‑1‑2的延伸方向垂直于承载台10‑1的台面，丝杠螺母30‑1‑1与压板30‑5固定连接。由此，第二电机30‑1驱动丝杠30‑1‑2转动时，丝杠螺母30‑1‑1可以带动压板30‑5在垂直于承载台10‑1的台面的方向(即图中的竖直方向)移动。例如，第二电机30‑1可以为直线电机，或者，在一些实施例中，第二电机
30‑1也可以为步进电机配套传动机构。
[0105] 例如，驱动组件还包括直线导轨30‑3以及安装座30‑2，直线导轨30‑3安装在安装座30‑2上，直线导轨30‑3的延伸方向与丝杠30‑1‑2的延伸方向相同，压板20‑5滑动连接在直线导轨30‑3上，例如，压板20‑5通过滑块滑动连接在直线导轨30‑3。由此，在第二电机30‑1的驱动下，压板20‑5可以沿直线导轨30‑3限定的轨迹移动。
[0106] 例如，在一些实施例中，安装座30‑2还包括向压板30‑5的方向突出的安装头30‑4，丝杠30‑1‑2的与第二电机30‑1相反的一端固定在安装头30‑4上，以避免丝杠30‑1‑2跳动，进而使丝杠30‑1‑2和丝杠螺母30‑1‑1的相对运动更稳定，进而使压板20‑5在第二电机30‑1的驱动下可平稳移动。
[0107] 例如，该检测仪还可以包括磁铁升降组件、混匀组件、温度循环组件、检测组件、气路组件以及电路控制组件中的一种或多种，这些组件的具体结构可以参照上述实施例，在此不再赘述。
[0108] 例如，上述检测仪在使用过程中，采用电机作为驱动力，检测部件可以从检测仪的前侧面进出，且进出位置在检测仪的中间高度，便于检测部件的放置和取出，便于人机交互；另外，相比于承载台竖直方向进出方案，采用侧面进出可以降低检测仪的整体高度。此外，本公开实施例提供的检测仪可以将承载台单独伸出至检测仪外部，且将检测部件放置到承载台之后，第一电机可以接收指令将检测部件拖动到检测仪内部指定位置，到位后，光电开关开启，信号提示电路可以传输信号给电路控制组件，此时，电路控制组件可以发出指令，第二电机驱动压板将检测部件压紧到气路板上，该过程采用精密传动结构，可以保证对位精准，保证到位精准和可靠压紧，并保证可靠密封。该检测仪可以用于小型的微流控POCT(point‑of‑care testing)仪器上，简化检测过程，提高检测效率。
[0109] 下面，结合附图示例性介绍一种与本公开实施例提供的检测仪配合使用的检测部件(例如，检测芯片)以及如图1所示的检测仪与检测部件配合使用的工作过程。
[0110] 图10示出了本公开的至少一实施例提供的检测芯片的透视图。图11示出了图10中检测芯片的基体的俯视图。图12示出了图10中检测芯片的基体的仰视图。
[0111] 如图10所示，该检测芯片包括基体100、第一柔性层20、粘接层30、密封层31、至少一个储存容器40、混匀结构50、样品容器60和盖601。
[0112] 基体100包括样品腔110、洗脱液腔180、第一清洗液腔150、第二清洗液腔160、第三清洗液腔170、磁珠腔120、第一混匀腔130、第二混匀腔140、废液腔190和扩增腔200；例如还包括第一冻干腔102、第二冻干腔103和多个基体凹槽100c。
[0113] 基体100、粘接层30和密封层31共同形成多个流体通道，多个流动通道包括多个流动路径和分别设置在部分或全部流动路径上的多个膜阀部，多个流动路径包括第一流动路径1、第二流动路径2、第三流动路径3、第四流动路径4、第五流动路径5、第六流动路径6、第七流动路径7、第八流动路径8、第九流动路径9和第十流动路径10等。此外，第一流动路径1、第二流动路径2、第三流动路径3、第四流动路径4、第五流动路径5、第六流动路径6、第七流动路径7、第八流动路径8、第九流动路径9和第十流动路径10中分别设置有第一膜阀部V1、第二膜阀部V2、第三膜阀部V3、第四膜阀部V4、第五膜阀部V5、第六膜阀部V6、第七膜阀部V7、第八膜阀部V8、第九膜阀部V9和第十膜阀部V10，这些膜阀部配置为控制对应的至少部分流体通道的连通和断开，从而可对应地关闭和开启所在的流动路径。
[0114] 下面，通过一个具体的示例，详细介绍检测仪与检测部件(例如，微流控芯片等检测芯片)配合进行核酸检测的操作步骤。
[0115] 步骤S1：加样步骤。
[0116] 将待测样品加入到检测部件的样品腔110。检测仪的电路控制组件8控制检测部件放置和进出组件1的第一电机1‑6驱动承载台1‑1伸出检测仪，将检测芯片放置到承载台1‑1上，然后控制第一电机1‑6驱动承载台1‑1进入检测仪。当承载台1‑1完全进入检测仪中后，检测部件放置和进出组件1中的光电开关1‑9的光通路被遮挡，光电开关1‑9开启，信号提示电路发出芯片到原点提示。
[0117] 步骤S2：样品和裂解冻干释放步骤。
[0118] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第一膜阀部V1提供气压，例如负压，以打开第一膜阀部V1，此时，样品腔110中的样品从样品腔110通过第一流动路径1首先流动到第一冻干腔102，溶解存储在第一冻干腔102的裂解冻干，然后流动到第一混匀腔130，之后，电路控制组件8控制气路组件7的气泵提供向第一膜阀部V1提供气压，例如正压，以关闭第一膜阀部V1。
[0119] 步骤S3：磁珠释放步骤。
[0120] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第二膜阀部V2提供气压，例如负压，以打开第二膜阀部V2，此时，磁珠腔120内的磁珠溶液(即含有磁珠的液体)通过第二流动路径2流动到第一混匀腔130。然后，电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第二膜阀部V2提供气压，例如正压，以关闭第二膜阀部V2。此时，裂解液、样品和磁珠溶液在第一混匀腔130混合。
[0121] 步骤S4：裂解和第一混匀步骤。
[0122] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，然后电路控制组件8控制混匀组件4的气缸4‑6的连接部与第一混匀腔130连接且密闭，并控制柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使得裂解液、样品和磁珠溶液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔140之间往返运输，以实现混匀。
[0123] 然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。
[0124] 步骤S5：第一磁珠收集和第二混匀步骤。
[0125] 例如，检测仪的电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5移动到第一混匀腔130的底部，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，然后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，此时，样品、裂解液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔140之间往返运动，最终使不具有磁珠的混合液停留在第二混匀腔140，而粘附有核酸分子的磁珠由于磁铁的吸附而停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5向远离第一混匀腔130的方向移动，并且电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。
[0126] 步骤S6：第一排空废液步骤。
[0127] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如负压，以打开第十膜阀部V10，此时，不具有磁珠的混合液作为废液从第二混匀腔140通过第十流动路径10流动到废液腔190，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如正压，以关闭第十膜阀部V10。
[0128] 步骤S7：第一清洗液释放步骤。
[0129] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第三膜阀部V3提供气压，例如负压，以打开第三膜阀部V3，此时，第一清洗液腔150内的第一清洗液从第一清洗液腔150通过第三流动路径3流动到第一混匀腔130并复溶停留于第一混匀腔130的磁珠，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第三膜阀部V3提供气压，例如正压，以关闭第三膜阀部V3。
[0130] 步骤S8：第一清洗和第三混匀步骤。
[0131] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，此时，第一混匀腔130中的第一清洗液通过第七流动路径7流动到第二混匀腔140，然后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使第一清洗液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔140之间往返运动，最终使混合液停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制气路组件
7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。
[0132] 步骤S9：第二磁珠收集和第四混匀步骤。
[0133] 例如，检测仪的电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5移动到第一混匀腔130的底部，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，之后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使第一清洗液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔
140之间往返运动，最终使不具有磁珠的混合液停留在第二混匀腔140，而粘附有核酸分子的磁珠由于磁铁的吸附而停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5向远离第一混匀腔130的方向移动，并控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。
[0134] 步骤S10：第二排空废液步骤。
[0135] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如负压，以打开第十膜阀部V10，此时，不具有磁珠的混合液作为废液从第二混匀腔140通过第十流动路径10流动到废液腔190，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如正压，以关闭第十膜阀部V10。
[0136] 步骤S11：第二清洗液释放步骤。
[0137] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第四膜阀部V4提供气压，例如负压，以打开第四膜阀部V4，此时，第二清洗液腔160中的第二清洗液从第二清洗液腔160通过第四流动路径4流动到第一混匀腔130并复溶停留于第一混匀腔130的磁珠，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第四膜阀部V4提供气压，例如正压，以关闭第四膜阀部V4。
[0138] 步骤S12：第二清洗和第五混匀步骤。
[0139] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，然后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使第二清洗液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔140之间往返运动，最终使混合液停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以关闭第七膜阀部V7。
[0140] 步骤S13：第三磁珠收集和第六混匀步骤。
[0141] 例如，检测仪的电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5移动到第一混匀腔130的底部，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，然后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使第二清洗液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔
140之间往返运动，最终使不具有磁珠的混合液停留在第二混匀腔140，而粘附有核酸分子的磁珠由于磁铁的吸附而停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5向远离第一混匀腔130的方向移动，并控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。
[0142] 步骤S14：第三排空废液步骤。
[0143] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如负压，以打开第十膜阀部V10，此时，不具有磁珠的混合液作为废液从第二混匀腔140通过第十流动路径10流动到废液腔190，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如正压，以关闭第十膜阀部V10。
[0144] 步骤S15：第三清洗液释放步骤。
[0145] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第五膜阀部V5提供气压，例如负压，以打开第五膜阀部V5，此时，第三清洗液腔170内的第三清洗液从第三清洗液腔170通过第五流动路径5流动到第一混匀腔130并复溶停留于第一混匀腔130的磁珠，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第五膜阀部V5提供气压，例如正压，以关闭第五膜阀部V5。
[0146] 步骤S16：第三清洗和第七混匀步骤。
[0147] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，然后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使第一清洗液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔140之间往返运动，最终使混合液停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。
[0148] 步骤S17：第四磁珠收集和第八混匀步骤。
[0149] 例如，检测仪的电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5移动到第一混匀腔130的底部，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，之后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使第二清洗液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔
140之间往返运动，最终使不具有磁珠的混合液停留在第二混匀腔140，而粘附有核酸分子的磁珠由于磁铁的吸附而停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5向远离第一混匀腔130的方向移动，并控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。例如，混匀次数(即，往返次数)可以设定为1‑100次。
[0150] 步骤S18：第四排空废液步骤。
[0151] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如负压，以打开第十膜阀部V10，此时，不具有磁珠的混合液作为废液从第二混匀腔140通过第十流动路径10流动到废液腔190，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵向第十膜阀部V10提供气压，例如正压，以关闭第十膜阀部V10。
[0152] 步骤S19：磁珠烘干步骤。
[0153] 例如，检测仪的电路控制组件8控制温度循环组件5的导热部5‑1加热第一混匀腔130的底部，并将温度保持在例如在30‑70℃范围内的一恒定温度一定时间以烘干磁珠表面。
[0154] 步骤S20：洗脱液释放步骤。
[0155] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第六膜阀部V6提供气压，例如负压，以打开第六膜阀部V6，此时，洗脱液腔180内的洗脱液从洗脱液腔180通过第六流动路径6流动到第一混匀腔130并复溶停留于第一混匀腔130的磁珠，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第六膜阀部V6提供气压，例如正压，以关闭第六膜阀部V6。
[0156] 步骤S21：洗脱和第九混匀步骤。
[0157] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，然后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使洗脱液和磁珠的混合液通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔140之间往返运动，最终使混合液停留在第一混匀腔130，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7并控制温度循环组件5的导热部5‑1停止加热。
[0158] 步骤S22：第五磁珠收集和第九混匀步骤。
[0159] 例如，检测仪的电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁3‑5移动到第一混匀腔130的底部，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第七膜阀部V7提供气压，例如负压，以打开第七膜阀部V7，之后电路控制组件8控制混匀组件4的柱塞杆4‑9在气缸4‑6内往复移动，使待扩增样品通过第七流动路径7在第一混匀腔130和第二混匀腔140之间往返运动，最终使不具有磁珠的待扩增样品停留在第二混匀腔140，而不带有核酸分子的磁珠由于磁铁的吸附而停留在第一混匀腔130，然后将电路控制组件8控制磁铁升降组件3将磁铁
3‑5向远离第一混匀腔130的方向移动，并控制气路组件7的气泵向第七膜阀部V7提供气压，例如正压，以关闭第七膜阀部V7。
[0160] 步骤S23：到扩增腔200的转移步骤。
[0161] 例如，检测仪的电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第八膜阀部V8和第九膜阀部V9提供气压，例如负压，以打开第八膜阀部V8和第九膜阀部V9，此时，待扩增样品通过第八流动路径8首先流动到第二冻干腔103以复溶第二冻干腔103中的扩增冻干，进而流动到扩增腔200。在充满扩增腔200之后通过第九流动路径9流动到透气腔400，然后电路控制组件8控制气路组件7的气泵7‑1向第八膜阀部V8和第九膜阀部V9提供气压，例如正压，以关闭第八膜阀部V8和第九膜阀部V9。这样的转移步骤有助于使待扩增样品充满扩增腔200，多余的含有核酸分子的洗脱液将停留在第八流动路径8、第九流动路径9或透气腔400中。
[0162] 步骤S24：扩增与检测步骤。
[0163] 例如，检测仪的电路控制组件8控制温度循环组件5的导热部5‑1、制冷部5‑2以及散热部5‑3对扩增腔进行PCR温度循环控制，以对其中的待扩增样品进行扩增，然后电路控制组件8控制检测组件6检测扩增后的样品的光学特性，以得到检测结果。例如，电路控制组件8控制检测组件6的传送带6‑4移动，以带动多个光学探头6‑1进行光学扫描，并通过控制光学探头6‑1的发光光路发射的光的波长范围，以实现对样本某一指标的检测。
[0164] 例如，电路控制组件8可以获取检测组件6的检测结果并将检测结果保存或者上传至云服务器。
[0165] 由此，通过检测仪与检测芯片的配合可以实现对核酸的全自动检测。
[0166] 当然，在其他实施例中，检测部件和检测仪的配合也可以实现其他简化的或者更加复杂的操作步骤，本公开的实施例对此不做具体限定。
[0167] 还有以下几点需要说明：
[0168] (1)本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
[0169] (2)为了清晰起见，在用于描述本公开的实施例的附图中，层或区域的厚度被放大或缩小，即这些附图并非按照实际的比例绘制。
[0170] (3)在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
[0171] 以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
