技术领域
[0001] 本申请涉及高低温环境试验箱参数检定技术领域，特别是涉及一种高低温环境试验箱热负载校验方法。
相关背景技术
[0002] 传统技术中，高低温环境试验箱的高低温环境试验箱热负载校验方法无法对高低温试验箱的关键性指标进行精确的检定。而高低温试验箱的检定精准度又直接影响利用该高低温环境试验箱进行电子器件可靠性测试的结果，所以，急需提供一种可精准进行高低温环境试验箱的检定方案。
具体实施方式
[0031] 为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0032] 在一个实施例中，如图1所示，提供了一种高低温环境试验箱热负载校验方法，应用于高低温环境试验箱，该高低温环境试验箱内放置有热负载，上述方法包括以下步骤：
[0033] S300，调节高低温环境试验箱的温度稳定在各预设检定温度。
[0034] S400，在高低温环境试验箱稳定在一预设试验温度的情况下，调节热负载的工作功率稳定在各预设功率。
[0035] 其中，为了保证高低温试验箱内部风速均匀性，根据高低温环境试验箱的内体积规定所使用的热负载的体积，热负载的体积应该小于或等于高低温环境试验箱的内体积的一半。
[0036] S600，获取高低温环境试验箱稳定在每个预设检定温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数。
[0037] 其中，检定参数包括偏差、波动度和均匀度。
[0038] 其中，可采用JJF1101‑2019中规定的方法，测量并记录该高低温环境试验箱的温度偏差D、波动度F、均匀度U。
[0039] 其中，获取高低温环境试验箱稳定在每个预设检定温度下，热负载处于不同工作功率时的鉴定参数后，分别取上述所有步骤中得到的偏差、波动度和均匀度的最大值，得到最大偏差、最大波动度和最大均匀度。将上述最大偏差、最大波动度和最大均匀度与GB/T 5170.2‑2017中所规定的值比较可以判断高低温环境试验箱在热负载情况下检定是否合格。
[0040] 上述高低温环境试验箱热负载校验方法首先调节所述高低温环境试验箱的温度稳定在各预设检定温度，然后在所述高低温环境试验箱稳定在一所述预设试验温度的情况下，调节所述热负载的工作功率稳定在各预设功率，最后获取所述高低温环境试验箱稳定在每个所述预设检定温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数，从而实现在热负载情况下对高低温环境试验箱的精确检定。
[0041] 在一个实施例中，如图2所示，步骤S300包括：
[0042] S310，调节高低温环境试验箱的温度在第一预设时间内维持在一预设检定温度。
[0043] 其中，第一预设时间可根据高低温环境试验箱常检测的待测电子产品而定，例如，可以为1小时。调节高低温环境试验箱的温度为一预设检定温度后，维持高低温环境试验箱处于该温度1小时，则认为高低温环境试验箱稳定在该温度值，可进行该温度下热负载在各个预设功率下的检定参数，然后调节高低温环境试验箱至其他预设温度，并进一步测量热负载在各个预设功率下的检定参数。
[0044] 在一个实施例中，如图2所示，步骤S400包括：
[0045] S410，调节热负载的工作功率在第二预设时间内维持在一预设功率。
[0046] 其中，第二预设时间可根据热负载的特性而设定，目的是要确定热负载稳定在某个工作功率，避免由于功率波动导致的检定结果不准确问题，例如，第二预设时间可以为1小时。调节热负载的工作功率为一预设功率后，维持热负载处于该功率1小时，然后调节热负载至其他预设功率。
[0047] 在一个实施例中，如图2所示，上述方法还包括步骤：
[0048] S100，根据高低温环境试验箱的设计指标确定最高检定温度和最低检定温度。
[0049] S200，根据最高检定温度和最低检定温度，确定各预设检定温度。
[0050] 其中，预设检定温度大于等于所述最低检定温度且小于等于所述最高检定温度。
[0051] 其中，最高检定温度为Tmax，最低检定温度为Tmin，预设检定温度可以是最低检定温度和最高检定温度所确定的温度范围内的任意值，预设检定温度的选择可根据高低温环境试验箱在进行电子产品可靠性测试时，经常要用到的测试温度来设定。例如，预设检定温度可设置为Tmin(小于‑70℃)、‑70℃、‑40℃、 ‑20℃、+40℃、+85℃和Tmax(大于+85℃)。
[0052] 其中，可以根据需要测试的高低温试验箱工作的温度范围设置最高检定温度和最低检定温度。
[0053] 在一个实施例中，步骤S300包括：
[0054] 从环境温度起，逐级增大温度至各预设温度直至最高检定温度。
[0055] 具体的，为更好的说明本申请实施例的实现过程，在此以预设检定温度设置为Tmin(小于‑70℃)、‑70℃、‑40℃、‑20℃、+40℃、+85℃和Tmax(大于 +85℃)的情况下进行温度调节的说明，但不对本申请实际保护范围造成限制。首先由环境温度调节至+40℃并维持该温度1小时，获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数；然后调节温度至+85℃并维持该温度1小时，获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数；最后，然后调节温度至Tmax并维持该温度1小时，获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数，完成高温下热负载检定。
[0056] 或从环境温度起，逐级减小温度至各预设温度直至最低检定温度。
[0057] 具体的，为更好的说明本申请实施例的实现过程，在此以预设检定温度设置为Tmin(小于‑70℃)、‑70℃、‑40℃、‑20℃、+40℃、+85℃和Tmax(大于 +85℃)的情况下进行温度调节的说明，但不对本申请实际保护范围造成限制。在将温度调节至Tmax并获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数，完成高温下热负载检定的情况下。可先将高低温环境试验箱温度降低至环境温度，然后由环境温度调节至‑20℃并维持该温度1小时，获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数；然后调节温度至‑40℃并维持该温度1小时，获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数；然后调节温度至‑70℃并维持该温度1小时，获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数；最后，然后调节温度至Tmin并维持该温度1小时，获取高低温环境试验箱稳定在该温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数，完成低温下热负载检定。
[0058] 在一个实施例中，上述方法还包括：
[0059] 根据高低温环境试验箱的设计指标确定最大热负载功率。
[0060] 根据最大热负载功率确定热负载的各预设功率。
[0061] 其中，根据高低温试验箱的设备指标确定最大热负载功率，例如，可结合试验箱的材料耐高温上限值等进行设置。
[0062] 其中，预设功率大于等于0且小于等于最大热负载功率，因此0至最大热负载功率为预设功率的设置区间。例如，可对0至最大热负载功率等分后得到多个预设功率，例如，可进行三等分后得到第一预设功率P1和第二预设功率P2 和最大热负载功率。
[0063] 在一个实施例中，调节热负载的工作功率稳定在各预设功率的步骤包括：
[0064] 由最小的预设功率逐级增大至最大的预设功率。
[0065] 具体的，对于将温度调节至某一预设检定温度的情况下，为更好的说明本申请实施例的实现过程，在此以预设功率包括第一预设功率P1和第二预设功率 P2和最大热负载功率为例进行说明，但不对本申请实际保护范围造成限制。首先将热负载功率调节热负载功率至第一预设功率P1并维持该预设功率1小时，获取热负载功率为P1时高低温环境试验箱在该预设检定温度时的检定参数；然后调节热负载功率至第一预设功率P2并维持该预设功率1小时，获取热负载功率为P2时高低温环境试验箱在该预设检定温度时的检定参数；最后，然后调节调节热负载功率至最大热负载功率并维持该预设功率1小时，获取热负载功率为最大热负载功率时高低温环境试验箱在该预设检定温度时的检定参数。通过调节预设检定温度至另一预设检定温度，并在调节后的预设检定温度下重复执行上述预设功率调节过程，从而获取高低温环境试验箱稳定在该预设检定温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数，完成低温下热负载检定。
[0066] 应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
[0067] 基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的高低温环境试验箱热负载校验方法的检定装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个检定装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于高低温环境试验箱热负载装置的限定，在此不再赘述。
[0068] 在一个实施例中，如图3所示，提供了一种检定装置，包括：温度调节模块、功率调节模块和检定参数获取模块，其中：
[0069] 温度调节模块300，用于调节所述高低温环境试验箱的温度稳定在各预设检定温度。
[0070] 功率调节模块400，用于在高低温环境试验箱稳定在一预设试验温度的情况下，调节热负载的工作功率稳定在各预设功率。
[0071] 检定参数获取模块600，用于获取高低温环境试验箱稳定在每个预设检定温度下，热负载处于不同工作功率时的检定参数。
[0072] 在一个实施例中，上述温度调节模块300包括：
[0073] 温度调节单元，用于调节高低温环境试验箱的温度在第一预设时间内维持在一预设检定温度。
[0074] 在一个实施例中，上述功率调节模块400包括：
[0075] 功率调节单元，用于调节热负载的工作功率在第二预设时间内维持在一预设功率。
[0076] 在一个实施例中，如图4所示，上述检定装置还包括：
[0077] 温度区间设定模块100，用于根据高低温环境试验箱的设计指标确定最高检定温度和最低检定温度。
[0078] 预设温度确定模块200，用于根据最高检定温度和最低检定温度，确定各预设检定温度。
[0079] 在一个实施例中，上述温度调节模块300还包括：
[0080] 第一逐级调温单元，用于从环境温度起，逐级增大温度至各预设温度直至最高检定温度。
[0081] 在一个实施例中，上述温度调节模块300还包括：
[0082] 第二逐级调温单元，用于从环境温度起，逐级减小温度至各预设温度直至最低检定温度。
[0083] 在一个实施例中，上述装置还包括：
[0084] 最大功率设定模块，用于根据高低温环境试验箱的设计指标确定最大热负载功率；
[0085] 预设功率设定模块，用于根据最大热负载功率确定所述热负载的各预设功率。
[0086] 在一个实施例中，功率调节模块400还包括：
[0087] 逐级功率调节单元，用于由最小的所述预设功率逐级增大至最大的所述预设功率。
[0088] 上述检定装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
[0089] 在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图4所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储各预设检定温度、各预设功率和检定参数。该计算机设备的网络接口用于与外部的高低温环境试验箱通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种高低温环境试验箱热负载校验方法。
[0090] 本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
[0091] 在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
[0092] 调节所述高低温环境试验箱的温度稳定在各预设检定温度；
[0093] 在所述高低温环境试验箱稳定在一所述预设试验温度的情况下，调节所述热负载的工作功率稳定在各预设功率；
[0094] 获取所述高低温环境试验箱稳定在每个所述预设检定温度下，所述热负载处于不同工作功率时的检定参数。
[0095] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0096] 调节所述高低温环境试验箱的温度在第一预设时间内维持在一预设检定温度。
[0097] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0098] 调节所述热负载的工作功率在第二预设时间内维持在一预设功率。
[0099] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0100] 根据高低温环境试验箱的设计指标确定最高检定温度和最低检定温度；
[0101] 根据最高检定温度和最低检定温度，确定各预设检定温度。
[0102] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0103] 从环境温度起，逐级增大温度至各预设温度直至最高检定温度。
[0104] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0105] 从环境温度起，逐级减小温度至各预设温度直至最低检定温度。
[0106] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0107] 根据高低温环境试验箱的设计指标确定最大热负载功率；
[0108] 根据最大热负载功率确定所述热负载的各所述预设功率。
[0109] 在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
[0110] 由最小的所述预设功率逐级增大至最大的所述预设功率。
[0111] 在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0112] 调节所述高低温环境试验箱的温度稳定在各预设检定温度；
[0113] 在所述高低温环境试验箱稳定在一所述预设试验温度的情况下，调节所述热负载的工作功率稳定在各预设功率；
[0114] 获取所述高低温环境试验箱稳定在每个所述预设检定温度下，所述热负载处于不同工作功率时的检定参数。
[0115] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0116] 调节所述高低温环境试验箱的温度在第一预设时间内维持在一预设检定温度。
[0117] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0118] 调节所述热负载的工作功率在第二预设时间内维持在一预设功率。
[0119] 在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0120] 根据高低温环境试验箱的设计指标确定最高检定温度和最低检定温度；
[0121] 根据最高检定温度和最低检定温度，确定各预设检定温度。
[0122] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0123] 从环境温度起，逐级增大温度至各预设温度直至最高检定温度。
[0124] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0125] 从环境温度起，逐级减小温度至各预设温度直至最低检定温度。
[0126] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0127] 根据高低温环境试验箱的设计指标确定最大热负载功率；
[0128] 根据最大热负载功率确定所述热负载的各所述预设功率。
[0129] 在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
[0130] 由最小的所述预设功率逐级增大至最大的所述预设功率。
[0131] 本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read‑Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器 (Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器 (Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory， DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
[0132] 以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0133] 以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。
