[0001] 本发明涉及一种测试技术，且特别涉及一种测试系统。

[0002] 传统上，在测试内嵌式静态随机存取存储器(embedded static random access memory；eSRAM)时，会进行两种测试。一种是使用存储器测试电路对存储器进行测试；另一种是对电路进行电路功能的测试，以由一输入逻辑电路对存储器输出后的输出逻辑电路进行测试，又称扫描测试(scan test)。然而，为了进行上述的测试，以及输出逻辑电路功能的运行正常，常常需要设置多个暂存器(register)，以解决存储器在时序上的延迟可能造成的数据错误。这样的设置方式，往往提高测试电路的硬件成本。

[0003] 因此，如何设计一个新的测试系统，以解决上述的缺失，乃为此一业界亟待解决的问题。