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一种大型镗铣床运动精度补偿方法有效专利 发明

技术领域

[0001] 本发明涉及机械加工领域,尤其涉及一种大型镗铣床运动精度补偿方法。

相关背景技术

[0002] 随着机械行业的迅猛发展,风电、冶金、船舶、水泥等行业均向大型化、精密化发展。因此,加工高精度大型机械零件对机床的要求越来越高,尤其对于镗铣床加工大型零件的难度更大,一方面,零件尺寸较大,零件精度常高于机床精度,对于机床加工精度要求更高;另一方面,机床实际加工精度与理论精度存在偏差,主要由于机床通常采用方尺、平尺进行坐标轴直线度精度补偿(通常<1000mm范围),对于超出范围精度,只能通过检测出趋势变化,进行线性计算,与实际值存在偏差,而通过设备维修人员进行维修,也仅能调试机床的静态精度,并且随着机床长期运行,其运动精度有所偏差,由于被加工零件自重,以及分布位置不同,也会对零件实际加工造成影响。
[0003] 因此,机床实际加工的运动精度对于大型高精度零件的加工尤为重要,寻求更契合大型镗铣床运动轴实际精度的方法,从而确保高形位精度零件的加工,显得额外重要。

具体实施方式

[0052] 下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
[0053] 参照图1-4,一种大型镗铣床运动精度补偿方法,更契合大型镗铣床运动轴实际精度,确保高形位精度零件的加工,包括以下步骤:
[0054] S1:根据运动方向将大型镗床建立坐标系,分别为水平左右移动为X轴、水平前后为V轴以及竖向运动为Y轴;
[0055] S2:通过打表方法检测X轴方向的偏差,并采用塞尺进行X轴方向调至水平,将调平后的X轴平面作为基准面;
[0056] S3:通过旋转机床、打表检测和塞尺补偿的方式对其它坐标轴和坐标轴间角度进行补偿。
[0057] 本发明在实际使用过程中,由静态校准变为动态校准,满足机床的实际状态,增大了补偿的范围,同时满足不同规格、不同精度的机床使用,通用性强。
[0058] 优化的,步骤S2中,对X轴进行精度补偿的步骤如下:
[0059] A1:将工件放置在工作台上,并对上表面进行铣平;
[0060] A2:在全尺寸加工范围,用百分表对零件在X轴方向进行打表,此时从左到右跳动值为0;
[0061] A3:将机床工作台水平旋转180°,在全尺寸机加工范围,用百分表对机床再次进行打表,此时从左到右找正跳动值计为B;
[0062] A4:X轴方向偏差理论值为Px=B/2;
[0063] A5:利用塞尺对工件在X轴方向调至水平。
[0064] 优化的,步骤A5中,利用塞尺进行补偿的方向,根据步骤A3状态下B值测量时高点的位置,高点在右端则进行正方向补偿,高点在左端进行负方向补偿。
[0065] 优化的,步骤S3中,对X/V轴的角度补偿方法如下:
[0066] B1:机床复位,检测零件在X轴方向的长度;
[0067] B2:机床旋转180°,重新测量X轴方向的长度;
[0068] B3:利用公式计算角度偏差αxv,公式为
[0069] αxv=arc cos(Lx’/Lx)
[0070] 式中:Lx为步骤B1中测量的长度,Lx’为步骤B2测量的长度;
[0071] B4:采用塞尺对αxv进行补偿。
[0072] 优化的,步骤S3中,V轴精度和V、Y轴角度补偿方法如下:
[0073] C1:工作台水平旋转90°;
[0074] C2:沿V轴从前到后用百分表对工件进行打表,跳动值为B’;
[0075] C3:V轴方向偏差理论值为Pv=B’,若高点在后端,则在V轴正方向补偿,若高点在前端,则在V轴负方向补偿;
[0076] C4:通过机床重新测量V方向零件长度Lv’;
[0077] C5:利用公式进行V、Y轴角度偏差αvy的计算,公式为:
[0078] αvy=arc cos(Lv’/Lx)
[0079] C6:用塞尺对Pv和αvy进行补偿。
[0080] 优化的,Y轴精度的补偿方法如下:
[0081] D1:将工件侧面铣平;
[0082] D2:全尺寸加工范围,用百分表对零件Y轴方向进行打表,
[0083] D3:将机床工作台水平旋转180°,在全尺寸机加工范围,用百分表对机床再次进行打表,从上到下找正跳动值为B”;
[0084] D4:Y轴方向偏差理论值为Py=B”/2,若高点在下端,则在V轴正方向补偿,若高点在上端,则在V轴负方向补偿;
[0085] D5:运用塞尺对Py进行补偿。
[0086] 优化的,X、Y轴角度补偿补偿方法如下:
[0087] E1:机测零件在Y轴方向的长度;
[0088] E2:工作台旋转180°,机床重新测量Y轴方向的零件长度;
[0089] E3:运用公式
[0090] αxy=arc cos(Ly’/Ly)
[0091] 进行计算,其中Ly为第一次测量的长度,Ly’为第二次测量的长度。
[0092] 具体的,所述百分表可以采用千分表替代。
[0093] 以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

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