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测量装置及测量方法无效专利 发明

技术总结

本发明提供一种测量装置,包括:通信器,用于接收来自第一测量机的第一信息,所述第一信息包含测量工件轮廓形成的点位信息和测量数据;发送所述点位信息至第二测量机;接收来自第二测量机的第二信息,所述第二信息形成于根据所述点位信息对所述工件轮廓的检测;处理器,与所述通信器电气连接,用于根据所述第二信息,调整所述测量数据,以形成第三信息。本发明同时提供一种测量方法,本发明通过第一测量机与第二测量机之间测量数据的共享,能够结合第一测量机与第二测量机的优势,实现预设的测量需求。

技术研发人员:

施向舟

受保护的技术研发主体:

深圳市裕展精密科技有限公司

技术申请主体:

深圳市裕展精密科技有限公司

技术研发申请日期:

2019-11-30

技术被公开/公告日期:

2020-04-10

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