[0001] 本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种识别码读取方法。

[0002] 识别码(ID)在薄膜晶体管(TFT)基板行业中主要用于产品的识别和信息的传递，基板上每一个单元(Chip)都会有独一无二的识别码标识，就如同每个人有一张自己的身份证一样。

[0003] 参见图1，其为现有的识别码读取方法流程图。目前识别码在读取过程中，主要分为两个步骤：识别码照片获取和识别码解码两个步骤；首先利用摄像机拍照获取识别码照片，然后利用解码器解码识别码图形以获取识别码所包含的信息。

[0004] 在显示面板制造工艺中，一般使用刻号机制作识别码，但是由于基板以及识别码在工艺上和生产上的差异会出现识别码异常的情况，给后续的识别码读取带来的困难。

[0005] 识别码异常会使得后续解码器无法识别，相关的信息也就无法传递。识别码异常最主要的形式就是识别码位置的偏移，目前监控主要靠摄像机(VCR)来识别，偏移的数值无法直接获得，想要获得的方法只能通过手动到量测机台进行量测，再进行手动补值。

[0006] 以第六代的5.5寸基板为例，每个基板上有500个左右的识别码，为了产线生产自动化，采用现有的识别码读取方法进行识别码读取，但是由于基板以及识别码在工艺上和生产上的差异所导致识别码异常的情况会降低识别码读取率，因此以目前的模式进行识别码读取不适合大规模生产的需要。

[0028] 参见图2，其为本发明识别码读取方法的流程图，主要包括：

[0029] 步骤10、识别码照片获取，利用摄像机拍照获取识别码照片；

[0030] 步骤20、识别码图形处理，对获取的识别码照片进行图形处理，通过新增识别码图形处理的过程对识别码读取的整体流程进行变更，从而提高识别码的读取成功率；

[0031] 步骤30、识别码解码，利用解码器解码识别码图形，从而获取识别码所包含的信息。其中，识别码为具体可以为各种类型的二维码，识别码在制程中可以由现有的刻号机进行制作，识别码解码可以利用现有的解码器。

[0032] 本发明在现有的识别码读取过程中的两个步骤之间新增加识别码图形处理的步骤，对获取的识别码照片进行图形处理，现有的识别码读取装置可以不变，增加一个图形处理过程。识别码图形处理过程可以包含点尺寸(Dot Size)变更、点外观变更和/或颗粒(Particle)处理等方面，后续会展开详细的说明。

[0033] 参见图3，其为本发明的识别码读取方法一较佳实施例中识别码点尺寸放大过程示意图。本发明识别码读取方法的步骤20具体可以包括：步骤21、放大识别码图形的识别码点尺寸标准。根据识别码的制作规则，识别码是由相同的点(Dot)组成，理想的识别码点的标准尺寸如图3所示的正方形格子，实际的识别码点尺寸的大小会影响后续解码。识别码点尺寸越大越容易解码，通过将识别码照片或识别码图形进行整体放大即可以从整体上放大识别码点尺寸。参见图3，识别码图形处理的第一步可以直接将拍照获得的照片进行整体放大，例如可以选择放大一倍，从而可以将识别码图形中的识别码点尺寸标准由处理前的30微米(um)相应放大到处理后的60微米大小，相应的放大了实际的识别码点尺寸。通过对识别码点尺寸进行变更，具体来说可以放大到点尺寸标准为60微米或者其他更大或者更适合的尺寸，最终使得使用目前行业内最低配置的解码器也可以实现解码的能力。

[0034] 参见图4，其为本发明的识别码读取方法一较佳实施例中识别码点外观变更过程示意图，可以在图3所示的识别码点尺寸放大过程基础上进行。本发明识别码读取方法的步骤20具体还可以包括：步骤22、预设识别码点外观变更比值参数，根据实际识别码点面积填充理想识别码点标准面积的比值进行识别码点外观变更。

[0035] 识别码制作装置如刻号机等制作(marking)出来的识别码的点的图形外观可能有多种：有圆形的点，有方形的点等。

[0036] 识别码点外观变更的图形处理的依据是：预设识别码点外观变更比值参数，该比值参数表示实际识别码点面积填充理想识别码点标准面积的临界比值，例如可以设定这个比值参数为40％。那么当实际识别码点面积填充理想识别码点标准面积的比值超过40％时，则该实际识别码点在外观变更处理完后的识别码点图形为100％填满识别码点标准面积的识别码点，例如图4中处理前的实际识别码点1、2及3在识别码点外观变更处理完后变成填满识别码点标准面积的识别码点1’、2’及3’；实际识别码点面积填充理想识别码点标准面积的比值低于40％时则可以不显示，也就是该实际识别码点在外观变更处理完后的识别码点图形为空白，例如处理前的实际识别码点4在外观变更处理完后不显示。这样处理之后，识别码点图形的外观和图形(Pattern)大小可以接受变动的范围变大，对识别码点图形外观和图形大小的要求甚至可以被忽略。这样可以大大减低识别码制作(marking)时苛刻的品质要求，只要控制识别码点图形面积这一个参数即可。

[0037] 在本发明中，可以将用于判断实际识别码点显示和不显示的临界面积比值参数设置成一个可调整的参数，从而产线某些情况产生的识别码异常可以通过设置不同的参数来进行抵消(Cover)。

[0038] 参见图5，其为本发明的识别码读取方法一较佳实施例中识别码点颗粒处理过程示意图，可以在图4所示的识别码点外观变更基础上进行。本发明识别码读取方法的步骤20具体还可以包括：包括步骤23、根据颗粒面积填充理想识别码点标准面积的比值与比值参数的比较结果进行识别码点外观变更。

[0039] 特殊情况下，识别码可能因为颗粒(Particle)5、6及7等的存在造成读取异常，利用面积比的调整可以克服小面积的颗粒5、6及7带来的影响，如图5所示，经过图形处理，处理前小颗的颗粒5、6及7均会因为面积比不达标而被过滤，不在处理后的识别码图形中出现。可以被忽略掉的面积和识别码本身品质有关系。

[0040] 另外也可以设置算法，假如某个识别码点的图形中心和识别码标准面积不重合，则直接忽略该识别码点，从而也可以避开绝大部分外来干扰，保证识别码读取的成功。

[0041] 综上，本发明的识别码读取方法中采用现有的识别码读取装置不变，通过增加识别码图形处理过程，大大提高识别码的读取成功率；并且可以改善工艺上和生产上的差异给识别码读取带来的困难。

[0042] 以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。