技术领域
[0001] 本发明涉及一种LED光源测试方法,特别是一种采用光学成像模块可以对多路LED进行测试的LED光源测试方法。
相关背景技术
[0002] 目前MB(Main Board,主机板)/SB(System Board,系统板)上LED(Light Emitting Diode,发光二极管)元件的亮度与颜色的测试在ICT(In Circuit Test,在线电路测试)治具上已运用得十分广泛。其常用测试用模块分单体测试模块与8合1测试模块。其中,单体测试模块只能测试一路LED光源,8合1测试模块提供8路单独LED光源输入测试端口。单体测试模块使用灵活,但是成本较高,不适合多路LED光源测试。8合1测试模块不适合少数量的LED光源测试,常常有许多端口闲置未使用。当要求测试的LED光源超过一定数量时,需要不断增加测试模块,但ICT治具上空间有限,这样会造成设计、使用、维护困难。
[0003] 有鉴于此,本发明提供一种采用光学成像模块可以对多路LED光源进行测试的LED光源测试方法。