技术领域
[0001] 本发明涉及通信技术领域，尤其涉及信息校验方法及信息校验系统。
相关背景技术
[0002] AT(Attention)命令有两种解释，一种是调制解调器命令语言，另一种是 Windows中的计划任务命令行；在使用过程中，AT命令语法自身未考虑传输内 容的准确到达，当通信双方的传输通路出现数据异常、丢数据等恶劣情况时， 会造成AT业务双方的信息传递错误，引起重大的技术事故。例如，对于双方进 行电表度数的AT命令交互时，若电表度数值发生错误，必然会引起计费错误； 再如，通过AT命令进行控制命令的传输，若传输的操作指令发生传输错误，必 然造成业务操作方操作异常，引发重大的安全事故。
[0003] 申请号为201410282815.3的中国发明专利，公开了一种信息校验方法及设 备，所述信息校验方法包括，获取多条校验规则对当前信息之前的至少一个信 息进行校验得到的所述多条校验规则对应的校验因子，所述校验因子表征所述 校验规则的通过率；根据所述多条校验规则对应的校验因子调整所述多条校验 规则之间的排列顺序；按照调整后的排列顺序，依次使用所述多条校验规则对 当前信息进行校验。但上述方案通过使用多条校验规则对当前信息进行校验， 校验过程相当繁琐。
具体实施方式
[0023] 为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明的附图， 对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例 是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本 领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都 属于本发明保护的范围。除非另外定义，此处使用的技术术语或者科学术语应 当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本文中使用的 “包括”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列 举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。
[0024] 针对现有技术存在的问题，本发明提供了一种信息校验方法，图1为本发 明的信息校验方法的流程图，参考图1，包括，
[0025] S1：发送方将携带样品信息和校验参数的校验命令发送给接收方；
[0026] S2：所述接收方接收到所述校验命令后，对所述样品信息进行计算得到校 验值，然后将所述校验参数与所述校验值进行比较，得到校验结果，所述接收 方将所述校验结果反馈给所述发送方；
[0027] S3：所述发送方根据所述校验结果判断是否重新发送所述校验命令。
[0028] 本发明还提供了一种信息校验系统，图2本发明的信息校验系统的结构框 图，参考图2，包括发送处理模块11、接收模块121、接收端计算模块122、校 验模块123、反馈模块124和判断处理模块13；所述发送方设置有发送处理模 块11和判断处理模块13，所述接收方设置有所述接收模块121、所述接收端计 算模块122、所述校验模块123和所述反馈模块
124。
[0029] 所述发送处理模块11用于发送携带所述样品信息和所述校验参数的校验命 令；
[0030] 所述接收模块121用于接收所述校验命令；
[0031] 所述接收端计算模块122用于对所述样品信息进行计算以得到校验值；
[0032] 所述校验模块123用于对所述校验参数与所述校验值进行比较，得到校验 结果；
[0033] 所述反馈模块124用于将所述校验结果反馈给所述发送方；
[0034] 所述判断处理模块13用于根据所述校验结果判断是否重新发送所述校验命 令。
[0035] 图3为本发明的发送处理模块11的结构框图，参考图3，所述发送处理模 块11包括，发送端计算模块111、携带模块112和发送模块113。所述发送端计 算模块111用于对所述样品信息计算以得到所述校验参数；所述携带模块112 用于所述校验命令携带所述校验参数和所述样品信息；所述发送模块113用于 将所述校验命令发送给所述接收方。
[0036] 图4为本发明的判断处理模块13的结构框图，参考图4，所述判断处理模 块13包括判断模块131和重新发送模块132；所述判断模块用于判断所述校验 结果，以发送肯定结果或否定结果；所述重新发送模块132用于将所述发送方 对所述校验命令进行重新发送给所述接收方。
[0037] 本发明的一些具体实施例中，本发明是在第三代合作伙伴计划(3rd Generation Partnership Project，3GPP)和基于蜂窝网络的窄带物联网(Narrow Band Internet ofThings，NB-IoT)的基础上进行。
[0038] 本发明的一些实施例中，所述校验命令为AT命令。
[0039] 本发明的一些实施例中，所述发送方根据校验机制对所述样品信息进行计 算，以得到所述校验参数，所述接收方根据所述校验机制对所述样品信息进行 计算，以得到所述校验值。
[0040] 本发明的一些实施例中，所述校验机制包括循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check，CRC校验)、奇偶校验或总和校验(checksum校验)。
[0041] 本发明的一些实施例中，所述接收方得到所述校验结果为所述校验值参数与 所述校验值相同，所述接收方反馈肯定结果给所述发送方，所述发送方不重新 发送所述校验命令。
[0042] 本发明的一些实施例中，所述接收方得到所述校验结果为所述校验值参数与 所述校验值不同，所述接收方反馈否定结果给所述发送方，所述发送方重新发 送所述校验命令。
[0043] 本发明中的一些具体的实施例中，所述接收方还设置有检测模块(图中未 标出)，所述检测模块设置在所述接收模块121和所述接收端计算模块122之 间，用于检测接收到所述校验命令中的所述校验参数和所述样品信息，以方便 所述接收端计算模块对所述样品信息的计算和所述校验模块对所述校验参数和 所述校验值的比较。
[0044] 本发明中的一些具体实施中，所述发送方还设置有第一选择模块(图中未 标出)，所述接收方还设置有第二选择模块(图中未标出)，所述第一选择模 块和所述第二选择模块均用于选择所述校验机制，且选择的校验机制相同。
[0045] 本发明的一些具体实施例中，所述样品信息为电表度数参数和采集时间参 数，所述发送方为上位机的微控制单元(MCU)，所述接收方为NB-IoT芯片， 所述MCU通过串口与所述芯片相连。所述MCU通过采集模块(图中未标出) 周期性采集电表度数和记录采集时间，所述电表度数和所述采集时间转换成所 述电表度数参数和所述采集时间参数；所述第一选择模块选择所述checksum校 验机制；所述发送端计算模块将所述电表度数参数和所述采集时间参数带入到 所述checksum校验机制中计算出所述校验参数，具体的所述采集时间参数为 3257，所述电表度数参数为5，根据所述checksum校验机制计算得到的所述校 验参数为89324；所述携带模块将所述采集时间参数、所述电表度数参数和所述 校验参数组装形成AT命令；所述MCU通过所述发送模块将所述AT命令发送 给所述NB-IoT芯片。
[0046] 所述NB-IoT芯片通过接收模块接收到所述AT命令，并通过所述检测模块检 测到所述AT命令中包含的所述采集时间参数、所述电表度数参数和所述校验参 数；所述NB-IoT芯片通过接收端计算模块将检测到的所述采集时间参数和所述 电表度数参数，并根据所述第二选择模块选择的所述checksum校验机制，解析 计算出所述校验值；同时所述NB-IoT芯片通过所述校验模块将所述校验参数与 所述校验值进行比较校验，得到校验结果，所述校验结果为所述校验参数与所 述校验值相同，反馈肯定结果给所述MCU，所述校验参数与所述校验值不同， 反馈肯定否定给所述MCU。
[0047] 所述MCU通过所述判断模块对所述校验结果进行判断，若所述校验参数与 所述校验值相同校验通过，得到肯定反馈，所述MCU不重新发送所述AT命令； 若所述校验参数与所述校验值不同校验失败，得到否定反馈，所述MCU通过所 述重新发送模块将所述所述AT命令重新发送给所述NB-IoT芯片。
[0048] 虽然在上文中详细说明了本发明的实施方式，但是对于本领域的技术人员来 说显而易见的是，能够对这些实施方式进行各种修改和变化。但是，应理解， 这种修改和变化都属于权利要求书中所述的本发明的范围和精神之内。而且， 在此说明的本发明可有其它的实施方式，并且可通过多种方式实施或实现。
