[0001] 本发明涉及一种辐照装置照射剂量的控制装置，特别涉及一种加速器质谱测量微粒中铀同位素丰度比的方法。

[0002] 在核保障监督领域中，环境取样分析技术的引入大大加强了未申报核活动及核材料的探测能力，现已成为例行核保障技术。

[0003] 在环境取样分析技术中，环境样品微粒中铀同位素丰度比的分析方法作为最重要的分析手段备受关注。该方法通过对环境样品微粒中铀同位素丰度比的分析，对是否存在未申报含铀材料及铀材料的生产等作出准确判断，从而实现相应的核保障监督。

[0004] 目前，环境样品微粒中铀同位素丰度比的分析方法主要采用二次离子质谱(SIMS)分析和裂变径迹-热表面电离质谱(FT-TIMS)分析这两种分析方法，但这两种方法均存在着固有的不足之处，从而导致其应用受到限制。

[0005] 对于二次离子质谱分析来说，样品微粒中存在的铅元素与用作样品载体的碳206 12 16 + 207 12 16 + 208 12 16 +
垫会形成 Pb C O、Pb C O、Pb C O等多原子离子，这些多原子离子的质量数为
234 235 236
234-236，与 U、U、 U的质量数相同或相近，因此对铀同位素丰度比的准确测定形成严重干扰，影响分析结果的准确性。

[0006] 而裂变径迹-热表面电离质谱分析由于其丰度灵敏度在10-6左右，因此对于236 238 -5 235
U/ U同位素比低于10 的样品来说， U在质量数为236位置上的拖尾以及质量数为236
235 + 236
的 UH的存在，会严重干扰 U的准确测定。

[0007] 加速器质谱作为一种高灵敏度的同位素测量方法，具有丰度灵敏度高(同位素丰-15 4度比值可达10 )，样品用量少(1mg，探测限可达10个原子)，测量时间短等优点，但至今未见其在微粒中铀同位素丰度比测量方面较为成熟的应用。由于将加速器质谱应用于微粒中铀同位素丰度比测量需要涉及到样品制备和分析过程中诸多因素的考量，因此若要实现微粒中铀同位素丰度比的加速器质谱测量，就需要开发一种适于实用的分析方法。

[0021] 下面结合具体实施例对本发明的实施方式作进一步的说明。

[0022] 实施例1

[0023] 采用本发明的加速器质谱测量微粒中铀同位素丰度比的方法对某擦拭样品进行分析，主要步骤如下：

[0024] (一)将擦拭样品置于乙醇中，通过超声振荡使样品微粒脱离载体；将所得含有样品微粒的乙醇转移至石墨片上，加热蒸干乙醇后得到载有样品微粒的石墨片；

[0025] (二)将载有样品微粒的石墨片置于扫描电镜的电镜腔内，所述扫描电镜具备微操作和X射线能谱功能；同时，在扫描电镜的电镜腔内还放入硅片；采用扫描电镜在石墨片上寻找单个样品微粒；

[0026] (三)通过扫描电镜的X射线能谱功能判断找到的单个样品微粒是否为含铀微粒；当找到含铀微粒后，通过扫描电镜的微操作功能将其转移至硅片；

[0027] (四)将载有含铀微粒的硅片转移至样品瓶中，在样品瓶中加入质量百分比浓度