技术领域
[0001] 本发明涉及显示器制造技术领域，具体地，涉及一种分析载物台。
相关背景技术
[0002] 目前，液晶电子分析行业中，生产液晶显示屏单体的过程产生的种种不良，包括：
[0003] 1)偏光片不良、例如，偏光片内的异物和气泡超限；
[0004] 2)电路板不良，例如，掉件、虚焊、连接器不良等；
[0005] 3)背光源原材类不良，例如，背光源白点、异物、污渍等不良。
[0006] 这些不良中由于不良点较小、肉眼不易发现，需要获取相应的分析样品，然后通过目镜或显微镜等分析工具进行分析。但现有技术中缺少承载和固定上述待分析样品的分析载物台。
具体实施方式
[0032] 为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
[0033] 实施例1：
[0034] 如图1所示，本实施例提供一种分析载物台，包括：台板1，所述台板1包括用于放置待分析样品的工作面11和与所述工作面11相对的背面(图1未示出)；
[0035] 能沿所述台板1长度方向移动的两个夹持部2；所述夹持部2包括：位于所述台板1宽度方向两侧的支撑件21，以及与所述支撑件21可转动连接的横梁22；与所述横梁22固定连接的至少一个夹片23，所述夹片23用于夹持待分析样品。
[0036] 本实施例的分析载物台根据待分析样品的尺寸，通过能在台板1的长度方向上移动的夹持部2来调节夹片23的夹持位置，实现待分析样品在分析载物台上的承载和夹持，有利于待分析样品在目镜或显微镜等分析工具下进行各种不良分析。
[0037] 优选地，所述夹片23以与所述横梁22的连点为界包括长端231和短端232；所述支持部的夹片23的长端231相对设置，用于夹持待分析样品。
[0038] 优选地，所述支撑件21上设有第一连接端211；所述横梁22的端部设有第二连接端221；所述第一连接端211和所述第二连接端221通过弹性件连接。优选的，上述第二连接端221位于横梁22穿出支撑件21的端部，其中，所述横梁22的端部通过挡圈222固定；优选的，所述横梁22和所述挡圈222的设有与所述螺栓相配合的螺纹孔。
[0039] 上述第二连接端221可以为螺栓，通过螺栓拧入将挡圈222固定，通过挡圈222的固定实现横梁22在其轴向的固定。弹性件的一端连接至该螺栓。应当理解的是，上述的第二连接端221与横梁22的连接也可以键/销等连接方式。
[0040] 这样在夹片23调节位置后，弹性力通过螺栓传递到与该螺栓固定连接的横梁22上，并通过横梁22的旋转传递到与横梁22固定连接的夹片23的长端231，在长端231与台板1的工作面11之间形成夹持，从而可以将位于夹片23的长端231与台板1的工作面11之间的待分析样品夹持。其中，横梁22可以与夹片23通过螺栓固定连接。
[0041] 为实现夹持部2和台板1在沿台板1长度方向上相对移动，所述台板1宽度方向的侧面上沿长度方向设有凸条212；所述支撑件21设有与所述凸条212相配合的凹槽13。这样凸条212和凹槽13形成滑轨，保证夹持部2和台板1的沿台板1长度方向上相互移动。
应当理解的是，也可以在台板1宽度方向的侧面设置凹槽13，在支撑件21设有相对应的凸条212。
[0042] 优选的，所述支撑件21上与所述台板1宽度方向侧面相对部分设有紧固栓213，用于将所述支撑件21和所述台板1夹紧。应当理解的是，紧固栓213可以为螺栓，当支撑件21移动至适当位置后，拧紧紧固栓213使紧固栓213的与台板1的侧面相接触从而将支撑件21和台板1固定。
[0043] 优选的，所述台板1还包括位于长度方向上两端的支脚14；所述支脚14用于支撑台板1。
[0044] 优选的，所述台板1的工作面11是采用电木材料制备的，进行防静电设计，针对印刷电路板(PCB)等不良分析固定时，防止静电击穿。
[0045] 实施例2
[0046] 如图2所示，本实施例提供一种分析载物台，与实施例1不同的是，分析载物台还包括底板3，所述底板3位于所述台板1的背面一侧，并通过位于所述台板1宽度方向的两端分别与所述支撑件21固定连接。例如，可以通过螺栓固定连接。
[0047] 优选的，所述台板1还包括位于长度方向上两端的支脚14；所述支脚14在垂直于所述台板1背面方向上的高度大于所述底板3在垂直于所述台板1背面方向上的厚度。这样能是底板3在台板1的背面自由移动。
[0048] 优选的，所述底板3包括位于所述台板1宽度方向两侧的端部；所述两端部上设有第一连接端211，所述第一连接端211与所述第二连接端221通过弹性件连接。优选的，所述弹性件为弹簧4。
[0049] 可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
