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微纳米卡尺
微纳米卡尺
失效专利
发明
技术领域
[0001] 本发明涉及物理测量技术领域，具体涉及一种长度测量的微纳米卡尺。
相关背景技术
[0002] 在工农业生产、国防建设以及科研工作中，人们需要对物体进行度量，如机械工业生产中常用的游标卡尺、地理测绘上的红外测距仪等等，但传统的这些长度测量仪器和工具，其测量精度只能达到毫米级，无法提高到微米级、纳米级，因此，不能满足迅速发展的工农业生产，国防建设和科研工作对于计量精度的需求，束缚和制约科学技术的发展和应用，成为国内外物理测量技术领域的一大技术难题。
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