首页
专代考试
考试大纲
模拟考试
考试排行榜
考试中心
我的考试
错题集
题库
历年真题
我要出题
我要审题
IP资料库
文件
图片
音视频
知识分享
专利申请
专利申请流程
专利申请费用
职务发明
专利申请资助
发明专利申请
AI专利申请
专利年费缴纳
专利质量
专利布局
专利考试
专利法
相关法
实务
专利诉讼
无效诉讼
侵权诉讼
国际诉讼
专利检索
检索策略
平台检索技巧
查新检索
防侵权检索
技术主题检索
无效检索
专利分析
侵权风险分析
价值分析
知产评议
商标相关
无效与诉讼
申请与布局
检索与分析
版权相关
文字作品
音频视频
书画摄影
软件著作
问答专区
求职招聘
找工作
找人才
专栏文章
资深文章
作者
我要投稿
企业入驻
个人入驻
排行榜
代理所排行榜
代理人排行榜
代理所区域排行榜
找代理所
找代理人
大学专利排行榜
企业竞争力分析
专利申请
登录 /
注册
专利汇授权登录
首页
/
微纳米卡尺
微纳米卡尺
失效专利
发明
技术领域
[0001] 本发明涉及物理测量技术领域,具体涉及一种长度测量的微纳米卡尺。
相关背景技术
[0002] 在工农业生产、国防建设以及科研工作中,人们需要对物体进行度量,如机械工业生产中常用的游标卡尺、地理测绘上的红外测距仪等等,但传统的这些长度测量仪器和工具,其测量精度只能达到毫米级,无法提高到微米级、纳米级,因此,不能满足迅速发展的工农业生产,国防建设和科研工作对于计量精度的需求,束缚和制约科学技术的发展和应用,成为国内外物理测量技术领域的一大技术难题。
查看完整全部详细技术资料
当前第1页
第1页
第2页
第3页
相关技术
纳米卡尺相关技术
周泉清发明人的其他相关专利技术