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微纳米卡尺失效专利 发明

技术领域

[0001] 本发明涉及物理测量技术领域,具体涉及一种长度测量的微纳米卡尺。

相关背景技术

[0002] 在工农业生产、国防建设以及科研工作中,人们需要对物体进行度量,如机械工业生产中常用的游标卡尺、地理测绘上的红外测距仪等等,但传统的这些长度测量仪器和工具,其测量精度只能达到毫米级,无法提高到微米级、纳米级,因此,不能满足迅速发展的工农业生产,国防建设和科研工作对于计量精度的需求,束缚和制约科学技术的发展和应用,成为国内外物理测量技术领域的一大技术难题。

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