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板卡的测试方法、装置、存储介质及电子设备公开 发明

技术总结

本申请实施例提供了一种板卡的测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备,涉及计算机领域,该方法包括:在确定多个待测板卡均已上电的情况下,通过切换模块并行向多个待测板卡发出测试指令。在多个待测板卡运行对应的测试脚本的过程中,通过切换模块分别获取多个待测板卡的温度情况;根据多个待测板卡的温度情况,通过切换模块分别向多个待测板卡发出温控指令。在根据目标待测板卡反馈的针对测试脚本的测试结果确定目标待测板卡功能正常、且确定目标待测板卡在测试过程中的温度保持在预设范围内的情况下,确定目标待测板卡测试合格。通过并行向多个待测板卡发出测试指令,从而多个待测板卡可以同时开始测试,提高了测试效率。

技术研发人员:

魏然; 付长昭; 吴建国; 高明亮; 王永光

受保护的技术研发主体:

苏州元脑智能科技有限公司

技术申请主体:

苏州元脑智能科技有限公司

技术研发申请日期:

2024-12-20

技术被公开/公告日期:

2025-04-04

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