技术领域
[0001] 本公开涉及显示技术领域，特别是涉及一种测试装置及其应用于测试装置的测试方法。
相关背景技术
[0002] 有机发光二极管(Organic Light Emitting Diodes,OLED)显示面板在生产制造过程中涉及多个点灯工序用于画质优化及画质确认。但由于设备压接精度等因素影响，机器压接常出现压接异常的情况。这种电路的连接异常将导致显示面板的供电环境与设计不同，在上电过程中出现驱动芯片工作异常，部分供电回路出现大电流等上电异常现象，该问题极有可能导致产品出现不可恢复的损伤。
具体实施方式
[0045] 为了更清楚地说明本公开，下面结合优选实施例和附图对本公开做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本公开的保护范围。
[0046] 需要说明的是，除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。
[0047] 相关技术中，为了避免检测装置与待测显示面板的连接件之间机器压接异常问题，一般方案为监测点点灯治具的输出端电压和/或电流情况，当上电过程中输出端电压和/或电流出现异常时，将中断上电，以期避免长时间异常导致问题。但是，这种在上电状态下监控输出电压电流的方案，至多能在异常上电状态出现时中断上电过程，但实际上并不能够在异常出现前提前识别，而实质上上电异常一旦发生，即可能导致产品出现不可恢复的损伤。
[0048] 为了解决以上问题至少之一，本公开的实施例提供一种测试装置，包括：控制器100、连接器200和测试电路300，
[0049] 连接器200，包括多个测试端，用于与待测显示面板的测试连接件电连接，[0050] 测试电路300，与测试端电连接，测试电路300包括第一开关单元301和测试单元302，
[0051] 第一开关单元301响应于控制器100输出的控制信号将测试单元302与测试端电连接，以测试连接器200与测试连接件的压接状态。
[0052] 在本实施例中，通过提供测试电路，且测试电路包括第一开关单元和测试单元，并基于控制信号利用第一开关单元将测试单元与测试端电连接，以测试连接器与测试连接件的压接状态，从而能够在上电前识别异常压接状态，避免异常上电时损伤待测显示面板，降低生产成本，具有广阔的应用前景。
[0053] 为了详细说明本公开实施例中的测试装置的结构和功能，下面结合具体示例详细进行说明。
[0054] 在一具体的示例中，参照图2所示，图中水平虚线以下表示测试装置，水平虚线以上表示待测显示面板的测试连接件连接的被测端等效电路，其中省略提供控制信号的控制器。
[0055] 需要说明的是，待测显示面板可以通过测试连接件与测试装置的连接器200电连接。通常测试连接件例如为具有接插头的一个或多个柔性排线，接插头中具有与待测线路一一对应的压接端。
[0056] 测试装置中的连接器可以为与测试连接件对应压接的插口，其中包括与测试连接件的压阶端对应的接口端，每个接口端即为一个与上述压接端一一对应的测试端，在点灯测试时，每个测试端将接收点灯信号并对显示面板进行点灯测试。因此，在电路原理图中，以Signal 1、Signal 2、…、Signal N表示各个测试端，N为大于1的正整数。
[0057] 在该示例中，测试电路300包括第一开关单元301‑1和测试单元302‑1，第一开关301‑1电连接至测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N。其中，如图2所示，第一开关单元
301‑1包括N个第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N，测试单元302‑1包括N个测试模块302_1、
302_2、…、302_N。
[0058] 具体地，参照图2所示，若以大于等于1的正整数第n表示第1至第N中的任意一个，第n个第一开关的第一极电连接至第n个测试端，第二极电连接至第n个测试模块的第一端，控制极电连接至控制器100，第n个测试模块的第二端接地。尽管未示出具体结构，第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N中的每个可以为受控晶体管，在控制极接收的控制信号控制下，将第一极和第二极导通。
[0059] 第n个测试模块302_n包括恒流源、测试电阻R和模数转换器ADC，测试电阻R的第一端与模数转换器ADC的第一端电连接并作为第n个测试模块302_n的第一端，测试电阻R的第二端电连接至恒流源的第一端，恒流源的第二端与模数转换器ADC的第二端电连接并作为第n个测试模块302_n的第二端。
[0060] 在该示例中，相当于每个测试端signal n对应于1个第一开关S1_n和1个测试模块302_n，第一开关S1_n单独控制测试模块302_n到测试端Signal n的通断，当第一开关S1_n接收到控制其闭合的控制信号并响应于该控制信号而闭合时，将测试模块302_n电连接至测试端Signal n并对测试端Signal n对应的线路进行测试，从而能够在进行点灯测试前确定测试端Signal n与测试连接件的对应接口端的压接状态。
[0061] 例如，假定n＝1，在点灯测试前，第一开关S1_1的控制极接收到控制器100的控制信号并响应于该控制信号闭合，测试模块302_1电连接至Signal 1，测试模块302_1中的恒流源输出恒流信号I，形成测试电阻R到等效电阻R1到等效电容再到地的通路，其中等效电阻R1表示当前测试端Signal 1到地的等效电阻R1，待测显示面板对应线路的等效模型为电容。模数转换器ADC作为采样电路采集测试端Signal 1的对地电压值，通常恒流源输出毫安(mA)级的电流并且是已知的，通过欧姆定律则能够得到Signal 1当前的对地电阻值。
[0062] 可选地，测试装置还包括存储单元(未示出)，该存储单元中存储表示压接状态为正常的电阻值。
[0063] 例如，当前测试模块302_1中的ADC将采集的Signal 1的对地电压值输出至控制器100，控制器100读取存储单元存储的Signal 1在压接正常时的电阻值。若表示压接状态为正常时的电阻值为千欧级，当前对地电阻值也为千欧级，则二者差别不大，则可以确定压接状态正常；若当前对地电阻值仅为几欧姆或者几十欧姆，则可以确定该测试端出现了压接短路；若当前对地电阻值为千欧级或者更大，则可以确定该测试端出现了压接断路。
[0064] 当然，测试装置可以兼具点灯测试功能。也就是说，可选地，测试装置还包括与测试端电连接的供电单元，以向待测显示面板提供点灯信号。
[0065] 参照图3所示，其中示出了利用本示例的测试装置对显示面板进行测试的流程图。如图3所示，在将待测显示面板的待测连接件与连接器200电连接后，控制器100发出控制信号，控制测试电路300中测试单元的测试模块302_1、302_2、…、302_N电连接至测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N，以进行阻抗测试，各个测试模块中的模数转换器ADC采样得到测试端Signal 1、Signal2、…、Signal N的对地电压值，控制器100对测试结果进行比对，当确定出现压接状态异常时，测试人员可以重新对待测连接件与连接器200进行连接，并再次重复上述压接状态测试过程，直至获得压接状态正常的结果时，则正常上电进行点灯测试。
[0066] 通过以上设置，能够在对显示面板上电进行点灯测试前，预先判定压接是否存在异常，从而避免压接上电异常，避免显示面板因上电异常而损伤，提高产品良率，降低生产成本。
[0067] 当然，本申请并不旨在限定测试装置包括该存储单元或者控制器具备上述判断功能，测试装置中的模数装换器可以将采样的对地电压值读出到外接控制端通过该控制端存储的上述表示压接状态为正常的电阻值进行压接状态的判断。
[0068] 通过以上设置，通过提供与测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N电连接的测试电路，而测试电路包括与测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N一一对应的第一开关S1_1、S1_2、…S1_N和测试模块302_1、302_2、…、302_N，从而能够在对待测显示面板进行点灯测试前，通过控制器100向各个第一开关S1_1、S1_2、…S1_N输出独立的控制信号并利用测试模块302_1、302_2、…、302_N相对独立地测试各个测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N的压接状态。
[0069] 本领域技术人员可以理解，通过该设置，允许同时对所有测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N完成压接状态测试，测试模式更灵活且可以更省时，测试效率高。
[0070] 在另一具体的示例中，参照图4所示，图中水平虚线以下表示测试装置，水平虚线以上表示待测显示面板的测试连接件的被测端等效电路，其中省略提供控制信号的控制器100。
[0071] 与以上示例类似地，待测显示面板可以通过测试连接件与测试装置的连接器200电连接。通常测试连接件例如为具有接插头的一个或多个柔性排线，接插头中具有与待测线路一一对应的压接端。
[0072] 测试装置中的连接器可以为与测试连接件对应压接的插口，其中包括与测试连接件的压阶端对应的接口端，每个接口端即为一个与上述压接端一一对应的测试端，在点灯测试时，每个测试端将接收点灯信号并对显示面板进行点灯测试。因此，在电路原理图中，以Signal 1、Signal 2、…、Signal N表示各个测试端，N为大于1的正整数。
[0073] 在该示例中，测试电路300包括第一开关单元301‑2和测试单元302‑2，第一开关301‑2电连接至测试端Signal 1、Signal 2、…Signal N‑1、Signal N。其中，如图4所示，第一开关单元301‑2包括N‑1个第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N‑1，测试单元302‑2包括N‑1个测试模块302_1'、302_2'、…、302_N‑1'。
[0074] 具体地，参照图4所示，若以大于等于1的正整数第n表示第1至第N中的任意一个，第n个第一开关S1_n的第一极电连接至第n+1个测试端Signal n+1，第二极电连接至第n个测试模块302_n'的第一端，控制极电连接至控制器100，第n个测试模块302_n'的第二端电连接至第n个测试端Signal n。尽管未示出具体结构，第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N‑1中的每个可以为受控晶体管，在控制极接收的控制信号控制下，将第一极和第二极导通。
[0075] 第n个测试模块302_n'包括恒流源、测试电阻R、模数转换器ADC和第二开关S2。测试电阻R的第一端与模数转换器ADC的第一端电连接并作为第n个测试模块302_n'的第一端，测试电阻R的第二端电连接至恒流源的第一端，恒流源的第二端与模数转换器ADC的第二端电连接并电连接至第二开关S2的第一极，第二开关S2的第二极作为第n个测试模块302_2'的第二端，第二开关S2的控制极电连接至控制器100。
[0076] 在该示例中，相当于每两个测试端signal n和Signal n+1之间对应连接1个第一开关S1_n和1个测试模块302_n'，第一开关S1_n控制测试端Signal n到测试模块302_n再到测试端Signal n+1的通断。当第一开关S1_n接收到控制其闭合的控制信号并响应于该控制信号而闭合时，将测试模块302_n'电连接至测试端Signal n和测试端Signal n+1，并对测试端Signal n和Signal n+1对应的线路进行测试，从而能够在进行点灯测试前确定测试端Signal n和Signal n+1与测试连接件的对应接口端的压接状态。
[0077] 例如，假定n＝1，在点灯测试前，第一开关S1_1的控制极接收到控制其闭合的控制信号并响应于该控制信号闭合，测试模块302_1'电连接至Signal 2，同时测试模块302_1'的第二开关S2的控制极接收到控制其闭合的控制信号，模数转换器ADC和恒流源的第二端电连接至Signal 1，测试模块302_1'中的恒流源输出恒流信号I，形成测试端Signal 1的等效电阻R1到测试电阻R到测试端Signal 2的等效电阻R2到等效电容再到地的通路，其中等效电阻R1表示当前测试端Signal 1到地的等效电阻R1，等效电阻R2表示当前测试端Signal 2到地的等效电阻，待测显示面板对应线路的等效模型为电容。模数转换器ADC作为采样电路采集测试端Signal 1和Signal 2的对地电压和，通常恒流源输出毫安(mA)级的电流并且是已知的，通过欧姆定律则能够得到测试端Signal 1和Signal 2之间当前的对地电阻值。
[0078] 可选地，第n个第一开关S1_1的控制极与第n个测试模块302_n'中的第二开关的控制极电连接至控制器的同一信号端。
[0079] 可选地，测试装置还包括存储单元(未示出)，该存储单元中存储表示压接状态为正常的电阻值。
[0080] 例如，当前测试模块302_1'中的ADC将采集的测试端Signal 1和Signal 2的对地电压和输出至控制器100，并得到测试端Signal 1和Signal 2之间当前的对地电阻值，控制器读取存储单元存储的压接正常时的电阻值。若表示压接状态为正常时的电阻值为千欧级，当前对地电阻值也为千欧级，则二者差别不大，则可以确定压接状态正常；若当前对地电阻值仅为几欧姆或者几十欧姆，则可以确定该相邻两个测试端Signal 1和Signal 2出现了压接短路。
[0081] 当然，测试装置可以兼具点灯测试功能。也就是说，可选地，测试装置还包括与测试端电连接的供电单元，以向待测显示面板提供点灯信号。
[0082] 具体测试过程与上文描述图3所示的过程类似，即在点灯测试前先进行压接状态测试，当确定压接状态正常时，再上电进行点灯测试，通过以上设置，能够在对显示面板上电进行点灯测试前，预先判定压接是否存在异常，从而避免压接上电异常，进而避免显示面板因上电异常而损伤，提高产品良率，降低生产成本。
[0083] 本领域技术人员可以理解，通过该设置，允许同时对所有测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N完成压接状态测试，测试模式更灵活且可以更省时，测试效率高。此外，该示例相比于图2的示例减少一个测试模块。
[0084] 在另一具体的示例中，参照图5所示，图中水平虚线以下表示测试装置，水平虚线以上表示待测显示面板的测试连接件的被测端等效电路，其中省略提供控制信号的控制器。
[0085] 类似地，待测显示面板可以通过测试连接件与测试装置的连接器200电连接。通常测试连接件例如为具有接插头的一个或多个柔性排线，接插头中具有与待测线路一一对应的压接端。
[0086] 测试装置中的连接器可以为与测试连接件对应压接的插口，其中包括与测试连接件的压阶端对应的接口端，每个接口端即为一个与上述压接端一一对应的测试端，在点灯测试时，每个测试端将接收点灯信号并对显示面板进行点灯测试。因此，在电路原理图中，以Signal 1、Signal 2、…、Signal N表示各个测试端，N为大于1的正整数。
[0087] 在该示例中，测试电路300包括第一开关单元301‑3和测试单元302‑3，第一开关301‑3电连接至测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N。其中，如图5所示，第一开关单元
301‑3包括N个第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N，测试单元302‑3包括1个测试模块302_1。
[0088] 具体地，参照图5所示，若以大于等于1的正整数第n表示第1至第N中的任意一个，第n个第一开关S1_1的第一极电连接至第n个测试端Signal n，第二极电连接至测试模块302_1的第一端，控制极电连接至控制器100，测试模块302_1的第二端接地。尽管未示出具体结构，第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N中的每个可以为受控晶体管，在控制极接收的控制信号控制下，将第一极和第二极导通。
[0089] 测试模块302_1包括恒流源、测试电阻R和模数转换器ADC。测试电阻R的第一端与模数转换器ADC的第一端电连接并作为测试模块302_1的第一端，测试电阻R的第二端电连接至恒流源的第一端，恒流源的第二端与模数转换器ADC的第二端电连接并作为测试模块302_1的第二端。
[0090] 在该示例中，相当于每个测试端signal n对应于1个第一开关S1_n，所有测试端共用1个测试模块302_n。第一开关S1_n单独控制测试模块302_1到测试端Signal n的通断，当第一开关S1_n接收到控制其闭合的控制信号并响应于该控制信号而闭合时，将测试模块302_1电连接至测试端Signal n并对测试端Signal n对应的线路进行测试，从而能够在进行点灯测试前确定测试端Signal n与测试连接件的对应接口端的压接状态。
[0091] 本领域技术人员可以理解，在该示例中，对于每一个测试端Signal 1、Signal2、…、Signal N而言，当与待测测试端对应的第一开关被选中闭合后，对该测试端的压接状态测试原理过程与图2中对应单元的测试过程类似。
[0092] 例如，当n＝2，且S1_2闭合，前测试模块302_2中的ADC将采集的Signal2的对地电压值输出至控制器100，控制器100读取存储单元存储的Signal 2在压接正常时的电阻值。若表示压接状态为正常时的电阻值为千欧级，当前等对地电阻的值也为千欧级，则二者差别不大，则可以确定压接状态正常；若当前对地电阻值仅为几欧姆或者几十欧姆，则可以确定该测试端出现了压接短路；若当前对地电阻值为千欧级或者更大，则可以确定该测试端出现了压接断路。
[0093] 通过以上设置，能够在对显示面板上电进行点灯测试前，预先判定压接是否存在异常，从而避免压接上电异常，避免显示面板因上电异常而损伤，提高产品良率，降低生产成本。
[0094] 不同地是，由于所有测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N共用一个测试模块302_1，因此第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N每一个的控制极接收到的控制信号是分时的。通过该设置，大大简化了测试单元的元器件和走线数量，有利于测试装置的小型化，提高集成度，不过相对而言将不能够实现同时测试。例如，控制器可以连续依次输出对应于第一开关S1_1、S1_2、…、S1_N闭合的控制信号，并依次读出模数转换器ADC的采样数据，以完成压接状态测试。
[0095] 在另一具体的示例中，参照图6所示，图中水平虚线以下表示测试装置，水平虚线以上表示待测显示面板的测试连接件的被测端等效电路，其中省略提供控制信号的控制器100。
[0096] 类似地，待测显示面板可以通过测试连接件与测试装置的连接器200电连接。通常测试连接件例如为具有接插头的一个或多个柔性排线，接插头中具有与待测线路一一对应的压接端。
[0097] 测试装置中的连接器可以为与测试连接件对应压接的插口，其中包括与测试连接件的压阶端对应的接口端，每个接口端即为一个与上述压接端一一对应的测试端，在点灯测试时，每个测试端将接收点灯信号并对显示面板进行点灯测试。因此，在电路原理图中，以Signal 1、Signal 2、…、Signal N表示各个测试端，N为大于1的正整数。
[0098] 在该示例中，测试电路300包括第一开关单元301‑4和测试单元302‑4，第一开关301‑2电连接至测试端Signal 1、Signal 2、…Signal N‑1、Signal N。其中，参照图6所示，连接器200包括N个测试端Signal 1、Signal 2、…Signal N‑1、Signal N，第一开关单元
301‑4包括N‑1个第一开关S1_1、S1_2、…、S1_N‑1，测试单元302‑4包括1个测试模块302_1和N‑1个第二开关S2_1、S2_2、…、S2_N‑1。
[0099] 具体地，参照图6所示，若以大于等于1的正整数第n表示第1至第N中的任意一个，第n个第一开关S1_n的第一极电连接至第n+1个测试端Signal n+1，第二极电连接至测试模块302_1的第一端，控制极电连接至控制器100，第n个第二开关S2_n的第一极电连接至测试模块302_1的第二端，第二极电连接至第n个测试端Signal n，控制极电连接至控制器100。第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N‑1中的每个、以及第一开关S1_1、S1_2、…、以及S1_N‑1中的每个可以为受控晶体管，在控制极接收的控制信号控制下，将第一极和第二极导通。
[0100] 测试模块302_1包括恒流源、测试电阻R和模数转换器ADC，测试电阻R的第一端与模数转换器ADC的第一端电连接并作为测试模块302_1的第一端，测试电阻R的第二端电连接至恒流源的第一端，恒流源的第二端与模数转换器ADC的第二端电连接并作为测试模块302_1的第二端。
[0101] 在该示例中，相当于每两个测试端signal n和Signal n+1之间对应连接1个第一开关S1_n、1个测试模块302_1、以及1个第二开关S2_n。此外，每两个测试端之间均共用一个测试模块302_1，第一开关S1_n和第二开关S2_1共同控制测试端Signal n到测试模块302_n再到测试端Signal n+1的通断。当第一开关S1_n和第二开关S2_n同时接收到控制其闭合的控制信号并响应于该控制信号而闭合时，将测试模块302_1电连接至测试端Signal n和测试端Signal n+1，并对测试端Signal n和Signal n+1对应的线路进行测试，从而能够在进行点灯测试前确定测试端Signal n和Signal n+1与测试连接件的对应接口端的压接状态。
[0102] 本领域技术人员可以理解，在该示例中，对于每一个测试端Signal 1、Signal2、…、Signal N而言，当与待测测试端对应的第一开关被选中闭合后，对该测试端的压接状态测试原理过程与图4中对应单元的测试过程类似。
[0103] 例如，假定n＝2，在点灯测试前，第一开关S1_2和第二开关S2_2的控制极接收到控制其闭合的控制信号并响应于该控制信号闭合，测试模块302_1电连接至测试端Signal 2和测试端Signal 3，测试模块302_1中的恒流源输出恒流信号I，形成测试端Signal 2的等效电阻R2到测试电阻R到测试端Signal 3的等效电阻R3到等效电容再到地的通路，其中等效电阻R2表示当前测试端Signal 2到地的等效电阻，等效电阻R3表示当前测试端Signal 3到地的等效电阻，待测显示面板对应线路的等效模型为电容。模数转换器ADC作为采样电路采集测试端Signal 2和Signal 3的对地电压和，通常恒流源输出毫安(mA)级的电流并且是已知的，通过欧姆定律则能够得到测试端Signal 2和Signal 3之间当前的对地电阻值。
[0104] 若表示压接状态为正常时的电阻值为千欧级，当前等对地电阻的值也为千欧级，则二者差别不大，则可以确定压接状态正常；若当前对地电阻值仅为几欧姆或者几十欧姆，则可以确定该相邻两个测试端Signal 2和Signal 3出现了压接短路。
[0105] 通过以上设置，能够在对显示面板上电进行点灯测试前，预先判定压接是否存在异常，从而避免压接上电异常，避免显示面板因上电异常而损伤，提高产品良率，降低生产成本。
[0106] 不同地是，由于所有测试端Signal 1、Signal 2、…、Signal N共用一个测试模块302_1，因此第一开关S1_1、S1_2、…和S1_N‑1、以及第二开关S2_1、S1_2、…和S2_N‑1每一个的控制极接收到的控制信号是分时的。对应的第一开关和第二开关接收到的控制信号应该是相同的。通过该设置，大大简化了测试单元的元器件，有利于测试装置的小型化，提高集成度，不过相对而言将不能够实现同时测试。例如，控制器可以连续依次输出对应于第一开关S1_1、S1_2、…、S1_N‑1以及第二开关S2_1、S2_2、…、S2_N‑1闭合的控制信号，并依次读出模数转换器ADC的采样数据，以完成压接状态测试。
[0107] 当然，测试装置还可以包括存储单元和/或供电单元，具体功能与以上实施例类似，在此不再赘述。
[0108] 基于同一发明构思，本公开的实施例还提供应用于上文所述的测试装置的测试方法，包括：在对所述待测显示面板进行点灯测试前，所述第一开关单元响应于所述控制器输出的控制信号将所述测试单元与所述测试端电连接，以测试所述连接器与所述测试连接件的压接状态。
[0109] 在本实施例中，通过提供测试电路，且测试电路包括第一开关单元和测试单元，并基于控制信号利用第一开关单元将测试单元与测试端电连接，以测试连接器与测试连接件的压接状态，从而能够在上电前识别异常压接状态，避免异常上电时损伤待测显示面板，降低生产成本。
[0110] 可选地，在对所述待测显示面板进行点灯测试前，响应于所述控制器输出的控制信号，所述第一开关单元将所述测试单元跨接在所述测试端与地之间，以测试所述N个测试端的对地电阻，该方法具体应用于上文参照图2和图5所示的测试装置中，具体过程已经在对应具体结构时详细描述，在此不再赘述。
[0111] 另外可选地，在对所述待测显示面板进行点灯测试前，响应于所述控制器输出的控制信号，所述第一开关单元将所述测试单元跨接在相邻两个所述测试端之间，以测试所述相邻两个测试端的等效电阻。该方法具体应用于上文参照图4和图6所示的测试装置中，具体过程已经在对应具体结构时详细描述，在此不再赘述。
[0112] 本公开针对目前现有的问题，制定一种测试装置及其应用于测试装置的测试方法，通过提供测试电路，且测试电路包括第一开关单元和测试单元，并基于控制信号利用第一开关单元将测试单元与测试端电连接，以测试连接器与测试连接件的压接状态，从而能够在上电前识别异常压接状态，避免异常上电时损伤待测显示面板，降低生产成本，具有广阔的应用前景。
[0113] 显然，本公开的上述实施例仅仅是为清楚地说明本公开所作的举例，而并非是对本公开的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本公开的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本公开的保护范围之列。
